4 y. ?6 w q! f' U2 k奇景光電佈局部課長吳展良表示,目前市面上沒有適合3DIC設計的EDA環境,因此必需注意以下的問題,一、延伸傳統的2D Layout Editor於3DIC Layout。二、延伸現有的2D佈局與驗證流程於3DIC之佈局與驗證。三、定義Die Stacking所需要的對位標記。四、了解TSV的功能與其他限制。 ' ^3 P6 U3 ]" o8 P7 O
. u* t9 _8 }: V3 F4 Y; x% u吳展良強調,基本上3DIC都是用TSV技術來完成3D堆疊,若是從系統角度來看,目前很多系統單晶片(SoC)的產品或是SiP產品也都是以系統觀念出發進行設計。站在IC佈局工程師的立場,甚至覺的SiP某些製程的動作也與TSV很類似,與3DIC的多階層佈局有很大的相似之處。 - K9 N1 @0 @6 w. y5 l6 F% E+ n- _$ `2 K$ R8 q$ l
設計公司深切的希望,未來所發展出來的異質佈局設計環境,可以使用於類似於IC與系統層級間的佈局驗證工作,如此一來,目前的3DIC設計可以進一步同時與系統上的印刷電路板作佈局的設計或驗證工作,大大加快設計的腳步及效率。作者: chip123 時間: 2009-7-31 08:35 AM 標題: 推動3DIC 技術產業化 經濟部工業局為提升半導體產業技術能量與建構產業競爭優勢,規劃經由推動3DIC聯盟(3DIC SIG)方式,結合國內系統產品廠商與半導體相關的設計、製程、封裝測試及材料設備廠商與學研機構,建立溝通協調平台,以推動3DIC技術平台與搶先制定標準。 6 y/ E5 w! f' I7 l/ U1 Z
$ a: k- G7 h0 v/ A% k. _在可攜式電子產品的成長趨勢帶動下,將更多的功能整合在更小的體積,並達到節能、高效、成本低的IC產品是消費者所期待的。因此,逐漸有業者開始利用第三維來創造3DIC,也就是透過高度的堆疊來整合不同的IC,去替代傳統上2D的IC。為了順應此潮流,半導體產業界紛紛積極佈局3DIC技術研發,並針對3D整合設計可能碰到的重大挑戰,如設計流程、測試、電源管理、熱分析等EDA或設計相關議題,投入相當的研究人力與經費。 4 [2 S) `7 n1 t9 S& f" l' q% @9 B- ^- E. B: c7 _+ p: y) `
政府基於提升我國半導體產業能量的構想,經由半導體產業發展推動計畫推動3DIC的技術產業化,期能結合產官學界研究能量,共同投入3DIC先進技術的研發,不僅分擔業者風險,也藉由國家資源的挹注提升廠商的核心技術能力,協助搶先掌握關鍵IP、提早專利佈局,並制定領先於其他競爭國的國際標準,進而把握生產優勢,穩固我國半導體產業在全球的領先地位。 * @) P4 H0 D6 l# j0 B, F6 H% t( i& Y0 g, r% Y3 j5 p
今年3月20日舉辦的「半導體產業發展推動計畫-3DIC鼎談會第一次會議」,邀請半導體廠商共同討論3DIC發展的可行面向,並對政府未來推動3DIC更符合業界的需求,凝聚共識及結論。會後,半導體產業推動辦公室(SIPO)並成立3DICDesign Aids及3DIC Test兩個SIG平台。 & U3 y3 p. Y I+ j$ [5 ~' R
; j0 i7 y) D1 J4 o, P3DIC Design Aids /Test SIG是由工研院系統晶片科技中心擔任初始召集,參與的廠商包含聯發科技、奇景光電、鈺創科技、創意電子、晶豪科技、旺宏電子、南亞科技、惠瑞捷、廣達電腦、豪勉科技、京元電子等IC產業的領導廠商,並有台灣大學、交通大學、高雄大學逢甲大學等學界菁英共襄盛舉。 1 C% S) Y( {. E9 H3 E; w2 x# t. K t% S, u+ q& J
該SIG的宗旨是希望透過此平台,透過會員之間公開的意見與成果分享,找出降低進入3D C設計門檻的途徑,並提出適合3DIC設計與輔助工具平台的標準化。Test SIG則是發展促使3DIC整合測試與偵錯特性的方法,特別專注於透過自動化、測試設計(DfT)技術與設計規則達成有效率的測試,推動適合3DIC的測試架構與協定,以帶領產業界發展實際應用所需的技術。作者: chip123 時間: 2009-7-31 08:36 AM 標題: 半導體產業與3DIC產業開展的必然趨勢