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標題: 4/1 安捷倫【新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯】 [打印本頁]
作者: atitizz    時間: 2010-3-18 04:30 PM
標題: 4/1 安捷倫【新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯】
知識饗宴 空中相會 歡迎參加  4月1日  10:00 - 11:30AM 安捷倫科技中文網路研討會. Z0 n. |5 k; t& j) u9 j3 A$ p# M

6 w4 @6 M1 A0 T" I! j' y安捷倫科技誠摯邀請您參加將於2010年4月1日上午10:00-11:30舉行的中文網路研討會，主題為“新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯”。, v6 s9 z: O8 D- l- Z

! P" F. M3 T3 L" t8 M" ~: SFPGA晶片已成為數位設計中的核心元件。而Infiniium和InfiniiVision系列示波器正好是為除錯和量測FPGA而設計的，這些合適的工具對於類比、數位和新協議的分析都擁有優越的能力。這個研討會將介紹一些採用Xilinx FPGA的設計的量測例子。 & D' \9 O, d6 f2 Q
. y- _5 B& x, O- n
以下介紹是研討會有關FPGA設計和除錯方面的內容： / ]6 Z4 Z# p; @

- q4 G. h# M1 r9 i! O5 E9 S1. 關於安捷倫測試和量測設備如何應用FPGA和ASIC技術的例子。! m$ C" x' g4 J6 A" |
2. 利用混合信號示波器和核心除錯技術的基礎，以便快速量測（以秒計的) 內部信號新組合，但卻沒有停止FPGA的運作或改變裝置的時間。
6 s5 {% y9 q8 O  x+ \3. 在30秒內設定示波器，以便觸發和解碼在FPGA和周邊晶片之間的串行通信匯流排。將會介紹的例子包括I²C、RS-232、SPI、USB和PCIe™。3 r& w8 r4 p. M6 h; S/ ~* c- _% S
4. 對高速串列訊號傳輸的特性。5 Y  A- L3 h+ T+ W
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歡迎上網報名，免費參加研討會。如果與會學員希望在網路研討會舉行前提問，請在填寫登記表時把問題事先發送給安捷倫。在參加研討會後填交回函表的與會者將可參加幸運抽獎，贏取iPod nano一部。
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; u' [# W$ X/ \( J7 X& ~1 |不要錯過與安捷倫科技專家即時交流的機會!5 i( H& q2 ^( d. f, B
報名網址：http://www.eeplace.com/agilent/e ... IL&eventid=1683



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