設計自動化大會(DAC)的小組討論吸引了來自全球最大的EDA用戶的一些代表,談論的重點常常轉向製程可變性(process variability)的影響,但是,設計成本、晶片密度和電源管理也引起了代表們的高度關注。 3 }1 C# }8 A6 V0 t# X/ L" _
在題為“IC奈米競賽(the IC nanometer race)”的討論中,主持人、Mentor Graphics的主席兼執行長Wally Rhines,要求與會者描述「電子產業所面臨的最重要問題」,包括來自意法(ST)、英特爾(Inte)、TI、三星和TSMC的小組代表開始了討論。
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