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標題:
尋求開發一種能一次檢測60顆IC的檢測設備
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作者:
atitizz
時間:
2010-9-13 04:39 PM
標題:
尋求開發一種能一次檢測60顆IC的檢測設備
主要難題：我們有單獨檢測IC晶片的檢測儀(即讀卡器),但我們要開發一種能一次檢測60顆的檢測設備,即把原來單獨檢測開發成連續檢測
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