Chip123 科技應用創新平台

標題: 集成MOS電源芯片老化問題 [打印本頁]

作者: hvpower 時間: 2011-1-10 01:20 PM
標題: 集成MOS電源芯片老化問題
芯片如果不出現過溫保護則一切表現正常，過溫保護後亦能工作，但SD端電阻只有兩三百K歐姆（正常爲兆歐級別）；DS段電阻變爲4M左右（正常是無窮大）再次高溫烘烤後芯片恢複正常，並且過溫後也不再損壞；
未過溫保護前對芯片高溫烘烤，也不會再出現過溫保護後DS電阻變小的問題。

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/)