Chip123 科技應用創新平台

標題: 1/ 12 交大「提升我國資通訊產品之測試環境」研討會 [打印本頁]

作者: amatom    時間: 2010-12-23 01:44 PM
標題: 1/ 12 交大「提升我國資通訊產品之測試環境」研討會
主辦單位:交大網路測試中心 (NBL)              
0 ]; V% s" K; E" r% t# t! `時間:2011年1月 12日(星期三),9:00 – 16:00
* X, f. o: Z/ P6 }/ S地點:國立交通大學(新竹市大學路1001號) 電子資訊研究大樓 1F 國際會議廳9 l& i. T9 [  f7 G9 E$ Z  U
報名方式︰請填寫報名表並e-mail報名資料至NBL收。(Tel:03-5736727 ext. 213 Ann Chen,E-mail:signup@nbl.org.tw
, z6 Q# `" i, z. L( _. G7 c9 n報名截止日期: 2011年1月10日(星期一) 17:00: ?9 d8 D' q/ J
" A" {/ F3 v9 E
我國資通訊產品發展至今,其中的軟體複雜度愈來愈高,一種情況是單一產品愈做愈高階而另一種情況是單一產品線的型號愈來愈多,兩種情況都使得程式碼規模愈變愈大,因此對於產品測試與開發來說會是更大的挑戰。有鑑於此,NBL特舉辦本次研討會並邀請了專家學者前來分享一些想法與經驗作為國內廠商的參考,同時NBL未來亦會扮演火車頭的角色協助國內廠商導入相關技術(例如: 測試涵蓋率分析)以提升產品品質。
作者: amatom    時間: 2010-12-23 01:46 PM
  時
9:00-9:45 Registration
9:45-10:00 / ^  ]# U6 R% x) }3 m( f
  Opening Speech
7 t. a. F: u$ V
交大電資中心 5 `" c$ h0 @5 W  v. X
工研院資通所
林寶樹 主任
( B; K! O. f* ?7 S( I% O. ^鄭聖慶 組長
10:00-10:50
8 ]& ~  R* {$ x9 j7 A
Session 1: Test Coverage Optimization Problems with Large Code Size 交通大學資工系
/ n+ @9 E4 `: B# d% f2 g" _: R" x1 a
林盈達
% G/ Q! l$ {$ H+ z! }教授
/ z3 [, [: Y7 L( c) s; D
10:50-11:00 Break
11:00-11:50
+ j4 F1 I) q( d! Y
Session 2:A Glimpse of Cisco’s Software Development Process and Methodology Cisco
9 z% i# y0 i, G6 P/ r3 N: J+ D
唐兆立. W+ P- Y8 P" y, E8 O; X0 T
博士
11:50-13:00 Lunch
13:00-13:50
: O3 Y- R( k1 Q2 v3 P6 B
Session 3:A Glimpse of A Good Test Engineer 0 Z( l1 K5 X1 J
San Jose State University 林宗輝 博士
7 @7 H6 H2 Y6 w" S. I
13:50-14:00 Break
14:00-14:50 Session 4: Introduction to Unit Testing 臺北科技大學 陳偉凱 教授
14:50-15:50 7 Z9 v2 V$ D: z8 \
針對我國資通產業之特性,提升測試環境的重點方向與方式為何?
  {: ^# i0 v6 Z$ y' [* w& c# W) q* ?
Panel Discussion 7 y, s3 Y& N. I7 U) V
*交大網路測試中心保留更改議程及講師之權利,若有更改將不另行通知。




歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/) Powered by Discuz! X3.2