Chip123 科技應用創新平台

標題: 高速數位驗證的各種挑戰？到底哪種工作挑戰最大吶？ [打印本頁]
作者: chip123    時間: 2009-8-6 11:16 AM
標題: 高速數位驗證的各種挑戰？到底哪種工作挑戰最大吶？
1.工程師驗證積體電路的程度，可以細微到接腳，甚至晶粒(die)本身
9 |' E& @+ E2 Q3 j8 [8 t2.電路板整合者可以在電路板或數位介面層級進行量測，並將擷取到的波形轉換成IC廠商設定規格所在的IC接腳，以達到關聯性。
* t, t: g) T* l3.系統工程師可以使用該軟體來與元件廠商產生關聯，並執行應力測試或 “what if” 分析，以增加他們對自己的設計的信心及獲得較佳的設計邊限。
作者: chip123    時間: 2009-8-6 11:17 AM
安捷倫的InfiniiSim波形轉換軟體 可讓工程師在高速數位系統的任何位置檢視波形) O. m1 O; d3 r/ E

" ]) `' O! i; Q安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣佈推出旗下Infiniium 9000和Infiniium 90000系列示波器適用的波形轉換軟體。該軟體可以讓工程師在高速串列資料系統中的任何位置檢視波形，包括PCI Express(r)、USB 3.0、SATA和DisplayPort系統。此款波形轉換軟體提供即時分析所需的去嵌入、虛擬探測和模擬工具，可協助工程師徹底執行系統的特性描述並改善量測邊限。
( c! o0 a; t" [* {" B* Z) s' L4 G6 h# e3 u6 z
現今高速串列匯流排的速度，動輒超過2 Gb/s。在這樣的速率下，通道中在示波器量測點前的系統損耗和失真，往往會妨礙裝置效能的準確評估。示波器探棒也會影響信號，許多規格都要求在裝置的相容性量測中，納入標準的通道損耗模型。Agilent InfiniiSim波形轉換軟體可以讓工程師在擷取資料時，模擬現有的損耗和失真因素，並於展現波形時，在模擬的電路的任何位置，透過數學運算方式納入這些因素。分析可以延伸到模擬的電路，以及實際電路與模擬電路間的轉換。有了InfiniiSim軟體，測試工程師便能準確檢視之前無法探量或無法在示波器上顯示的電壓波形。
) u5 p; |, H( m% R- e6 O& |# N& q  g; A3 J+ G7 A: C$ p; X9 g2 O9 O
InfiniiSim波形轉換軟體包含一些常用模型的樣板（template），包括兩個用於通道插入和移除的樣板，及一個用於排除探棒負載的樣板。通用樣板採用相同的使用者介面，在定義複雜的系統時可提供更大的彈性。
作者: chip123    時間: 2009-8-6 11:17 AM
InfiniiSim波形轉換工具組完全整合到Agilent Infiniium 9000和Infiniium 90000系列示波器的通道設定，如此不但將軟體的額外處理(overhead)減到最少，還可讓工程師利用Agilent 90000系列領先業界的雜訊底線規格。Agilent 90000系列的低雜訊底線極為重要，因為進行波形轉換通常會加重高頻成分，以致在加重頻帶（accentuated band）中放大示波器的雜訊。Agilent 90000系列除了優異的低雜訊效能外，還擁有業界最佳的深度記憶體和平坦的頻率響應。
7 c' i8 x- b# W5 q2 O( O/ k/ L: d. W( n* A: S- r9 m8 G0 Z
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示：「該波形轉換軟體為使用高效能示波器的工程師，開創了驗證與洞察的新紀元。在得獎的Infiniium示波器中結合系統模擬技術，可讓工程師充滿信心地量測與驗證複雜的系統。我們的客戶將得以排除在高資料速率下，因系統損耗所造成的效能不確定性。這樣的產品，使安捷倫成為市場上成長最快速的主要示波器廠商。」
) o- L0 j* z& x$ O6 f& |0 u
( S. C/ j1 b4 f6 l5 A) D安捷倫的InfiniiSim波形轉換工具組，可以完美搭配其他的Agilent Infiniium 9000和90000系列軟體，例如Agilent E2681A EZJIT和Agilent N5400A EZJIT Plus抖動軟體、Agilent N5461A等化軟體、以及Agilent E2688A串列資料分析軟體。在新購Agilent 9000或90000系列示波器時，可以用選項13或14來訂購該軟體的基本版與進階版。另外也有伺服器版N5435A-026（基本版）和N5435A-027（進階版）可供選擇。
作者: amatom    時間: 2011-3-29 09:07 AM
Tektronix Communications 推出「從封包到人員」式解決方案，在行動寬頻服務品質驗證的領域中引領翹楚
6 T2 E0 p# i, B全球超過十幾家的一流業者採用了 Tektronix Communications 的 Iris 套裝解決方案，以有利的方式確保行動寬頻的經驗品質/ C# s' S% g! F8 j; B/ p2 I) s2 K
! E+ i, J. v% l+ Y. \; k, k
【2011 年 3 月 28 日 台 北 訊】–全球網路智能與通訊測試解決方案的領導廠商 Tektronix Communications宣布，隨著全球各地的行動業者，配合不斷增加的用戶需求，持續地發展其網路，Tektronix Communications 也努力地從「封包到人員」的角度，提供對業者複雜網路的深入解析，確保行動寬頻的服務驗證品質與獲利能力。領先市場的 Iris 套裝解決方案自 2009 年推出以來，Tektronix Communications 擴充了其產品組合，更進一步地納入行動寬頻技術與網路智能應用，全球有超過十幾家的行動服務供應商，已部署了這項解決方案。
- _7 U# k+ B6 k8 X3 \
2 M! N+ A/ V. {8 S' X# G) V隨著新型智慧手機如雨後春筍般地出現，全球各地使用的行動資料也呈爆炸性成長，但真正的模式轉變，其實與大量新型裝置 (例如平板個人電腦和連接行動 USB 傳輸器的筆記型電腦) 的推出有關。行動寬頻的版圖也正在改變，進而改變了數百萬行動使用者的使用模式與期望。隨著可用頻寬的增加，裝置存取行動網路的數目與種類也隨之增加，而使用這些頻寬的大量服務，其數目也呈爆炸性地成長。為了持續確保獲利能力，同時維持用戶的經驗品質 (QoE)，行動服務供應商必須讓擴充網路容量的投資成本，和使用者對服務品質 (QoS) 不斷提高的要求，能夠找到平衡點。
作者: amatom    時間: 2011-3-29 09:07 AM
Tektronix Communications 網路管理副總裁暨總經理 Mark Driedger 表示：「雖然有服務導向的解決方案，可以判定使用者的經驗品質 (QoE)，還有網路導向的解決方案，能夠確認所提供服務的服務品質 (QoS)，但 Tektronix Communications Iris 套裝解決方案的「封包到人員」方法，可針對提供給服務供應商公司內多重部門的情報，進行具廣度與深度的解析。Iris 套裝解決方案不僅可針對服務，也可針對使用這些服務的用戶、承載這些服務的網路，到攜帶這些服務內容的封包 (從服務起點到提供點)，提供完整的能見度，產生出色的用戶情報。」
$ R: n+ @; V: ^. c3 S6 M
* ~8 R: X) J+ I6 Y) [' T' D最近的 Analysys Mason 固網寬頻報告指出，低劣的服務品質，是造成固網寬頻網路用戶低滿意度與高流動率的主要原因。行動寬頻也是一樣。使用者要求的不再只是穩定的連線，現在也擁有各式各樣的裝置，用來享受即時而敏感的高頻寬服務，例如影片和遊戲。而隨著這些需高度頻寬服務的使用量增加，使用者的期望也提高了。
" \% A8 c- Y" r8 |這種應用範圍與行動用戶期望的改變，為服務供應商營運部門所採用的傳統監控方法，帶來了直接的挑戰。網路效能的監控，先前是使用關鍵效能指標，涵蓋層面包括存取可及性、保持力與重傳率等；雖然這些指標仍是需要監控的重要參數，但卻無法用來回答現在的一項基本問題 – 使用者所經歷的服務品質。
作者: amatom    時間: 2011-3-29 09:09 AM
關於 Tektronix Communications 的行動寬頻解決方案
4 s+ b* y4 x) |( b# I- J  H5 l
+ h- N: V1 K. v; z: FIris 套裝產品可為服務供應商內的多個組織，提供即時與歷史資訊，滿足所有服務疑難排除與效能監控需求。Iris 系列產品包括：$ @2 Z; z/ e/ P) K/ t+ b0 b

: @3 k  u" h- x! y* A% l/ k●GeoProbe G10 – 採用領先業界的 GeoProbe，這款新的高速、高密度 10GE 探棒，具備最佳化的分散式架構，以處理高頻寬的 IP 流量。
: x7 M1 }  \  m●Iris 分析儀工具組 – 包含 Iris 協定分析儀 (IPA)、Iris 連線分析儀 (ISA) 與 Iris 流量分析儀 (ITA)，可根據連結、應用和伺服器，對 IP 流量進行特性分析，提供 L2 到 L7 的疑難排解功能。
1 R* P8 }9 Q/ }4 W- p3 \) C  p3 G. ]9 t+ H" q& \# b
●IrisView – 使用簡易、可設定的軟體架構，能為所有應用提供單一的整合式平台，包括對客戶經驗管理 (CEM) 系統與協力廠商 OSS、BSS 應用的饋送。
0 l& d7 L, T' a6 @" T+ K& k5 I●Iris 效能智能 – 提供無可比擬的端對端分析與報表功能，結合高度彈性的強大 KPI/KQI 模型製作引擎，可讓業者更順暢地連結網路層級的事件，達成預期的業務成果。
) Q# V3 o3 ^1 \8 k3 ]8 F( P
" X( o4 z9 c5 P( j, x1 J2 q; }●Iris 套裝解決方案搭配 Arantech 的 touchpoint™ – Iris 是今日行動業者所採用的最先進客戶經驗管理解決方案，搭配 Arantech 的 touchpoint 使用，可消除網路與服務效能智能間的落差，以獨特的廣度與深度， 提供可據以行動的資訊。以單一完全整合的「封包到人員」解決方案，透過完整的服務供應鏈 (可包含多種技術與實體介面)，確保服務效能與經驗。
作者: tk02376    時間: 2011-6-28 12:20 PM
Tektronix新增適用於 BERTScope的PCIe 3.0 接收器測試功能1 P  r) q" B( P* ~& e
建立業界最全面的一套 PCIe3.0測試解決方案，其中包括獲獎的 TLA7SA00 系列邏輯協定分析儀" w) H4 N3 y: w$ A( [3 }

