Chip123 科技應用創新平台

標題: 4/19~20 新竹、台北 Tektronix 創新論壇 [打印本頁]

---

作者: jcase    時間: 2011-4-7 10:47 AM
標題: 4/19~20 新竹、台北 Tektronix 創新論壇
Tektronix 創新論壇推動數位時代中的創新
- K1 v9 ]" \6 W" u
% P& j% L% P( W9 g$ e• 新竹場次 • 4月19日 (週二) — 新竹國賓大飯店，10F
• 台北場次 • 4月20日 (週三) — 台北君悅酒店，3F Ball Room
+ b" K0 P& P9 F/ K6 L$ f  f# x時間與城市：

• 2011 年 4 月 19 日，台灣新竹
• 2011 年 4 月 20 日，台灣台北
• 2011 年 4 月 22 日，中國上海
• 2011 年 4 月 26 日，中國深圳

+ {+ E' y- n( q/ L: _4 Q/ z
2 F& y7 `; B; o' \創新技術的加速發展及其在高速串列，嵌入式設計和 RF等領域的廣泛應用，要求您結合最好的設計工具和最穩定可靠的測試方案，以便按時製造出最優秀的產品。太克2011年春季創新論壇，首次提出安排了資深的國內外測試專家親臨現場，為從事工業設計研發和政府教育研發的工程師和工程管理人員，介紹涵蓋高速串列標準測試的最新測試解決方案。
2 F6 x; ~! |9 x2 i7 R; \9 H1 [
4 x) A' q4 K# P 免費課程,立即註冊參加
4 E7 E: u$ h5 J  Q* c! n$ S3 d
如果您想參加中國大陸課程請點擊這裡

---

作者: jcase    時間: 2011-4-7 10:49 AM

時間	TrackA 課程	主講人
12:30 - 13:00	報到時間
13:00 - 14:15	A1. 如何加快您的 USB 3.0 相容性測試(從Transmiter 到Receiver 到Protocol 的完整解決方案)	Sarah Boen/Fred Frastgar
14:15 - 14:50	A2. 搶先知道熱門SATA 3.1 修訂版規格和 12G SAS 特性分析基礎知識	Sarah Boen
14:50 - 15:10	Tea Break
15:10 - 16:20	A3.深入瞭解 PCI Express Gen 3 解決方案:考量 PCIe 邏輯及電路層問題的除錯和疑難排除及規範更新	Balaji Iyer /Sarah Boen
16:20 - 16:40	與專家對談 & 幸運抽獎

時間	TrackB 課程	主講人
12:30 - 13:00	報到時間
13:00 - 13:45	B1. 新一代超高速光電訊號標準量測最新知識	David Yang
13:45 - 14:30	B2. 如何為 TFT- LCD 面板訊號進行量測及除錯	Eric Shen
14:30 - 14:50	Tea Break
14:50 - 15:35	B3.如何加速您的嵌入式 RF 設計	Andy Yen
15:35 - 16:40	與專家對談 & 幸運抽獎

---

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/)

Powered by Discuz! X3.2