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標題: 3/23 Semiconductor Test Summit 2010 (半導體測試高峰論壇) [打印本頁]

作者: timko 時間: 2010-3-5 01:18 AM
標題: 3/23 Semiconductor Test Summit 2010 (半導體測試高峰論壇)
網址 - ni.com/taiwan/sts2010

半導體晶片設計愈趨複雜，不論是對於 IC 設計公司或封測廠，甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言，都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案，便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。

本論壇由美商國家儀器主辦，集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等)，針對半導體產業的驗證與測試做深入探討，從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等，提供了各面向的探討與剖析，也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。
　
活動焦點:
#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測，提供完整的講題內容
#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
邀請對象:
# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
#IC 設計公司驗證 / 測試工程師
#IC 測試廠測試研發工程師
#半導體測試系統設計 / 開發工程師
#ATE 設計 / 開發工程師
#模組 / 系統測試研發工程師
#RF 測試工程師
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師

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