4 @7 x& X; \; t0 x1 q【2011 年 6 月 28 日 台 北 訊】– 全球示波器領導廠商 Tektronix 今天宣佈，推出實作方法 (MOI) 草案，讓您能使用BERTScope BSA85C 進行 PCI Express3.0接收器測試。此項功能使先前推出的解決方案更加完備，能利用下列工具驗證 PCIe3.0 設計的發送器和通道效能，包括使用 DPO/DSA/MSO70000 系列示波器和獲獎的太克 TLA7SA16 和 TLA7SA08 邏輯協定分析儀模組、匯流排支援軟體，以及探測解決方案。7 C# Q; ~2 M1 l, o$ e
1 E& [: ?5 P7 a$ I
於 6 月 22 日至 23 日在加州 Santa Clara 市舉行的 2011 年 PCI-SIG 開發人員研討會將展示全系列領先業界的太克解決方案。此研討會能協助 PCI- SIG 成員的公司進行開發，讓他們利用 PCI 技術將新產品推向市場，今年將著重在 PCIe3.0 方面的討論。
作者: tk02376    時間: 2011-6-28 12:20 PM
太克示波器總經理 Roy Siegel 表示：「太克團隊一直與 PCI-SIG 緊密合作開發適用於第三代接收器測試的標準，而且已成功在所有工廠及插拔裝置進行測試，以確保 BERTScope 符合 CEM 草案規格中所列的測試需求。早期工作能確保 BERTScope 全面滿足客戶在 PCIe 3.0 接收器相容性和邊際測試方面的需求。」
& h- [( L* m$ X$ Q3 b5 |  M
- q% k; y, d: \8 H2 h: I實作方法 (MOI) 可解決全系列接收器測試的困難挑戰，包括將裝置插入迴路，設定和校驗所需要的壓力和預加強，以及進行抖動容差測試。此外，從待測裝置傳回訊號的閉合眼狀圖問題，才是接收器測試面臨的最大挑戰，而BERTScope 實作方法 (MOI) 不但解決了這些問題，還提供更多的解決方案。
7 k0 t% w7 q# a, |9 C: h- i3 E) m7 B5 U1 r
BERTScope 系列產品允許設計工程師不僅要相容性量測符合測試需求的標準，也提供了全套的特性和除錯功能協助邊際測試，以更深入瞭解裝置的故障模式。
$ Z" |8 v. H& ~) U* t* ~& F/ Y. F0 b( F8 R/ R
DPP125B 新增了施壓碼型的關鍵預加強功能；CR125A 可還原嵌入式時脈，對產生的訊號進行眼狀圖分析，這些選項讓 BERTScope 更加完備。
作者: tk02376    時間: 2011-6-28 12:20 PM
全方位 PCIe 3.0 測試解決方案
! A# k; m3 F* k0 {0 s" o. [3 U+ O; o4 TDPO/DSA/MSO70000 系列示波器以全球最佳的 100 GS/s 超取樣效能，提供克服 PCIe 3.0 測試挑戰所需的效能和訊號完整性。這些儀器的選項 PCE3，可加速 PCIe 設計的分析與驗證、提供配合預先認證檢查裝置的彈性，或以單一套裝軟體進行裝置特性分析或除錯。 , X: y+ K7 k# k2 j2 w
1 r. W$ y5 J8 }' w  w6 b9 \
串列資料連結分析 (Serial Data Link Analysis) 軟體可實現通道反旋積、迴旋和接收器等化。DPOJET 抖動與眼狀圖分析軟體提供抖動、眼狀圖與參數測試，並可使用 P7520 TriMode™ 差動式探棒，進行晶片對晶片連結的驗證與除錯，包括共模量測。
0 E& I' Y3 t" B$ b
: I: |/ P, y  w9 i這些工具同時整合了 TLA7SA16、TLA7SA08 邏輯協定分析儀模組和 TLA7000 系列邏輯分析儀，可提供對 PCIe 3.0 實體層與邏輯層的完整能見度。TLA7SA00 於 2011 年 5 月榮獲 Test & Measurement World 雜誌頒發的匯流排分析儀類別中的2011 年最佳測試產品獎。
; j" x" `8 G" G7 z4 `. y7 b; @5 S$ I0 ~$ u( c! S. b& ]6 ?
供貨狀況
- t2 \7 s+ D3 d  L/ B9 h$ K適用 BERTScope 的 PCIe 3.0 接收器測試實作方法 (MOI) 現可在 www.tek.com 取得。太克 BERTScope 專家團隊為您提供了專家級的支援，讓您在 PCIe3.0 附加卡和主機板早期工作時即能使用 MOI。
作者: amatom    時間: 2012-6-28 01:37 PM
Tektronix全自動Thunderbolt發射器相容性測試隆重登場7 k7 l  ?2 ]: W6 j% c
業界唯一Thunderbolt同時雙通道測試解決方案，除提供最快速的回應外，還支援接收器測試
, G7 T+ n2 g* i4 k" V+ n( O4 }: k9 U8 S/ x
【2012 年 6 月 28 日 台 北 訊】–全球示波器領導廠商Tektronix 宣佈，推出Thunderbolt技術的全自動發射器 (TX) 相容性測試解決方案，提供業界最快的測試執行及回應速度。Tektronix還宣布推出可加速Thunderbolt接收器 (Rx) 測試工作的設定。
% s4 W! O0 p$ G! A% h! F) p; X" @- p2 W; f
Thunderbolt是一項轉型的I/O技術，是目前I/O技術在效能和靈活性方面的大躍進。它提供一個單一纜線上的兩個10Gbps雙向通道，以簡化終端使用者對PCI Express和DisplayPort協定支援的使用經驗。對面臨Thunderbolt-enabled功能設計，和向消費者提供產品有時間壓力的工程師來說，Tektronix提供他們所需要的測試工具，讓他們在深入分析設計問題的同時，減少測試的設定和運行時間。 6 b3 s8 }4 @# t  r/ w$ h
  d$ A& u) I, H6 ~; u
Tektronix DSA70000系列示波器的最新自動Thunderbolt發射器測試解決方案，是業界率先為待測裝置 (DUT) 提供的狀態控制功能，能支援雙通道測試。相較於一次只支援單通道的其他產品，Tektronix解決方案大幅縮短測試時間，並提升了工程生產力。在接收端，Tektronix提供12.5 Gbps BSA系列BERTscope更詳細的設定，以進行更快和更多接收端的一致性測試。
作者: amatom    時間: 2012-6-28 01:37 PM
另一個Tektronix Thunderbolt 測試解決方案的優勢 (尤其是指實體層的除錯挑戰) 是，支援有界不相關抖動 (BUJ) 的抖動分離。這種形式的抖動，通常發生在相鄰高速通道的串音 (如Thunderbolt中所使用的串音)。其他的抖動分解模型將BUJ錯置在隨機抖動中，使設計人員難以隔離串音的問題。6 S5 J+ i* G! ^4 ]$ W. `$ f' H) O

7 w4 t; z: K8 C! K+ ATektronix Thunderbolt解決方案，能進一步充分支援顯示技術的標準，包括DisplayPort和雙模式DisplayPort。這允許設計人員使用相同的測試工具，確保跨多個顯示標準的互通性。   G; |9 I4 {+ f: |7 M
' w) u( F, s* S4 B% r
Tektronix效能示波器總經理Brian Reich表示：「Thunderbolt整合了現有I/O技術的速度和相容性，這是10年左右才會出現一次的突破性技術類型。自Thunderbolt成立以來我們一直與英特爾密切合作，以開發同級最佳工具的廣泛產品組合，協助客戶有效地將Thunderbolt產品推向市場。」
" s1 Y: q! C3 V& S+ ^# x/ j+ S9 Z% J" y# r3 }
供貨狀況- e; k' F9 }0 g
Tektronix自動發射器測試解決方案和接收器測試設定的Thunderbolt產品現已全球上市。
作者: ranica    時間: 2012-7-12 11:37 AM
Tektronix 簡化串列匯流排除錯工作，提升工程生產力 推出熱門DPOJET分析工具組的重要升級產品，增強串列分析功能，擴充汽車產業匯流排支援0 l$ C7 ]. {9 _2 r  C1 t9 W' r/ u- ~5 x

