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標題: 7/14-16, 安捷倫射頻量測技術分享會：量測哪裡有問題, MC21884 [打印本頁]
作者: tk02376    時間: 2010-6-22 04:32 PM
標題: 7/14-16, 安捷倫射頻量測技術分享會：量測哪裡有問題, MC21884
本帖最後由 tk02376 於 2010-6-22 04:34 PM 編輯
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歡迎參加安捷倫科技所舉辦的最新射頻量測技術分享會，這場免費的技術分享會，將介紹包含最新的元件測試技術、雜訊對信號量測所帶來的影響、信號產生常面臨問題與信號除錯技巧等，以協助您克服各種無線通訊技術量測挑戰。透過安捷倫專業工程師的介紹，讓您了解正確的使用儀器及將其功能發揮到極限，協助您解決工作上的問題。相信本分享會將對從事射頻微波通訊電路及射頻通訊系統整合的工程師會有很大的幫助。歡迎蒞臨參加。
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7 A6 M3 a2 U: t: D* u7 k$ Y9 H3 V/ LKeywords:
/ j6 D$ x  Z  [& ^6 Y- GNoise-like signal, Dynamic range, DANL, Common sources of error, Waveform clipping, ALC, Amplitude flatness, Phase coherency, OFDM, VSA, TDR, Network Analyzer, PDN, PCB
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本研討會實機展示
費用日期地點詳細資訊
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: }6 G: n! B5 \) ^09:30 - 16:10 Taipei Time		台北富邦國際會議中心 台灣安捷倫科技
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作者: tk02376    時間: 2010-6-22 04:35 PM
時間議程
09:30 ~ 09:50報到
09:50 ~ 10:00開場致詞
10:00 ~ 10:50網路分析儀簡介及其於天線、纜線連接器測試之應用
! y( H$ ]9 u* T6 s% |  l• 網路分析儀之基礎原理
" r" Q9 ^7 y/ r- q! }• 傳統TDR跟ENA-TDR之比較及其於PCB0 x9 [  N$ |0 [$ Z  V
• 纜線連接器以及系統驗證之突破性應用
10:50 ~ 11:10休息一下，實機展示
11:10 ~ 12:00運用最新之低頻與射頻整合式向量網路分析儀評估DC-DC轉換器及功率分配元件  b; N6 i9 C6 f: U
• LF-RF NA之基礎介紹
' Q* I( I/ {$ d# D• PDN(功率分配電路)及DC-DC轉換器之技術與量測挑戰5 a# ?2 o5 G5 o9 u, P7 [! Z9 {: o
• 運用最新的量測工具提昇您開發與驗證的效率
12:00 ~ 13:00午餐
13:00 ~ 13:50克服雜訊對射頻及微波精準量測的影響/ {0 M5 [) C9 s9 a6 m
• 雜訊對信號量測的影響
, B9 r- Y4 g0 N9 I6 T• 如何降低顯示雜訊位準(DNAL)
+ j8 s% _: a" @* e5 s, B• 最新量測技術介紹
13:50 ~ 14:10休息一下，實機展示
14:10 ~ 15:00克服信號產生常面臨的挑戰1 M' l* ]) M: v0 {  I
• 常見的I/Q波形問題及如何修正
# K6 S6 D4 }( \( U7 L8 H* H• 高功率所帶來信號失真問題
$ p: v1 @* ]  R0 d1 @) \. h: _7 ^• 載波同步常見問題與解決方案
15:00 ~ 15:10休息一下，實機展示
15:10 ~ 16:00使用向量信號分析排解無線通訊設計上的疑難. Z( x) c& ^/ h+ {0 n
• 數位通訊系統簡介
3 E( A; s6 s/ c# G9 F• 數位無線設計與OFDM通訊系統信號問題/ r4 Q; N5 s! Q: l, ?
• 向量信號分析除錯技巧
16:00 ~ 16:10抽獎
作者: tk02376    時間: 2010-7-14 08:24 AM
標題: 安捷倫辦免費分享會
安捷倫科技將於7月14日至16日分別在台北富邦會議中心、新竹Living One篤行館及台中中興大學，舉辦以「量測哪裡有問題」為主題的安捷倫射頻量測技術分享會，即日起接受報名。 , {2 n. i9 N0 ^) a

6 i% h( X/ n; k2 g2 [9 m該項免費技術分享會，將介紹包含最新的元件測試技術、雜訊對信號量測所帶來的影響、信號產生常面臨問題與信號除錯技巧等，以協助從事射頻微波通訊電路及射頻通訊系統整合的工程師克服各種無線通訊技術量測挑戰。透過安捷倫專業工程師的介紹，讓與會者了解正確使用儀器及將其功能發揮到極限，協助解決工作上的問題。洽詢電話：0800-047-866，指明活動代號MC21884。



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