Chip123 科技應用創新平台

標題: 宜特科技今日舉辦車用IC研討會-可靠度驗證方法與可能面臨之瓶頸 [打印本頁]

作者: f5882077 時間: 2010-11-3 11:23 AM
標題: 宜特科技今日舉辦車用IC研討會-可靠度驗證方法與可能面臨之瓶頸
本帖最後由 f5882077 於 2010-11-3 11:24 AM 編輯

~跨入車用IC產業的第一步-車用IC可靠度驗證方法與可能面臨之瓶頸研討會

隨著電子技術的演進與車輛主動式安全設計需求提升，「汽車電子」在車輛上的應用已從過去佔整車成本的13%提升至40%。豐田汽車更為降低日本汽車事故，發展【汽車電子繭】概念，利用數百件感測器(Sensor)將車輛包圍起來，車輛控制單元(ECU/MCU)根據感測器資訊對整車進行電子控制(如煞車、方向盤、停車、預防撞等)，此概念將加速各種車用感測器與微處理器市場快速成長。

然而，「汽車電子」與「消費性電子」所使用的IC在可靠度要求上有著極大的不同。消費性電子可經由商業交易談判來確認允許多少市場客退換貨，然而汽車電子所使用的IC(如ECU/MCU等)，直接與人的生命安全高度相關，因此只要有一點可靠度不良的風險都將產生嚴重的後果。台灣IC設計公司在過去高度發展下已具備相當成熟之IC設計能力，但要如何進一步整合外包廠將其所設計之產品跨入高利潤與高可靠度之車用IC領域則是目前最熱門的話題。

宜特科技將於11月3日舉辦【車用IC可靠度驗證方法與可能面臨之瓶頸】研討會，將從車用IC可靠度標準進而探討汽車電子協會(AEC)使用何種管制方式來達成零缺陷率(Zero defect)，歡迎業界先進共襄盛舉。

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/)