Chip123 科技應用創新平台

標題: Tektronix 「2006亞洲巡迴研討會」 [打印本頁]
作者: chip123    時間: 2006-10-23 11:15 PM
標題: Tektronix 「2006亞洲巡迴研討會」
Tektronix 「2006亞洲巡迴研討會」，展出新一代先進數位科技的設計與測試解決方案
! t) p, s: w! r$ XTektronix 於9個城市的高科技重鎮主辦年度亞洲巡迴研討會
- x1 r1 Y* t% M$ R
8 {+ M' L8 i4 ?) O（2006 年 10 月23日，台北訊）－ 全球測試、量測及監測儀器領導廠商Tektronix，今天宣佈將於11月30日舉行「2006亞洲巡迴研討會」，主題為「實現新數位世界的創新產品」。研討會中將展示最新的測試、量測及監測解決方案，能讓電子工程師設計、建置、部署及管理新一代技術，以進行高速串列資料、數位視訊及無線通訊應用。
' K9 O/ s1 |! o5 T% T" O) j( H
4 m0 Q- c0 I  t" a: h' K8 G今年，Tektronix將分別在9個城市，包括北京、新竹、上海、台北、深圳、首爾、班加羅爾、吉隆坡、新加坡、成都及西安等區域舉辦巡迴研討會。每場活動為期一天，包含研討會、教學課程及現場展示；會中並提供新興標準及應用之測試/量測的深入教學資訊。研討會將採用論壇形式，由Tektronix各個領域的專家主講，於會中討論通訊、電腦、消費性電子產品及廣播方面的多種量測解決方案。透過這些介紹，參加人員便能更新他們測試與量測方面的技術知識，如高速串列資料 (PCI-Express I/II、SATA I/II、HDMI)、數位系統 (DDR2/3、FB-DIMM及FPGA)、數位 RF (MCPA)、UWB 及 IPTV 等。此外，會場還將舉辦「商品應用展」，展出 Tektronix 與其結盟夥伴的最新測試、量測及監測解決方案。
3 V5 [: W" y  N2 x, W9 X
: V# r" \  v( NTektronix 亞太區行銷協理James Alderton 表示：「從設計到生產，能快速地達到新一代先進數位技術要求而又不失其品質是相當難能可貴的，在「2006亞洲巡迴研討會」中，電子工程師可學習到最新的設計和測試解決方案，以提高他們的生產力及協助他們在面對最複雜的設計和除錯問題時仍能繼續按時間表進行作業。」, R3 U4 ^8 G, J8 }

# J; U) P$ T* f. `  F1 L6 E有超過3,500名在此領域的電子工程師、設計人員和科學家受邀分享他們在電子設計及製造的最先進量測解決方案方面的經驗。' H" W; F( a/ d& |, q( a1 ]
* q! g' t8 L& u3 m
台灣「2006亞洲巡迴研討會」將從11月到12月在下列城市巡迴舉辦：* N5 p" Q- x1 u) }" Z" p3 Q
' ?1 B5 H3 z# Q* r/ }2 M
11月30日 — 新竹
" R! R: d: y. ~7 B' R12月1日 — 台北) y5 t( J7 A* V6 I% b  D
9 F8 V( A4 k1 l
如需有關「2006亞洲巡迴研討會」的詳細資訊和登記細節，請瀏覽各國的Tektronix相關網站：4 Q  e8 E  z5 G) U
台灣：www.tektronix.com.cn/symposium2006



歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://free.vireal.world/chip123_website/innoingbbs/) Powered by Discuz! X3.2