+ w' e6 f+ O$ d" ~【2012 年 7 月 12 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，正在加緊簡化串列匯流排測試的複雜性，這是因為隨著串列匯流排標準變得更快、更複雜，除錯儼然已成為一個主要的工程生產力問題。今天推出的這套廣泛的示波器韌體和軟體升級產品，這些產品專用於簡化和縮短串列匯流排除錯週期，以及增強一些重要的串列匯流排標準支援，包括 PCI Express、CAN/LIN、FlexRay、MIL-STD-1553B 和 MOST (媒體導向系統傳輸)。
- x* a8 @% w+ S/ f  [8 a  @4 B- U6 f. \5 U0 ]1 T$ A
在過去的幾年中，串列匯流排的多樣性和複雜性不斷增加，但工程師卻比以往花更少的時間專注於解決訊號完整性問題。根據最近 EDN 雜誌針對「工程師想法」所做的研究調查指出，有 54％ 的工程師說他們工作「事倍功半」，而 48％ 的人則認為職務和職責增加了。工程師發現若無深厚的專業知識做串列匯流排標準的後盾，要驗證效能和相容性通常是困難又令人沮喪的事。Tektronix 針對此趨勢，在其效能示波器系列中建立了有關串列匯流排的深入情報。
0 e& ^" ]9 T2 J. S* Y5 m2 l
7 i( |9 f% L  B" e& K8 a# ]/ HTektronix 效能示波器總經理 Brian Reich 表示：「據客戶反應，由於匯流排的快速變化及不斷增長的複雜性，串列匯流排除錯對他們而言是越來越大的挑戰，他們需要的是一種簡化串列匯流排除錯和驗證的方式。為因應這一需求，我們推出了專業標準的主要升級產品，讓客戶信心滿滿進行系統測試，大幅提高他們的生產力。透過使用一台儀器 (示波器) 客戶可以迅速識別時間或協定架構的錯誤，節省工程設計時間和降低設備成本。」
作者: ranica    時間: 2012-7-12 11:37 AM
增強的觸發功能
1 s# U6 p+ M7 i/ a隨著訊號的複雜性升高，在示波器上擷取獨特事件需具有高度靈活性的觸發系統，Tektronix 滿足此需求，提供了業界最靈活的觸發系統 － 視覺觸發。視覺觸發使工程師能夠建立高度可自訂的形狀，只需按一下滑鼠或觸摸螢幕，即能擷取想要的波形，這非常直覺式的功能，將改變工程師使用示波器觸發系統的互動方式。此外，Tektronix 效能觸發系統，還具有標記全部觸發事件的功能，確保在所感興趣訊號中能擷取及搜尋所有潛在的複雜行為。
5 h2 E% L2 t3 u. e1 z
. F" f5 q7 N4 J8 p$ \1 O3 F工程師可使用 MATLAB 自訂資料分析
0 w& a: o! e( V/ L工程師習慣求助 Tektronix 效能示波器，以快速量測並擷取優異的訊號完整性。通常，波形資料會先使用各種使用者定義的分析工具 (如 MATLAB) 處理，然後再分析。現在， Tektronix 提供搭配 MATLAB® 使用的自訂分析介面，讓示波器使用者具備獨特的繪圖和濾波功能，以更深入分析訊號特性。
% s( r+ T/ Y7 }5 _( r+ _
5 H0 c  ]+ G9 Y: aDPOJET － 業界最重要的分析和除錯引擎0 \* ~+ ^6 j- i+ K& u
隨著串列匯流排速度的不斷增加，串音成為一個逐漸受關注的問題。有了這個最新的更新功能，Tektronix 示波器使用者便能在其設計中找出串音，而不必求助誤碼率測試儀。熱門的 DPOJET 抖動和眼狀圖分析工具現結合了演算法，可正確找出誘導抖動的串音，此串音為有界不相關抖動 (BUJ)。這表示即時示波器不但可用於量測總抖動，而且還可以從其他的抖動源分離串音或 ISI。此外，可使用 Microsoft Visual Studio 建立資料庫，例如可在 DPOJET 中自訂量測。; v9 c# c& V$ S' O$ E$ v) l. l
; u+ w7 a# N$ [4 _
Altera 研究員 Mike Li 博士表示：「在今日快速時脈和資料傳輸速率下，我們知道串音問題正大大影響著我們的抖動預算。除錯過程嚴重落後的問題早已存在，一直很難判斷抖動是否來自串音或一些其他來源，根據初步評估，我們認為新 BUJ 感知的 DPOJET 版本不能準確代表串音，這使我們對來自示波器的 TJ@ BER (誤碼率的總抖動) 數字的準確性更有信心。」
作者: ranica    時間: 2012-7-12 11:38 AM
DPOJET 也加強了可自訂量測的新功能，現在包括支援使用 Tektronix MSO5000 和 MSO70000 系列示波器混合訊號功能所擷取的邏輯訊號。此邏輯通道功能允許將多達 16 個位址和命令匯流排訊號，整合到 DPOJET 的除錯環境。( P# O% ]6 n- f- w+ b9 o$ H

- [% |+ n$ M# p4 c串列解碼/觸發/搜尋
/ W5 u4 t- W2 h/ f雖然大多數串列匯流排和訊號架構相似，但各標準之間仍有細微的差別。Tektronix 提供自動測試套件，工程師無需成為每一種標準的專家。以下為最新發布可加速工業設計工程師通過串列匯流排驗證的兩個重要行業：汽車和高階運算。
8 g. y6 T" N: o, O+ c9 N6 ^* ^  l' \! w0 W# i
為支援愈來愈多的汽車電子產品使用，Tektronix 推出了強大的 CAN/ LIN 支援和全新的 FlexRay 和 MOST 匯流排分析功能。這些匯流排被廣泛應用於整個汽車行業以及其他一些領域，如輕型飛機和重型設備等。 9 v: Y% A% s( j0 P

' o& T) B" m: ^2 {7 c隨著企業伺服器產業中高速串列匯流排的數量和複雜性與日俱增，Tektronix 現在為所有這些常用的各種匯流排標準，提供了 PCI Express 實體層解碼支援。這增強了原本夠強的 8b/10b 解碼能力，同時加快 PCIe 設計驗證和工程師疑難排解的速度。4 \( @/ C* t( a2 p

, }3 `: ]6 [& {供貨狀況/ x$ J5 M9 W9 {
新的 DPOJET 版本現已上市。DPO/MSO5000 系列、DPO7000C 和 DPO/DSA/MSO70000C/D 系列示波器的更新韌體可於 Tektronix 網站上免費取得。
作者: mister_liu    時間: 2012-9-18 05:00 PM
標題: Tektronix新增對100G通訊測試的關鍵支援
宣佈推出符合IEEE802.3ba標準和32G光纖通道標準，並具有碼型產生、錯誤偵測和抖動分析功能的全新28.6 GB/s BERTScope
; B) R! \( v# Y6 m5 i& v( C
9 X) I* C" v/ ^+ x9 n" o【2012 年 9 月 18 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出BERTScope誤碼率分析儀系列的重要擴充功能，以滿足不斷增長的100 G測試需求。隨著全新的Tektronix BSA286C BERTScope問市，Tektronix即成為第一家針對符合標準相容性測試，提供速度高達28.6 Gb/s且包含錯誤偵測、碼型產生和時脈還原等完整支援的測試設備製造商。
: X, V; k2 l2 Q) \2 ~$ d
8 g2 P0 K4 o. n+ c6 a! @# i隨著服務供應商努力滿足全球對頻寬的需求，研發實驗室致力將相容的100G通訊元件、路由器和其他相關產品推入市場時，不僅僅要挑戰極小的時序和抖動邊際等技術，還得面對產品上市時程的緊迫考驗。全新的BERTScope具有領先業界的小於300pSec固有抖動基準雜訊技術，針對Tektronix不斷增長的光通訊測試產品，提供了極準確的BER測試和實體層問題成因分析。         , R; }5 ^1 c9 r. z( G

) K* [% N7 ]3 D6 h, H1 OTektronix 高效能示波器總經理Brian Reich 表示：「全新的Tektronix BSA286C提供了一個完備高速通訊測試平臺，可以讓設計實驗室努力跟上100G測試需求；更重要的是，BSA286C是唯一提供深層除錯深入分析的解決方案，讓設計人員可迅速找出特定設備無法通過初步測試的原因。」
作者: mister_liu    時間: 2012-9-18 05:00 PM
當工程師進行應用程式除錯程式時，可使用BSA286C在各種訊號 (包括低偶發性事件) 上執行真實的抖動量測，並能準確地將抖動分解為其隨機和確定的分量。隨著通訊速度的增加，串音將會成為抖動相關訊號雜訊的主要來源。Tektronix BERTScope和高效能示波器均採用了抖動分解模型，可分離出有界不相關抖動 (BUJ)，以快速深入瞭解造成串音的潛在設計問題。  
' S* W( ^0 Q& x- Q對100G通訊測試而言，強調接收器測試的28.6 Gb/s誤碼率 (BER) 儼然已成為確保符合標準和測試效能的重要需求。此資料速率可充分滿足邊際驗證和前向錯誤修正 (FEC) 的需求 (100GBASE-LR和ER-4高達25.78125 Gb/s的資料速率)。
# r* |+ T4 a: h" S: R% R. I0 j4 b1 C, ], ]9 {4 ^& ^
OPSIS矽光子原型製造服務創始人，現任教於美國特拉華大學 (University of Delaware) 和新加坡國立大學 (National University of Singapore) 的Michael Hochberg表示：「對於100G通訊測試而言，實體層資格在全資料速率時極為重要，尤其是進入更複雜的調變格式，所面臨的主要挑戰之一即是複雜的測試設定和驗證方法；因此，在我的實驗室中，我們採用了BERTScopes，這些系統不僅非常容易使用，同時還能提供非常準確的BER和抖動量測結果。」( X0 ?% r3 \* V. d9 o1 h

