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標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題 [打印本頁]

作者: jiming    時間: 2007-1-8 03:49 PM
標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題
數位RF技術的提升在消費者需求逐漸增加的刺激下,不斷向前邁進,同時也引領無線通訊的快速成長。然而,測試工程師卻面臨許多空前的難題,包括:/ Q4 u. {- C6 M- ^7 @0 S5 E6 b' l9 X% m

$ y9 f% j5 m- n% y1.數位 RF 訊號承載複雜的調變,% h( P( y6 B" l- m& j
2.訊號隨時間改變,從此刻就轉變到下一刻、跳頻、爆發、( r( Q& m, ]$ U8 {* G' d+ m
3.訊號發生短暫突波而後消失...) k' _, U7 M( E# |5 a
.
: X% E5 j$ k2 f+ {8 d6 c" I.
8 D, j6 C' X  a3 X2 D8 ^1 ^. M0 N.
4 z1 \" F3 D# `) I$ s, ^, L) Yn.互通性持續成為無線世界的重要議題...

) f" H( f# u0 `+ y; ~: P
! A$ F& n$ m' q/ x$ d, K這些瞬間與時變傳輸技術協助 RF 設備避免干擾並最大化其尖峰功率... 測試工程師,進來交流討論吧?! :o
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! N1 d- N/ T- K; q) N" u( Y) _" c3 \數位 RF 的測試儀器不僅需搭配較寬的頻寬,而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取,以及能夠與時域、頻域和調變域完全相關聯。6.2 GHz RSA6106A 和14 GHz RSA6114A 提供110 MHz 的即時頻寬,並同時提供73 dB的無混附訊號(spurious)動態範圍,所以對於各種RF 應用,從先進的蜂巢式無線電的功率放大器,到最新的脈衝雷達訊號等,都能完全符合產品在應用上的需求。
作者: Leo    時間: 2007-1-9 11:14 PM
確實! 對於日益複雜的RF訊號, 一直以來對工程師來說都是嚴苛的挑戰, 小弟也很好奇一個測試工具到底需要具備麼條件? 才能稱的算是"好的"工具.
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3 V' f9 Z" l) x4 T& ?2 \: ?% i"速度"算是決勝的關鍵嗎? 還是...
作者: ajay168    時間: 2007-1-11 04:42 PM
個人覺得一般的儀器都能滿足測試特性
( p1 R5 V5 H7 Z問題在於整合性問題
5 m. c! m2 ?0 H1 }5 H* F* d( m個人最近一年在研究使用LABVIEW來做整合
6 h7 v0 U) q4 J) P# ^. Q3 V發現它可以做到的事太多了! r! v. O) T! U' U( ~% D
只要擷取一小部份訊號加以運算就可以得到令人滿意的結果! \( l3 F7 c: ]
當然長時間追中;存檔這都是必備的
; }/ X5 Q: a5 X" P! ?而且它相同的硬體 可以做多變的組合 符合眾多不同樣式型式的產品7 G9 ~& Y& {' {2 V
所以囉 個人見解  RD是需要學習labview的 並且精進它
/ r! K( t, z7 |5 F; E6 O9 D0 W我認識的RD都是很排擠它 因為認為那是現場生產在用的東西 用於研發不夠格
; U5 @& h1 E/ ~. h, u6 }以上為個人見解
作者: Leo    時間: 2007-1-11 08:43 PM
標題: 回復 #3 ajay168 的帖子
LabVIEW確實在做儀器量測數據的整合較為簡單, 但是對於大量儀器的整合可能就沒那麼好用了喔! 對於此類的應用, 一般大多使用LabvWindow或是VC...來控制才比較會有系統些
作者: DennyT    時間: 2007-1-15 05:02 PM
標題: 面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
. H9 _+ T+ L/ F2 `% M, {4 _. K9 _Labview還要寫寫修修, 等不及了.1 p6 E$ w3 Q0 Z1 i/ Z% l
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通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
% p0 m/ i3 g1 k' n* z2 D3 c控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
: z$ o" o( ^. a9 _( L- g. g以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput0 {- `% }9 m+ p" O
最大化, 以降低test time overhead.
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5 r8 s$ c% K+ n* q# J8 m# q+ YLabview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
  _, R9 M8 k/ Y  P, j儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
7 t5 W: U1 H7 H, B上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.4 l$ _! W3 g, Y

$ e6 v5 W6 h* R; q' M1 Z而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.
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7 C# ?; b; M) T3 Q至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
8 f, @4 P1 t0 ~2 n因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
: r. G0 h% t- b7 p# bsolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,: h; L. k" a* Z8 S4 p3 n/ V7 v
向老闆提預算買solution的事要做了.+ ?) x3 h$ m3 ]% S( M) e
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而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system* g1 C: o" g* S+ T9 j
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的6 B; y1 A4 D% D1 Z, G7 F5 C, L
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
5 e+ ^4 c, O3 M+ B: A( y) q解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了.




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