Chip123 科技應用創新平台
標題:
12/19標準檢驗局委辦計畫--提升競爭技術成果說明會
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作者:
chip123
時間:
2007-12-14 09:06 AM
標題:
12/19標準檢驗局委辦計畫--提升競爭技術成果說明會
國家度量衡標準實驗室運作計畫
4 a9 ^ r6 w1 W% R% c
--國家級實驗室體系簡介
0 b$ a" H6 m7 J" i! q0 _
--FY96技術成果說明
% A8 A2 C4 [+ f, ] J: O9 @4 o" I
--FY97未來技術推展
) _, \1 a0 l; d
( y" l' Z! U2 E! B; r' c; j
影像顯示產業標準與檢測規範推展計畫
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8 o2 D" ~6 Y! _# }5 o
奈米技術計量標準計畫
7 \" |7 W7 M1 F" s/ J% \4 N2 U
--尺寸參數量測追溯
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--力學性質量測追溯
( [ W1 I! v5 W4 T: G
--微流量測標準技術
' @- u# b% E/ O# O( ]
# T/ v( a# ^: [1 A
計量驗證與創新應用技術介紹
a6 s& }6 H% w5 [7 ~
2 m# a9 `. p; z- [9 K
�時間:96年12月19日(星期三) 下午13:30~16:30
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�地點:新竹市光復路二段321號17館國際會議廳
9 n) L8 q6 `; D& S% F! s; B5 b
�報名手續:請會前報名 (前50名贈送量測資訊雙月刊)
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1.費用:免費,先知、先用、先贏,名額有限,報名從速。
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2.填妥報名表自即日起至12月17日前(額滿截止)傳真(03)572-0621或e-mail:
judyking@itri.org.tw
,並請準時出席。
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3.聯絡人:工研院量測中心 企推組 金娟如小姐 洽詢電話:(03)574-3816
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