% w2 }/ h& O6 D. ~; ]BERTScope結合高速碼型產生和錯誤偵測等功能，不論面臨何種複雜的量測方式，均可快速回應，並提供除錯的根本原因分析。對於100G的全頻譜測試，Tektronix提供了適用於實體層TX、RX和光調變分析的相關儀器功能與量測專業知識。除了可進行TX眼狀圖分析的Tektronix DSA8300數位取樣示波器，再搭配上處理複雜調變測試的OM4000 光波相干性訊號分析儀；BSA286C BERTScope提供了一個滴水不漏的實體層測試套件，讓實驗室能從容面對100G標準驗證與除錯的挑戰。
( u; g: g$ H9 I, k4 M  |* e8 r' M* R4 R# o. @
供貨和定價' k- C' h4 q5 k5 b, m7 A5 e
BERTScope BSA286C全球已開放訂購，2012年第四季將可開始交貨。
作者: globe0968    時間: 2012-11-7 03:57 PM
Tektronix 推出最完整的自動化 PCI Express 3.0 Tx、Rx測試套件
2 v2 H6 w# e3 k/ H% k全方位接收器和發射器解決方案，為矽晶、主機及儲存卡設計人員提供一次到位的 PCIe 3.0 測試和除錯功能% B& ]& G( E# b( f: [; z. }9 w; |

" J! s' Y8 `  H' d- M3 U【2012 年 11 月 7 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出業界最靈活和最完整的自動化發射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 相容性測試和除錯測試解決方案，以因應 PCI Express3.0 標準。有了全新BERTScope 系列誤碼率分析儀的增強功能，以及 PCI Express 測試軟體，現在積體電路、主機板和卡端設計人員便能夠專注於 PCI Express3.0 測試工作。
' g3 F( t3 O# t0 m/ n8 K
. |3 t/ Z9 E/ \( J; h每一代的 PCI Express 變得更快也更複雜，PCI Express 3.0 以 8 Gb/s 速度測試時涉及複雜的 Rx 壓力條件、BER 相容性測試，以及眾多的 TX 相容性測試，而完整的測試支援則還需要在設計失敗時能進行除錯。據最新消息指出，Tektronix 現在提供業界最完整的支援水準，如 PCI Express 3.0 的 PHY 層的自動化測試和除錯。
6 ~1 [1 I1 ?6 [$ B, z) x, K% X% c8 k& l
Tektronix 高效能示波器部門總經理 Brian Reich 表示：「PCIe3 的許多方面測試，如鏈結訓練和 Tx 等化特性是非常複雜的，也不容易被設計界理解。透過這一個強大的自動化套件，我們可以輕鬆進行複雜的 PCIe3 測試，並確保獲得更一致的結果。也就是說，像壓力眼狀圖校驗和發射器相容性測試這類時間長又複雜的測試，並非只有資深工程師才能執行。」
. D6 N2 w2 `/ Q6 \' N6 {1 K  & g* c3 ]0 f! u$ x# _
自動化 PCIE3 Rx 測試，可根據 PCI-SIG 測試規格產生所需的壓力圖，現在包括時脈倍頻和眼狀圖張開度測試的完整支援。此外，DUT 迴路控制自動化，簡化了測試過程，並縮短獲得測試結果的時間。除可將預加強新增到壓力圖的全新 DPP125C 這些增強功能外，還有結合可變的 ISI 的全新 BSAITS125 整合干擾，以及新的 BSAPCI3 自動校驗、迴路和鏈結訓練軟體。其他組成完整 Rx 解決方案的元件，包括 Tektronix AFG3000 任意波形/函數產生器的共模干擾測試，以及世界級的 CR286A 系列時脈還原裝置的 PLL 迴路頻寬解決方案。換言之，BERTScope 這些補充功能並不需要協力廠商的附加元件就能進行。4 W  L$ @$ n4 @& }2 b

3 k" P4 D  h6 @+ }& \對於 PCIe3 Tx 測試，Tektronix 透過下列方式來增強其解決方案，將 PCI-SIG 的 SigTest 公用軟體 (適用於相容性測試)，直接整合到 Tektronix DSA70000 系列數位示波器的 TekExpress 自動化平台系統上。透過這些整合，更新的 PCE3 軟體能自動測試儀器，並利用 SigTest 進行 DUT 控制、碼型驗證、資料擷取和分析，以及允許自訂多個 SigTest 測試結果報告，而且在相容性測試失敗時隨即提供除錯。
作者: globe0968    時間: 2012-11-12 11:42 AM
Tektronix 推出業界第一個 QoE 和 QoS 解決方案，以即時監控 3 Gbps 視訊內容2 x1 D* ?" A6 h7 l& x/ J9 H
Sentry 和 Sentry Verify 為業界第一個能在 10 Gigabit 網路中，全面識別視訊和音訊錯誤的解決方案
! M8 S" Z( {+ ]" t5 N$ k4 D8 B& S) y3 ^  |
【2012 年 11 月 12 日 台 北 訊】–廣播視訊測試、監控與分析解決方案的市場領導者 Tektronix，日前於有線電視技術博覽會 (Cable-Tec Expo) 上宣佈，升級的 Sentry® 和 Sentry Verify 全新 10 Gigabit 介面，使其成為業界第一台能夠全面監視高達 3 Gbps 視訊節目的即時視訊品質監視器，使有線電視業者和其他視訊服務供應商 (VSP) 能在他們網路的 10 Gigabit 部份，快速找出並診斷視訊和音訊的錯誤。 9 c) s4 E- R" B1 W! u3 T$ v+ C# ], x: X
5 O* v" V9 m7 ^! A7 M1 [$ f% b- n' p- q
在將 10 Gigabit 介面新增到 Sentry 和 Sentry Verify 之前，此唯一適用於 10 Gigabit 網路的產品，提供了非常基本的監控功能 (如注意封包遺失)，但若針對品質問題來說並不是可靠的指標。除了結合 10 Gigabit 乙太網路介面與業界領先能夠連續監控 3 Gbps 節目內容的能力外，Sentry 還整合了先進的經驗品質 (QoE) 監控功能，此為 Sentry Verify 服務品質 (QoS) 監控的補充功能。Sentry 和 Sentry Verify 可單獨或作為全面解決方案的一部分使用，為視訊服務供應商提供更深入分析節目內容的能力，能夠找出並診斷可能會影響觀眾經驗品質 (QoE) 的視訊和音訊錯誤。  
- w- s+ R& L% V! @. d  h, k, z1 A2 t* Q' J
Tektronix 視訊產品線總經理 Eben Jenkins 表示：「這些 Sentry 和 Sentry Verify 的升級功能是我們傾聽客戶聲音的最新實例，我們制定能確保他們觀眾所需的最佳視訊和音訊品質的具體解決方案。Sentry 和 Sentry Verify 的先進監控功能，為有線電視業者和其他視訊服務供應商提供了前所未有的豐富資訊，使他們能在 10 Gigabit 網路上提供最佳品質的數位視訊服務。」   P6 [4 f- ]$ G5 [
/ [1 ~7 L  j3 t% T" ^" ^0 p) A
Sentry 和 Sentry Verify 補足了其他不斷增加的 Sentry 家庭成員，使有線電視業者和其他視訊服務供應商能全面監控他們網路的所有關鍵點上的節目。從內容提取、代碼轉換和廣告插播，到多工和 QAM 調變，Tektronix Sentry 系列內容監視器，使服務供應商能夠在視訊傳輸過程中的所有關鍵點和步驟上，找出會影響用戶視訊和音訊的錯誤。
作者: innoing123    時間: 2013-1-29 02:59 PM
標題: 筑波科技&RTX看好DECT歐美市場
筑波科技獨家代理-丹麥測試儀器大廠RTX Telecom，因看好DECT(Digital Enhanced Cordless Telecommunications)應用市場，將攜手深耕大中華區DECT測試市場。受到歐洲與北美市場電信業者推廣VoIP(網路電話)及高品質語音服務，將帶動Home Gateway商品出貨量，預期2015年內採用DECT技術的Home gateway產品上看2,500萬台，將帶動測試儀器需求。+ w- h/ u. Z9 X4 i; Z1 B9 g
1 Y4 e& _, W) P9 a: X% ]8 }2 R
因歐洲電信業者推動高品質通話服務，DECT/CAT-iq技術已經廣泛運用在Home gateway產品中。Home gateway是一種家庭智慧網路介面，可提供異質網路間的通訊服務，串連家中各種智能設備。北美電信業者雖起步較歐洲晚，但目前產品出貨量已逐漸增溫，預期歐洲和北美地區今年出貨量將超過500及200萬台Home gateway產品已採用DECT/CAT-iq規範。9 w1 `# A* `# K* |+ w$ m
+ z. e1 I; T! Y
此外，隨著VoIP的使用率增加，歐美電信業者也會推出Home gateway搭配手持話機專案，不少話機將搭載DECT/CAT-iq功能，也有部分業者推出包含多項通訊規範的Multi-handset的裝置。最大效益將出現在北美市場，預計2015年，平均每台Home gateway會搭配1.9台話機，出貨量可期。
作者: innoing123    時間: 2013-1-29 02:59 PM
值得期待的是，下世代技術超低功耗數位增強無線電話系統DECT ULE(Ultra Low Energy)也將進入商品化階段，主要應用於家庭自動化、智能電表、能源監控系統等範疇。目前上游晶片廠已推出相關解決方案，不少下游業者，如IAD、Home Gateway製造商等已著手進入產品研發階段，積極佈局數位家庭、能源監控系統等市場，也是推動DECT測試商機的重要因素。9 T, n7 i: }. a. y+ ~4 y3 _

7 i7 x& A* E* A6 ?$ \數位家庭市場是各種技術規範的新戰場，不僅DECT，WiFi、ZigBee及Bluetooth皆已開始佈局。與其他規範相比，DECT ULE低功耗的特性更勝ZigBee外，DECT ULE也具有連網功能，不會有第三方入侵的安全問題，比WiFi更適合用於家庭門禁、系統管理的範圍。8 e% N- p& c/ f3 Y8 I9 Z

