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標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題 [打印本頁]
作者: jiming    時間: 2007-1-8 03:49 PM
標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題
數位RF技術的提升在消費者需求逐漸增加的刺激下，不斷向前邁進，同時也引領無線通訊的快速成長。然而，測試工程師卻面臨許多空前的難題，包括：/ O/ ?- a; ^+ F8 I- r

* m4 g8 v% F  O' g+ N3 n1.數位 RF 訊號承載複雜的調變，' x- v3 o/ @0 X
2.訊號隨時間改變，從此刻就轉變到下一刻、跳頻、爆發、" b8 m4 O( L4 ^
3.訊號發生短暫突波而後消失...) r& y* y6 Q" F2 F
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* k) G$ c; Q8 `, a2 B* n' ^6 E.
% ]3 V  l- p9 u2 p  v0 y.( D4 @. @1 E) M. z- ]: o+ ?( ]1 h
n.互通性持續成為無線世界的重要議題...
. R' D8 n( q6 u# d5 s% |; F; A, ~, L/ E5 G4 m
這些瞬間與時變傳輸技術協助 RF 設備避免干擾並最大化其尖峰功率... 測試工程師，進來交流討論吧?! :o
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數位 RF 的測試儀器不僅需搭配較寬的頻寬，而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取，以及能夠與時域、頻域和調變域完全相關聯。6.2 GHz RSA6106A 和14 GHz RSA6114A 提供110 MHz 的即時頻寬，並同時提供73 dB的無混附訊號(spurious)動態範圍，所以對於各種RF 應用，從先進的蜂巢式無線電的功率放大器，到最新的脈衝雷達訊號等，都能完全符合產品在應用上的需求。
作者: Leo    時間: 2007-1-9 11:14 PM
確實! 對於日益複雜的RF訊號, 一直以來對工程師來說都是嚴苛的挑戰, 小弟也很好奇一個測試工具到底需要具備麼條件? 才能稱的算是"好的"工具., `/ z! n& N" v9 M4 n

+ L: n5 z8 w; C1 ~; L; S& a"速度"算是決勝的關鍵嗎? 還是...
作者: ajay168    時間: 2007-1-11 04:42 PM
個人覺得一般的儀器都能滿足測試特性
) E: U$ X( F) K問題在於整合性問題! D  B/ N8 c5 i" Y- c0 x
個人最近一年在研究使用LABVIEW來做整合
8 |" m9 a- |2 w8 U4 B發現它可以做到的事太多了
" e; T! A: }& l  ~2 f5 r8 W只要擷取一小部份訊號加以運算就可以得到令人滿意的結果; K4 B* s) y- p
當然長時間追中;存檔這都是必備的
5 ~4 ^$ w0 o7 Q! \* S而且它相同的硬體 可以做多變的組合 符合眾多不同樣式型式的產品
" `  u# D. ^% e4 Z. m& w3 N所以囉 個人見解  RD是需要學習labview的 並且精進它
5 D6 n9 z! u+ c" ?# D+ U% Z* K我認識的RD都是很排擠它 因為認為那是現場生產在用的東西 用於研發不夠格% \% p0 w1 j: h0 |& r6 S
以上為個人見解
作者: Leo    時間: 2007-1-11 08:43 PM
標題: 回復 #3 ajay168 的帖子
LabVIEW確實在做儀器量測數據的整合較為簡單, 但是對於大量儀器的整合可能就沒那麼好用了喔! 對於此類的應用, 一般大多使用LabvWindow或是VC...來控制才比較會有系統些
作者: DennyT    時間: 2007-1-15 05:02 PM
標題: 面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
3 c5 T4 S& o4 l4 i/ jLabview還要寫寫修修, 等不及了.
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, m2 i/ ~7 D! c$ Y通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用3 R6 w4 `# l0 t1 E( a" T7 q
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
8 Y# X/ K9 L1 ?2 x1 w& D以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput. ~5 O% M6 C, |  \$ q: M8 q" Y
最大化, 以降低test time overhead.4 B; Q+ F4 W8 u- }4 S% P
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用0 R  |/ ~7 K0 r: i
儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
* z  ^3 L! N/ q& E6 z7 i" T: Y上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.
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而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.* c7 i/ F2 I% N; C
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0 O7 @( ]% l* d0 h& K- x$ j  e至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
( R; d- C2 [; d6 l! k因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了/ r( u4 {3 u  G% p
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,3 w7 B" l' l5 E' s$ d' G
向老闆提預算買solution的事要做了.# f9 u6 n/ k# s1 }3 Q* [! J* y

' U4 l- B. R! U! H8 g2 x- [: ~4 v* `- H而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system2 Z3 {1 r$ `7 a$ U# @
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的0 O! E- v* i8 e0 f! T' I% H! z
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他% Y* p; |# A; j# D6 _
解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了.



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