Chip123 科技應用創新平台

標題: 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會 [打印本頁]
作者: Morgan    時間: 2008-10-13 10:35 PM
標題: 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
' ^, A' O% K# U; ?+ r3 T3 P0 }         活動內容：
  r/ B+ ]( [  w+ N. o8 A2 S活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
! Z$ g& F& H: |+ A. q, _; o時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
- j0 Y) W9 \- a) T* Q* o(二) 09:00－16:00: 訓練課程# Y- Z' R# K5 W4 A% V' V8 z
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
7 n% j$ k8 V: F. [1 Q地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）2 {4 I6 w- e6 l. v5 V: s
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）4 Q. v' |: Y0 R! g) c
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
/ Q6 {3 }5 M0 c" G9 `+ M: V* U" [(2) 傳真至（04）3507-2117
% C  ]9 @$ Y9 `, u' `3 C4 C         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。1 G' D8 D7 R1 ]9 t
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
; F3 u5 g" u& Q. O6 \' M********************************************************************" M4 X( \- }, F: Q7 N
主辦單位：經濟部標準檢驗局
; T) U! U5 q! d8 C承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
9 e5 ?# d1 v- ~  v$ U6 X洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐
作者: Morgan    時間: 2008-10-13 10:36 PM
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程) N4 n7 |8 o9 `. q. E1 y4 A' R
97年11月03日 (星期一)
8 a8 [4 H! V, s$ c) x時     間        活 動 內 容
9 o- J5 R7 |! x2 x- d  }8:30-9:00        報      到- T; |/ b3 r. P/ S
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)8 H( ]5 Q' [  I5 f/ u* r
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
0 i/ ~1 ~, U' |主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
' C) d6 o5 |! }0 Y, j. i內容包含:1 q; p" B# s. i/ A$ l2 |
1. EMC問題趨勢的發生與分析( a( Y2 j6 r/ m& l7 I3 r) P' V- K
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析/ J7 @- f9 f. V- C
- Platform noise effect
/ x+ ^$ b% j1 t8 N! d% b- Noise measurement procedure
0 H- d1 F" s  M1 g9 K( w+ J3. EMC之原理分析與設計技術簡介; B) Y. p& U' A1 O3 v: I7 r8 m
- Filtering7 ~) {& o* Y' L" L0 g
- Shielding
; u9 K: Y+ m, Z$ u, d/ u- PCB Layout$ e' _+ X+ H' D+ K% Z3 r
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
; B# t: J' T& g1 E. |- Power/Ground plane layer impedance measurement1 K, V9 B! n) S/ c2 n
- Power Distribution System (PDS) Design
. h+ L+ x1 ^6 ~! H3 n5 G, ~* R5. 信號完整性(SI) 之分析與設計. j$ C5 {; o0 s; ~& S* u  V
- Measurements for Signal Integrity  L! n* Z: k: v9 X/ q
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems& [$ m5 V4 M" b1 F3 S6 p
: K& s/ K1 o1 N+ U  C8 I9 q
: @2 ~5 A6 [) n. b9 y
97年11月04日 (星期二)
' s  p) f9 _: Q! |/ i5 l/ @. D6 p8 }0 ~
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
- X& o' u* H4 e內容包含:$ [+ V4 g- `/ q  `( @6 i, a. j  n1 Z
電磁模擬範例分析
! r, ]4 T/ g9 k" y  M$ i/ V9 ~6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation7 W$ O1 d  `4 o
•        WBFC Modeling and Simulation! H4 F! [. F" o, F5 w
•        MP Modeling and Simulation
' w; U! A8 K1 h3 }* f* y$ U•        TEM Cell Modeling and Simulation
- _7 ]; s: B& V9 q; M; I6 |( l- General Noise Characteristics/ W+ {) e9 Q8 E
- Power Noise Study% R/ a5 O* Y, ^6 A1 l# E0 _
- Signal Noise and SI Study
' J2 Z2 d9 R* {5 c4 S�        Slit on Reference Plane- D8 H( L) e; v
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
  G" p, F+ {+ L8 U" N: n$ C�        Reference Plane change
& t  i' N6 v9 \, L+ ~8 h& p�        Trace near the Card Edge
1 v5 i; S8 ~  I5 ]7. Trend of EMC issues on chip-level) \; ]# E: F/ X+ e
8. EMC design trend for chip-level
0 H1 r, B: c9 F+ F6 o* g97年11月05日 (星期三). l9 Y2 w, A) ?( w" g% _
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授1 l  Z& R6 k. r& H
內容包含:
( m( H# I+ X9 Q  a# Q/ N3 D9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介. n" u: {+ m' f
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
! ]9 O, Q8 v, P- l7 X& Q11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用" X4 o- P' Q, |% O. [. `
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
% e3 b7 g% [. h6 L•        New Challenges in Modeling and Measurements% M+ e; @: N4 q5 e7 \2 K
•        Loss Mechanisms and Their Significance- U& d7 N5 W( q% E3 z! Y
•        Limitations of Present Methodologies0 j, [% D9 O1 c9 \' Q
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
* S1 j8 i0 w% m& N# C•        Production-level Process Integrity Monitoring . q, ~2 n+ [! b% V
13. 綜合座談
作者: andytang    時間: 2008-10-14 09:42 AM
幫推~很想參加，可惜人在桃園
. s$ c+ U- t$ ]2 [+ j7 C9 Q回來又要寫一堆報告
作者: heavy91    時間: 2008-10-14 09:45 AM
標題: 回復 3# 的帖子
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......) M4 \  n. ]; C2 V

, f, M4 `4 s0 q4 n5 W! v至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
作者: andytang    時間: 2008-10-14 09:56 AM
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表 8 l0 a' V4 k8 z( p2 \& ?/ o
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......5 e+ o0 W  n3 z9 w4 L9 ?. B* J

0 l' B% X8 q) P" [1 {至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
$ x6 \$ V4 }6 N8 u2 _$ {9 E* Y9 s
7 W4 G. ~, J& b: \% X
好方法
! w0 W9 ~! g- }2 K1 z1 g1 k& O8 J
可是還是要有人在錄才行
作者: jiming    時間: 2008-10-21 05:26 PM
硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
5 k& O3 I, v8 z5 }3 A1 j+ Y) ~. a2 }: V5 H) K
1． 上升時間和信號完整性
2 N9 n. q$ `7 p5 T2． 傳輸線的種類9 r+ }' ~# L& ^4 E
3． 反射產生原因
; k$ _  \! h! L/ h: ~4． 如何消除反射0 ?3 {% J* {5 v
5． 串擾產生原因% B' [3 g* Q  k! |% _/ M
6． 如何消除串擾7 ]% M& k6 t0 D2 i! E. ?
7． 電源/地噪音的種類/ a2 X% a% T0 b
8． 電源/地噪音的副作用2 [# L( Z8 x/ E3 q% c
9． 如何消除電源/地噪音
9 r( ~. H6 v, ~10． 電源/地模型
作者: bape770101    時間: 2014-12-25 10:53 AM
希望能夠再開課一次   ..............
作者: ESD_ESD    時間: 2015-2-12 04:05 PM
听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
作者: alienwarejian    時間: 2015-5-10 12:20 PM
很好的资料，谢谢楼主的分享！



歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/) Powered by Discuz! X3.2