- D" S0 M# w6 m* HRTX公司PTE海外專案經理Per O. Nielsen日前訪台特別指出，RTX是目前市場中唯一提供DECT測試儀器的廠商，最新機種RTX2012HS測試儀器可廣泛支援DECT/DECT 6.0/CAT-iq及Japan DECT等射頻測試，符合歐洲、美國、日本等各國規範，專門為高產能的產線及研發單位所設計。相較於上一代測試機種RTX 2011，RTX2012 HS透過優化界面及多頻道平行測試的技術，有效增加測試效能；根據客戶案例，採用RTX2012 HS儀器後，可有效減少60%的測試時間，目前已有多家Home gateway台灣代工廠已成功導入RTX2012 HS機台量產使用。大中華區總代理商筑波科技將持續提供在地化 技術支援服務，並提供更完整的RF測試整合方案。更多資訊請上筑波科技網站: www.acesolution.com.tw
作者: amatom    時間: 2013-1-30 11:22 AM
Tektronix推出適用於100 G網路設計和測試的全新32 Gb/s多通道誤碼率分析儀
- {( V$ \6 u  r' J* w0 W' Q: Z  }1 Z擴大市場領先的BERT產品組合，以其100 G LR4/ER4標準支援多通道測試所需的相干性光調變格式
: B+ j# D* @; T/ b
; T! R+ I! s7 M0 m【2013 年 1 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，一系列新的高速碼型產生器和誤碼檢測器，可支援高達32 Gb/s的光通訊和串列資料通訊測試。PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器具有多通道碼型產生與使用者自定碼型編程功能，適用於類似100 G乙太網路這類的特定標準，多達4通道進行特殊的訊號品質範圍測試(Margin Test)。
9 m7 T- R. a7 H2 J0 W0 a9 o& O, r5 X% i) y
市場比以往更投入高速光通訊和資料通訊的開發，以因應像智慧型手機、平板電腦和視訊應用等需大量頻寬測試的不斷快速需求。資料通訊研究人員和設計人員也同樣需要高速測試設備，分析和測試光學和串列介面的特性，通常他們採用每通道10到32 Gb/s資料速率的多通道儀器。  
' o5 `( h# q9 s2 l: L  U, Y% F* ]$ y" M5 r+ a1 Z0 z6 O
對測試相干性光調變格式 (如DP-QPSK)，PPG3000系列可以其4相位對齊的通道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性訊號分析儀使用，使光學設計人員即時優化和驗證相干性調變格式。
$ k7 o0 b  K. o& ~* y
& P* I5 q& `- ^8 {( k+ r! A  K( }對誤碼率測試，PED3000系列可結合PPG3000功能，提供高達32 GB/s誤碼率分析與多通道支援，以便快速識别常見的多通道資料通訊架構的串音問題。例如，IEEE802.3ba標準測試，設計人員可以模擬4×28 G測試平台，為他們的接收器設計進行壓力測試。32 Gb/s的資料率輸出與抖動調整插入能力，使設計公司擁有業界最好的邊際功能、更高的產量和最佳的終端產品或晶片效能，順利將其產品推向市場。
& t* n2 f5 E! h# y9 ]- b9 T+ w7 ?* Y$ R
Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「在BERT產品組合內加入PPG3000和PED3000系列，使我們能夠為客戶提供100 G標準測試的選擇。深入分析需要準確的訊號完整性，我們將持續提供我們屢獲獎項的BERTScope系列。新的PPG3000和PED3000的加入，能夠進行需要多通道資料對齊高達32 Gb/s碼型產生的BERT測試。
作者: amatom    時間: 2013-1-30 11:22 AM
多通道碼型產生
, _8 ]* R# S! e  f$ y4 ?( ~& qPPG3000系列共6種型號，包括30 Gb/s或32 Gb/s速度的一個、兩個或四個通道的機型。這些儀器擁有如同步和相位調整輸出和PRBS，或使用者定義的碼型產生功能，能靈活提供廣泛設計問題 (包括串音) 的疑難排解。隨著資料速率的增加，如100 G乙太網路這類多通道配置也變得司空見慣，串音儼然已成為主要的設計挑戰。! X2 h1 {" Y) R+ i- m" O) T

- S# P4 X4 m$ [多通道BER測試
( t9 i+ \3 I7 H* f8 V. B: mPED3000系列使用一個或兩個通道的誤碼檢測器，能進行如100 G乙太網路這般多通道標準的全面性測試。該儀器結合優異的靈敏度 (30 Gb/s時可量測到<20 mV的訊號) 與業界最廣泛的資料速率 (範圍從32 Mb/s至32 Gb/s)。誤碼檢查功能包括PRBS或使用者定義碼型、DC耦合差動資料輸入、單端時脈輸入，以及自動校準輸入碼型。 8 A+ L" G3 ]% u6 A' T8 S

& O/ f2 I. Z9 {( h& @靈活性，可用性) B) T: f2 y% G* E* A8 `
PPG3000和PED3000系列可單獨或搭配其他Tektronix儀器，作為完全整合的系統使用，為設計人員提供廣泛的資料傳輸速率、碼型、壓力和輸出位準，以解決一系列的標準問題。使用者可使用易於操作的觸控式螢幕圖形使用者介面，立即快速配置測試解決方案，此簡單的操作可縮短訓練時間並提高測試效率。4 V5 W/ ~% z& E+ e: P- Y

+ A  ]  U( p( H" c5 p6 F5 K: j0 b* d供貨情形9 U* G8 w, v, v/ M9 c
PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器已於2012年12月推出。
作者: ranica    時間: 2013-2-4 10:13 AM
Tektronix推出適用於第四代串列資料量測的全新30 GHz探測系統
3 N' a# W' a& l3 h) [7 Q新的P7600系列探棒為PCI Express® 4.0這類新興標準提供差動訊號支援
) q) B6 n$ i% e
* u( \; \2 G% K+ ~; A3 E4 n【2013 年 2 月 4 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出業界最低雜訊和最高頻寛的30 GHz探測系統與同軸接頭。此款新的P7600系列探測系統具備探棒特定的DSP濾波器，可增強效能和降低雜訊位準。P7600系列探測系統搭配Tektronix DPO/DSA73304D示波器使用時，能提供連接性和訊號完整性功能，在PCI Express這類串列匯流排設計上量測高速差動訊號。7 \; Y. g' o, B$ \

3 S* u) W  k4 O對於高速串列資料標準，設計人員使用現今推出的極細同軸線差動探測方法，以便更有效地在示波器上擷取差動訊號。此款新的P7600系列包括兩條直接連接的2.92 mm同軸輸入線，能夠將配對進入的差動訊號轉換到單一示波器的輸入通道，使所有4 DPO/DSA73304D示波器通道上都具有高達30 GHz的差動量測能力。有效利用示波器通道，能擷取多通道串列匯流排和 (或) 同時擷取高速資料及其他系統活動，例如100 MHz參考時脈或I2C晶片對晶片 (chip-to-chip) 匯流排流量。P7600系列還包括關鍵的TriModeTM功能，提供高速串列訊號的完整差動量測支援，以及透過同一個探棒連接進行的獨立單端和直接共模量測。此外，Tektronix也為其焊入式連接器提供了業界領先的30 GHz頻寛。
作者: ranica    時間: 2013-2-4 10:13 AM
Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「TriMode探棒提高了我們客戶的生產力，亳無疑問成為他們最受歡迎的工具 (設定探棒非常耗時，但TriMode探棒可加速訊號擷取速度)。除了廣泛的TriMode系列探棒外，我們現在擁有業界最快的TriMode探棒和超高性能示波器，以滿足客戶最嚴格的串列匯流排量測挑戰需求。」9 F; i( G6 ]5 M: ]( H
1 f& I8 S( ]5 n* L- i& D# F
TriMode探測可縮短串列匯流排的設定時間，如PCI Express、串列連接SCSI和Thunderbolt需要共模和差動訊號量測標準測試的介面，提高了生產力。若要進行TriMode探測，只需將一條接線連到待測裝置，就可以在差動模式 [A-B] 和單端模式 [A-Gnd、B-Gnd] 之間切換，或按一個鍵完成共模 [((A+B)/2)-Gnd] 設定。
5 [" b1 E& q4 @% n) f8 f
6 V6 P9 |0 b0 w! q: }為了透過該探測系統提供乾淨的頻率響應，新的P7600系列TriMode探測系統採用探棒特定的S參數資料。連接到DSA/DPO70000D系列示波器時，探棒將此資料傳送到可建立特定DSP帶通濾波器的儀器。探棒特定的濾波器對於日漸增加的頻寬來說至關重要，因為頻寬在30 GHz時，即使訊號路徑變化很小，仍會導致頻率響應的顯著改變。
# {# F! a! M+ @* N: R# `, f1 Q; v$ }" f( T7 f
供貨情況* p$ E5 w3 {- p# y- M. |, s
P7600系列探測系統 (含TriMode功能) 現已於2013年初 (第一季) 全面上市。
作者: ritaliu0604    時間: 2013-2-19 02:38 PM
標題: Tektronix推出適用於串列資料連結分析 (SDLA) 的全新工具組
提供整合、靈活且易於操作的平台，進行深入的高速串列和DDR記憶體匯流排分析
" t: z; J( s' f' H; M2 V: r1 K+ u6 t* e
【2013 年 2 月 19 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出適用於該公司高性能示波器DPO/DSA/MSO70000系列的全新Serial Data Link Analysis Visualizer (SDLA Visualizer) 套裝軟體。致力於新一代高速串列標準的設計人員，可以使用SDLA Visualizer軟體來指定其連結、移除嵌入量測路徑的任何元件、模擬虛擬連結元件，以及在串列資料系統、模組或晶片組的傳輸線上運用等化技術及進行多點量測。/ Q" |- Y) M' W

