標題: Power IC 驗證？3/23 Semiconductor Test Summit 2010 [打印本頁] 作者: timko 時間: 2010-3-5 01:32 AM 標題: Power IC 驗證？3/23 Semiconductor Test Summit 2010 活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
特別邀請到 ON Semiconductor 產品經理介紹如何建立高效能.低成本的 Power IC 驗證系統!!!
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半導體晶片設計愈趨複雜，不論是對於 IC 設計公司或封測廠，甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言，都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案，便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。
本論壇由美商國家儀器主辦，集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等)，針對半導體產業的驗證與測試做深入探討，從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等，提供了各面向的探討與剖析，也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。