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標題: 10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會 [打印本頁]

作者: amatom    時間: 2011-9-28 02:29 PM
標題: 10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會
活 動 日 期
2011-10-13
報 名 截 止 日
2011-10-07
人 數 限 制
120人
活 動 場 次
台北
活 動 地 點
維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)
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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會

通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會

隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進,有多種速度、容量及低耗能規格,下一代DDR4標準也即將就緒,如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求,參數測試與系統驗證技巧,以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
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隨著USB2.0傳輸界面的普及應用,使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下,USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多,在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈;接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試,以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。9 e: l8 z& i3 }! K
08:30-09:004 y/ W5 \! A4 h9 [& Q
Registration and Welcome
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DDR1/2/3的電氣特性規格要求: M' a1 H. L: n$ P" h: R* H  _: _3 I
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速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰
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DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧& b8 B% _8 m2 I8 a: J" ?" t
14:30-15:00) r; j5 A4 |! F+ n" j
USB3.0的官方認證測試中,包含發射端及接收端的測試項目及流程
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Break & Product Fair' a4 N4 v; [: X7 d5 u5 j3 X
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Break & Product Fair
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10:50-12:00. C$ j8 }9 D4 d) L  `9 s
如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
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USB3.0的驗證及除錯技巧,以及認證過程中導致該失敗的常見問題2 @" }5 t: F4 J1 h& I
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