, w1 x7 |! x9 r設計人員在進行實體層特性分析、除錯，以及與電腦、通訊和記憶體高速匯流排相容性測試時，SDLA Visualizer軟體使他們能夠自信地模擬實際訊號的完整性效能，因而可大幅縮短設計週期，加速關鍵設計專案決策。
0 ?7 k, l. {: ^' F" K, l! M. I5 y" W0 n& X  s6 F2 W
Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著串列資料和標準記憶體變得更快、更複雜，設計人員需要新的更強大和更靈活的工具，以準確分析待測訊號的特性。SDLA Visualizer軟體的客戶不僅獲得了先進的模型能力來驗證是否符合串列標準，而且也能在特性分析、相容性及除錯環境之間達到無縫接軌。」
/ L% w4 s+ O  U& w- M4 U! d* W1 [9 L- e5 i
從USB 3.0開始，最新串列技術需要能考量到所有網路元件、量測設備，以及特定矽晶IP模型的先進連結分析軟體。同樣，需要在系統執行更快連接的嵌入式設計人員，也面臨了在所需測試點探測訊號的挑戰，而且必須移除反射訊號和其他影響因子，才能看到真實的訊號。
作者: ritaliu0604    時間: 2013-2-19 02:38 PM
為了滿足這些需求，SDLA Visualizer軟體提供完整的4埠模型，為發射器輸出阻抗、示波器和接收器輸入阻抗，以及通道和治具阻抗，儘可能提供最真實的訊號呈現，這可以透過連結中的每個元素的反射、插入損耗和交叉耦合等項目完成。此款軟體還可讓使用者驗證和除錯隨選個別連結項目上的S參數，節省了使用者的時間，並在連結中的任何測試點提供逐一比對 (element by element) 或可見性。1 h: z  T8 W3 c* w

% s# l' e4 R# q' p: N- h另一個關鍵的挑戰在驗證連結模型。SDLA Visualizer使繪製一套完整的圖變得更加容易，其中包括頻率響應、相位響應和所有16個S參數的圖，而新增的可用性，可為所有連結元件提供常用的使用者介面，讓使用者能靈活定義多個測試點，而不必為每個測試點建立不同的連結模型，若搭配DPOJET抖動和眼圖分析軟體使用，使用者便能同時在多個測試點驗證眼圖和抖動結果，使其有信心正確地配置模型。
3 v1 m. J+ o; f. _
. ~7 b2 h5 X* K, g$ WIBIS AMI 模型整合
  H* `( }) m4 z& h" e$ m+ l為了更容易運用在特定矽晶IP模型，SDLA Visualizer軟體開發超越參考接收器等化的技術，提供整合特定供應商接收器的等化和時脈還原演算法，協助配置和定義連結模型。這些通常是根據串列實體層 (PHY) 連結的IBIS演算法模型介面 (IBIS-AMI)模型標準。5 y/ h/ u0 ^* H; [6 s4 H
" E5 r6 h- m6 X0 m6 w  b
專為系統級高速電路設計的EDA模擬軟體領先供應商SiSoft公司執行長Barry Katz表示：「系統設計人員在PCB出廠前使用IBIS-AMI模型來設計和驗證高速連結，準確建置模型是我們最重要的考量。客戶需要一個簡單的方法將模型運用到量測上，以在實驗室硬體上即時進行假設 (what-if) 分析。Tektronix以這款新的SDLA平台，奠定了訊號完整性的實驗室基礎功能，而這種整合標準將來會是一種常見做法。」 8 k+ o7 @- U5 g+ s

! I& L! U( C: U; k- K4 |供貨情況
" D  B- S0 o" G& p: R/ r: }新的SDLA Visualizer軟體將於2013年第1季末提供全球客戶下載。
作者: mister_liu    時間: 2013-2-21 09:49 AM
標題: R&S CMW500 通訊協定測試儀全面升級支援LTE-Advanced 載波聚合測試情境
全球的電信業者皆陸續推出LTE網路服務，然而下一世代的LTE-Advanced承諾將達到更快速的行動網路連接能力皆歸功於載波聚合技術，R&S推出的CMW500通訊協定測試儀全面升級支援LTE-Advanced載波聚合測試情境，其解決方案將幫助晶片商及網路設備開發商加快商品推出的腳步。1 p* n( r7 g  V6 E* }! G

" ^" Q- ~$ F/ n+ K9 XRohde & Schwarz寬頻無線通訊測試儀現在推出全新LTE-Advanced下行網路載波聚合軟體選項，載波聚合技術可以讓電信業者更靈活的針對不同頻寬的頻段進行組合，大幅增加頻譜的使用率；於下行網路，無線網路設備在LTE-Advanced網路中可以同時與兩個基地台進行連接，於下行網路即可達到300 Mbps的高速資料傳輸率，已經實現了LTE- Advanced初步部署階段的40 MHz的總頻寬，而現行LTE網路最大頻寬為20 MHz。5 K+ l* {: I: |& B" n! x5 l( I' p

* o+ ^  o7 A' ?  i  K2 @R&S CMW500讓所有晶片的開發商於下一代無線網路產品開發時，可依據LTE-Advanced Release 10進行測試情境定義，包含了實體層、協定堆疊及傳輸量的測試及驗證，電信業者所需的任何情境都可以在實驗室中模擬及測試，LTE-Advanced網路的所有頻段及頻寬的組合皆可進行兩個基地台下行網路的載波測試，包含MIMO 2x2及4x2。2 ?8 k. g5 X- `4 U  P3 @

+ y9 k# W" x" ~8 n( LCMW500可模擬LTE-Advanced網路下的兩個基地台，透過結合兩台R&S CMW500即可進行LTE-Advanced網路的交遞（handover）測試，這樣開發者即可驗證無線網路裝置於LTERelease 10下行網路載波聚合的連續覆蓋行為；這個解決方案對於晶片商或網路設備晶片整合商未來於LTE-Advanced的開發有相當大的助益，而電信業者亦可對網路設備進行相容接受性測試。
作者: amatom    時間: 2013-5-15 01:20 PM
Tektronix 在 Design Automation Conference 2013展示 ASIC 原型設計除錯解決方案
1 d4 ?/ E- T6 x$ Y% j9 i0 S與會者將體驗到 RTL 模擬級可視性讓多個 FPGA 原型設計無需重新編譯，更快、更有效地進行除錯% R7 p% k6 a5 U5 h2 j
* v# X/ ?2 J" z/ i2 b  }. a; @
【2013 年 5 月 15 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，將在 6 月2 至 6 日於美國德州奧斯汀所舉辦的 2013 Design Automation Conference (DAC) 會議中，展示近日推出的 Certus 2.0 ASIC 原型設計除錯解決方案，攤位編號為 819。DAC 是電子系統的設計與自動化 (EDA)、嵌入式系統與軟體 (ESS) 和智慧財產 (IP) 等領域首屈一指的盛會。
% g. g9 N8 g" a4 ^. B' x, y6 h7 ~4 @4 S
首次在 DAC 展示的 Certus 2.0 軟體套件和RTL 架構嵌入式儀器，啟用了完整的 RTL 級可視性，並讓原型設計平台具備 FPGA 內部可視性功能，對 ASIC 原型設計流程產生了重大的改變。此模擬級可視性能讓工程師能在一天內診斷出多項瑕疵；相較於使用現有的工具，可能要花上一個星期或更長的時間才能達成。3 T& {* A+ u, B! r

% X  c8 X! j0 J- J4 S+ f; t0 xTektronix 嵌入式儀器事業群總經理Dave Farrell表示：「FPGA 生態系統中沒有 ASIC 原型設計的主動除錯功能。DAC 與會者將會親眼看到 Certus 2.0 如何顛覆 ASIC 原型設計流程，並大幅提升除錯產能」。
作者: amatom    時間: 2013-5-15 01:20 PM
主動除錯策略
4 j% B8 d2 B* j- Z7 _% V9 Q4 F* \
" a/ f& O- C( G$ Z6 ACertus 2.0 讓設計人員針對多個受FPGA LUT 些微影響的FPGA ASIC 原型設計中各個FPGA，自動檢測其中可能需要的所有訊號。這使主動除錯和檢測策略無需重新編譯 FPGA，即可針對每一個新行為進行除錯；相較於使用傳統工具，通常要耗費 8 到 18 個小時的冗長痛苦過程。下列為其他的主要功能：
! e  L1 D& l7 A; V$ R& O4 R, E/ e, M
) c' L: [7 ~6 ?% E•        按類型和實體名稱自動識別和檢測 RTL 訊號，包括正反器 (flip-flops)、狀態機器、介面和列舉類型9 m  L" \1 E5 g  B" m& v
•        無需特殊的外部硬體或消耗 FPGA I/O 資源，即可在晶片上以高速擷取並壓縮許多資料
6 R/ m2 |* Q3 H; [+ X6 G•        進階的晶片觸發功能，將邏輯分析儀的觸發方法引進嵌入式儀器$ w0 @5 X- f! Q# Y7 m
•        跨時脈域和多個 FPGA 的時間關聯擷取結果，提供整個目標設計的全系統視圖3 \2 h7 M* g7 I
  T4 N6 B' t- s
Certus 2.0 可以在不需要任何特殊的接頭、纜線或外部硬體的情況下，在任何現有的商業或客製 ASIC 原型設計平台上運作。
作者: tk02561    時間: 2013-7-5 01:16 PM
Tektronix 推出業界首個適用於全新 10 Gbps SuperSpeed USB的測試解決方案( }+ c" q' L5 s: g! z9 k+ S
亦帶動出全新除錯、自動化測試工具，有助於縮短 USB 3.0 產品上市時間+ H. L) A$ ]7 Y' [8 S

* K4 M' _! Q+ T5 i【2013 年 7 月 5 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，已增強其USB 3.0 測試解決方案多項新功能；包括，業界首個針對SuperSpeedPlus 10 Gb/s規格的發送器測試解決方案。其他增強內容則有以示波器為基礎的層級式解碼新功能，以及適用於SuperSpeed USB發送器的增強自動化解決方案，可提升測試輸送量達六成。$ x8 X% _% I" \( i% W7 \& {
3 J- q/ ?. f% D5 \7 ]2 {
USB 3.0較快的資料速率帶來新的測試挑戰，最顯著的是增加通道損耗、降低訊雜比、更複雜的連結訓練，以及必須驗證的時序需求。隨著設計空間縮小，具備一個精確和特定標準量測系統，較以往更顯重要。Tektronix SuperSpeedPlus USB 測試解決方案 (選用配備SSP) 能完全滿足所有的上述需求。* d1 s' D% K# A+ x

, w- ?4 ~5 ~, |0 K% G. bTektronix高效能示波器部門總經理Brian Reich表示：「如USB 3.0這樣重要的業界標準隨著時日在演進發展，我們的測試和量測工具也要隨之進行革新，這一點是很重要的。我們USB解決方案的最新增強功能，是讓工程師可以確認是否符合我們最新版的USB規格、縝密地解碼匯流排運作加快除錯作業，以及在執行自動化相容性測試的同時大幅縮短測試時間」。
' ~$ d  h: M5 W9 J" D7 r8 B
3 |1 L4 L1 V2 ~/ ^在緊迫的時間限制和日益複雜設計的情況下，工程師需要能跨匯流排多層級作業的彈性工具，以便能更快速地找出問題。Tektronix USB 3.0 解碼軟體具備特定通訊協定觸發、簡易使用搜尋和導覽，以及多層級解碼等功能，可有效簡化除錯作業。讓使用者可在同一螢幕上，輕鬆在通訊協定堆疊以及與類比波形關聯的完整時間中導覽。
作者: tk02561    時間: 2013-7-5 01:16 PM
全新的TekExpress USB 自動化軟體 (選用配備 USB-TX) 善用Tektronix 多年來的USB 相容性測試專業知識，並同時納入提供大幅改善效能的全新軟體架構。客戶將看到縮短六成測試時間的改善成果。例如，先前需12分鐘完成的 USB 3.0 Tx 測試，現在使用全新的TekExpress 軟體測試約需5分鐘即可完成。
7 F- o8 I. ~" C* i0 l9 }$ k: }3 k
/ r% k  _0 n% hUSB-IF總裁兼營運總監Jeff Ravencraft 表示：「預期到2013年底將出貨超過5億個 SuperSpeed USB產品，USB 仍舊是主機與周邊設備通訊互連的主流產品。所以，如Tektronix這樣的領導測試和量測設備提供商，他們的支援將非常重要，這樣才能確保我們的成員公司能快速推出認證的USB 3.0 產品和解決方案」。
# ]( J! Z# i/ K% v9 p( ]" ^; j/ H1 Z1 `: r
價格與供貨情形
& T# r/ O1 C- [, q3 u自2013年7月起，即可自www.tek.com 網站下載全新的 TekExpress USB 3.0 發送器測試軟體 (選用配備USB-TX) 和 SuperSpeedPlus USB發送器測試軟體 (選用配備SSP)。
0 \4 J" i6 i& M4 K3 S: D: e全新的SuperSpeedPlus 發送器測試軟體 (選用配備SSP) 則於2013年7月下旬可自www.tek.com 網站下載。
% ^8 B/ Z1 Y- a( _* J1 j3 p  K% z
針對擁有 DPO/DSA/MSO70000 系列示波器並搭配選用配備SR-USB (自2013年7月起提供) 的客戶，USB 3.0 解碼軟體將為免費升級產品。
作者: mister_liu    時間: 2013-10-11 02:48 PM
標題: Tektronix擴充100G電測試產品系列
增加業界首部多功能32Gbps線性等化器；強化適用於接收器測試的多通道BERT；將發佈適用於CEI-28G-VSR發射器測試的自動相容性測試套件
5 T; @: W+ }9 Y/ B/ Q5 _+ e; h7 B
9 e1 l) Z; j" w: e5 ~0 X/ C6 Y/ w【2013 年 10 月 11 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，對儀器和軟體系列進行重大擴充，為從事100Gbps通訊系統電測試工作的設計人員提供支援。本次推出的內容包括：LE320，這是一款具有2組差分通道9 Tap線性等化器，所支援的資料速率可達32Gbps，可作為BERTScope接收器測試系統的一部分；用於PPG/PED多通道誤碼率測試儀 (BERT) 的新選項，可在高達32Gbps的資料速率條件下提供訊號減損和輸出調整與全新的40Gbps誤差偵測器機型；以及選項CEI-VSR，此選項可自動化DSA8300取樣示波器以執行CEI-28G-VSR相容性測試。
) l* ^4 `: {8 v6 R/ R
4 t- l1 N; ^3 K" G9 a! o' {4x25G測試的需求對於從積體電路設計轉向接收器和系統設計的產業來說，變得更加重要。設計人員正在開發資料速率可達100 Gb/s (將使用四個25-28 Gb/s通道提供) 的創新網路元件。設計挑戰在於在印刷電路板上傳輸這些高頻訊號，即使是短距離傳輸。LE320為測試工程師提供了多用途的輸出訊號調節和可調輸入均衡等化功能，以建立適用於測試四個25-28Gbps電通道的最佳系統；這是對增強的PPG/PED碼型產生器和誤碼偵測器產品線多通道功能的理想補充產品。取樣示波器選項CEI-VSR將確保高效能和一致的相容性測試支援，使設計團隊能順利過渡至製造過程。' g) e$ l7 ]0 Y: b+ m: {
/ ?( I: B; |7 O9 F4 n
Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G逐漸成為主流產品，我們的產品系列便增加了兩項重要內容，以應對晶片、轉換器、收發器和系統4x25G PHY電性測試領域的挑戰。針對接收器測試，我們不僅支援電通道建模和等化功能來強化BERTScope，也為多通道BERT增加了40 Gbps支援項目；而針對發射器電性測試，我們則為設計人員提供了適用於CEI-28G-VSR測試的自動化解決方案。」
作者: mister_liu    時間: 2013-10-11 02:48 PM
適用於接收器測試的輕巧和多功能32 Gb/s線性等化器* r. u! N5 J/ J0 r4 a9 P
開發10Gbps或更快系統的設計人員需要位元於Rx輸入之前的等化器或位於發射器Tx輸出上的預加強模組。當速度增加時，能符合這些要求的12Gb/s以上儀器級訊號調節產品寥寥可數。業界領先的LE320將以用於提供100G通訊標準 (如CEI-28G-VSR) 所要求的高準確度誤碼率測試的9 Tap設計來支援資料速率範圍為8Gbps至32Gbps的訊號調節。LE320的創新遠端探棒設計能讓設計人員盡可能地縮短測試系統的電纜長度，同時可避免訊號劣化問題 (此問題在25-28Gb/s條件下極為明顯)。全新的LE320儀器級封裝採用Hittite所提供的自訂矽微波元件以減少元件數目，不僅提供了突破性的效能和多功能性，且其尺寸與智慧型手機相去不遠，而價格甚至低於低功能替代產品的三分之一。8 {5 }9 g/ x, X4 D  `! ]; z/ [

- D; d2 {: p* c0 ?利用儀器級的可編程等化功能，LE320可配置為提供標準專屬等化功能，允許對其他閉合眼狀圖的訊號進行誤碼率 (BER) 分析。針對採用較低資料速率的客戶，Tektronix亦為20Gbps系統提供LE160機型，以滿足40G-KR4、14Gbps 光纖通道和16GbpsPCI Express 4.0等應用的需要。7 n0 x3 Q# o8 |3 g; p9 u
8 s) f1 L$ q& k& u, n2 X
適用於100G測試的多通道BERT功能
. a% L* j: i; u( X多通道高資料速率標準驅動了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端BER測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個高速並行通道而推動的系列測試之中。Tektronix PPG/PED多通道BERT產品線現已提供擴展的抖動減損功能，全新的輸出調整靈活性和更高速的誤差檢測功能，更能滿足這些標準的要求。+ w' X8 f: Q8 I" E

, q2 m7 r# Q: W1 v9 K+ [7 i抖動插入選項的擴充範圍包括選項HFJIT，該選項現在提供BUJ以及RJ和SJ；以及高振幅/低頻率PJ，作為新選項LFJIT的一部分。同時推出的還有選項ADJ，該選項增加了具有快速上升/下降時間和低固有抖動的可調輸出，以滿足32 Gbps多通道碼型產生器應用的要求。支援資料速率可達40 Gbps、採用1或2通道組態的新PED4000系列誤差偵測器產品的推出增強了資料速率餘量測試。
作者: mister_liu    時間: 2013-10-11 02:48 PM
更快速、可靠的CEI-28G-VSR相容性測試* }2 s; P8 a. k3 }* T
針對光學互連論壇通用電氣介面 (Optical Internetworking Forum Common Electrical Interface，OIF CEI) 3.0 標準的實施協議規定了針對以 OIF 標準為基礎之裝置的測試和限制值。CEI-28G-VSR 屬於這些標準之一，其目的是用於可插拔光學收發器中的極短距離電通道。這些電氣介面必須滿足系統誤碼率 (BER) 目標的要求，且必須通過嚴格的測試和除錯週期。
; Y+ c- F6 v( N! S" a8 O
- |* E, y. a1 W$ B' y. l直到目前為止，執行所有需要的CEI-28G-VSR相容性測試和找出與抖動或雜訊的相關問題一直是難度極高且需要大量人力的任務。與Tektronix 80SJNB串列資料連結分析軟體的整合後，即可讓使用者進行更深入的除錯和時序根本原因分析，而無需變更儀器或量測設定。( V8 Z. V2 q* ^! n% o

; }6 ^2 K  K* j7 G將選項 CEI-VSR與其Tektronix DSA8300取樣示波器搭配使用時，設計工程師能在5分鐘內即完成相容性量測；與手動替代方案相較之下，這可使測試時間縮短約95%。此外，選項CEI-VSR還可用於確定CTLE峰值的最佳化，以滿足CEI-28G-VSR主機至模組介面規範等標準的要求。設計工程師需從一組給定的濾波器中選出最佳的CTLE濾波器，並將其用於執行量測。如果沒有此項功能，設計工程師就需要花時間來手動判斷最佳的CTLE值，從而降低生產力。
8 a" a* ~; |6 F) U
0 z+ r: |' w0 ]( X定價和供貨
2 ~" @  f1 L! \/ l% f# I& DTektronix 32 Gbps LE320 和16 Gbps LE160線性等化器現在已提供客戶進行評估，並將於第四季開始全球供貨。適用於抖動插入的Tektronix PPG3000選項及全新的PED4000系列，兩者均將於2013年第四季開始供貨。選項CEI-VSR亦將於2013年第四季開始供貨。
作者: sophiew    時間: 2014-1-24 02:47 PM
Tektronix 收購Picosecond Pulse Labs 位於科羅拉多州博爾德的高速測試儀器開發者 將可有效強化 Tektronix的 100G/400G 產品組合7 J! B8 Q& S( N' Q# `+ Z3 ?

9 S9 J/ K" d3 \3 X! G7 N【2014 年 1 月 24 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，收購Picosecond Pulse Labs。此舉旨在加強Tektronix在不斷增長的測試設備市場之產品組合，以支援100G/400G光纖資料通訊的研究和開發。
& P4 i* Z$ r5 I' V  W! ]6 F  r. X5 v+ i4 j4 ]4 a- {6 H6 S
Picosecond Pulse Labs其總部設在科羅拉多州博爾德 (Boulder, Colorado)，提供了包括超高速碼型產生器、全球最快的脈波產生器和最高頻寬的取樣模組等產品。該公司最近推出了PatternPro產品系列，包括適用於100G/400G應用的多通道32 Gb/s資料產生器和分析儀。
' G% \: ^- H2 \9 q( ~& M6 Q& f/ |) e' l' f* `; s9 x5 t1 X- O! \  _4 c
Tektronix總裁Amir Aghdaei表示：「Picosecond Pulse Labs擁有設計和製造尖端儀器的悠久歷史，並為高速光纖測試市場特別推出了全新的32 Gb/s的誤碼偵測器和碼型產生器。與我們的高速示波器等產品系列相結合後，Picosecond將可進一步強化我們在關鍵的100G/400G資料通訊業務解決方案的產品組合。」
作者: mister_liu    時間: 2014-1-28 10:37 AM
標題: Tektronix 提供擴展的MIPI®M-PHY®接收器測試解決方案
最新的M-PHY接收器測試產品包括適用於HS Gear 2和Gear3、PWM模式、自動校準和邊際測試的完全支援3 ]8 \( ^6 x; W( B2 T

* g/ ~( L( U8 S6 N* T9 M* l; q【2014 年 1 月 28 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，擴展其業界領先的M-PHY接收器測試解決方案的功能。附加的功能包括高速Gear 2和Gear3的實體層接收器測試、PWM模式 (G0-G7) 的支援、自動校準和邊際測試。以M-PHY實體層為基礎而開發下一代行動裝置的工程師現在可使用此解決方案來解決設計挑戰，並能輕鬆執行自動化相容性、產品驗證和邊際測試等程序，來克服訊號完整性問題。' R1 M& y+ o; i7 A7 @' m- N
9 q% K$ P; M* S' G- N! w
HS Gear 2和Gear3與PWM模式 (G0-G7) 的支援使設計人員能靈活地以完整範圍的資料傳輸速率來執行測試，全面深入瞭解其設計。高速裝置的自動校準支援功能降低了安裝的複雜性，可有效節省時間，並讓使用者能更快速地測試裝置。高速裝置的邊際測試可讓設計人員能驗證裝置，並對裝置執行壓力測試，激發其最大的潛能，進而產生有競爭力的技術規格。
9 z, n6 p1 b2 T$ z% [1 z" S4 i3 s+ J3 b4 L7 s
Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「Tektronix的M-PHY接收器測試解決方案為設計人員提供了在產品開發階段早期找出設計和特性問題所需要的深入資訊。此解決方案結合了Tektronix示波器的量測精確度，可讓設計人員對其裝置的理論極限執行壓力測試、在自動化的環境中更快速地測試產品，並有效縮短產品上市的時間。」
作者: mister_liu    時間: 2014-1-28 10:37 AM
Tektronix 簡化了複雜的M-PHY測試6 L0 @  V6 k  X4 @" b! V+ Z
MIPI聯盟的M-PHY規格提供了一個低功耗、低成本的PHY解決方案，此方案具有可擴展性和足夠的靈活性，能滿足現有和未來的行動和消費電子裝置市場。藉由其多變的裝置、終端、振幅和高速串列資料傳輸速率等特性，M-PHY提出了一些在接收器和發射器兩端需要專用測試解決方案的測試挑戰。
1 w! L6 k! _1 M3 ]4 ]% h. r0 F4 [9 K" a
Tektronix M-PHYTX/M-PHYRX自動化軟體與Tektronix DPO/MSO70000系列示波器搭配使用時，可涵蓋完整範圍的M-PHY發射器和接收器測試要求，並為廣泛的通訊協定解碼提供支援。在發射器端，測試設定和執行是完全自動化的程序，僅需要一台儀器即可完成。針對M-PHY接收器測試，將僅需要高效能示波器和AWG7000系列任意波形產生器等儀器。TekExpress自動軟體則為設定和測試程序提供了便利的使用者介面和直觀的工作流程。
" Z$ ]: A4 e. J  v: L  F/ `) F' T, M0 d
供貨& V" m3 I) Y& z) z
Tektronix MIPI M-PHY發射器與接收器測試解決方案，以及擴展的接收器測試支援服務現已提供。
作者: innoing123    時間: 2014-2-11 02:25 PM
標題: Tektronix推出自動化HDMI 2.0相容性測試和除錯解決方案
全新測試解決方案涵蓋了所有的HDMI 2.0 PHY和通訊協定測試 提供快速、一致和準確的結果1 e* U6 b: |8 c: z' ^" a0 a
* x% L6 a6 V9 ^2 L! x' e; [# r0 P
【2014 年 2 月 11 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出適用於最新發佈的HDMI 2.0規範的全自動相容性測試和除錯解決方案。解決方案涵蓋HDMI 2.0發射器測試和以直接合成 (Direct Synthesis) 技術為基礎的接收器測試以及電纜測試要求，可提供快速、一致和準確的測試結果。
( V7 S% \# T7 i. X1 G( ]* C# r+ a. X* F
作為受到廣泛採用的HDMI 1.4a/b標準的後繼者，HDMI 2.0規範旨在滿足即將出現的超高畫質 (UHD) 或4K電視的頻寬要求，同時使用現有電纜來提供向後相容性。這使頻寬顯著增加至18Gbps並增加了許多特性，如32個音訊通道和同時向多個使用者傳送視訊和音訊串流。如同先前的HDMI版本，相容性和除錯測試解決方案對確保該規範的成功實施也非常重要。4 Y/ {7 e$ l2 j0 n& G) {
& i( r! O7 U4 m$ O
Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「作為HDMI 2.0測試規範的貢獻者和HDMI測試解決方案的全球領導供應商之一，Tektronix在協助客戶將超高畫質/4K電視和其他HDMI 2.0認證產品推向市場方面具有得天獨厚的競爭優勢。此解決方案採用可縮短待測產品上市時間的簡單、可靠測試環境，提供HDMI 2.0相容性測試支援並滿足電氣測試的相關要求。」2 H3 o. K6 i/ \" J/ K4 Q
# Z  a# m& ]  Y6 f! R- q& c
與同類解決方案相比，Tektronix HDMI 2.0測試解決方案由於採用適用於發射端(Tx)測試的新自動化解決方案和適用於接收端(Rx)測試的直接合成方法，因而能顯著降低測試設定的複雜性。Tektronix解決方案不要求工程師設定多個設備，而是使用AWG70000任意波形產生器來自動產生所需的測試訊號和規定的訊號減損。這將可能使測試時間從數天減少至數小時。6 k% M/ V% o1 X- k* E- S
- i. E. p: D  O( e0 o& T1 N  n
對於消費電子製造商、半導體公司和電纜製造商的設計人員和測試工程師而言，Tektronix HDMI 2.0測試解決方案由高效能硬體和整合式軟體組成，完全支援輸出和負載裝置以及電纜的所有實體層測試。完整解決方案包括MSO/DPO/70000系列即時示波器、HDMI相容性測試軟體、AWG70000系列任意波形產生器、適用於時域反射儀 (TDR) 的DSA83000取樣示波器、適用於串列資料網路分析的IConnect軟體以及測試治具。



歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/) Powered by Discuz! X3.2