標題: Synopsys捐贈Variation-Aware Extension技術給IEEE [打印本頁] 作者: jiming 時間: 2007-3-8 10:31 AM 標題: Synopsys捐贈Variation-Aware Extension技術給IEEE 國際電機電子工程學會（IEEE）的1481工作小組最近通過新思科技（Synopsys）的一項提案，針對 IEEE所採用的標準寄生交換格式（Standard Parasitic Exchange Format, SPEF），Synopsys捐贈重要技術以擴充SPEF功能，此舉將協助設計業者有效因應65奈米或更先進製程中，常遇到的製程與溫度變異等問題。 6 c: a/ K* _: i
; S% x$ P; C. z: ^5 x! x% S/ R 在這項提案中，Synopsys將提供一項互通的介面（common medium），以便不同的EDA工具之間，也能傳遞重要而敏感的寄生訊息（sensitivity-based parasitic information），同時Synopsys提供的key extensions，也可精準而確切地表達出先進製程中所需的互連寄生敏感度訊息（interconnect parasitic sensitivity information），強化現有的IEEE standard 1481-1999之SPEF功能。 在1481工作小組通過後，IEEE的Standard Board 可望於近期內投票，以決定將此次Synopsys所提供的SPEF extension，正式納入SPEF標準(standard)當中。 ! c, r% u; b! n5 X E2 s+ O7 N ( y. _3 w7 w* `+ @ 科技應用產品逐漸走向輕、薄、短、小，對IC設計者的挑戰也日益增加，尤其在互連架構中常遭遇的隨機製程變異，如何能精確而有效的建立模型（modeling），已成為設計過程中必要的程序。析出（extraction）與分析（analysis）工具使用統計技術（statistical techniques）來建立模型，而針對物理與電子流程中之參數（physical and electrical process parameters）相關的互連寄生（interconnect parasitics）需要具有高敏感，才能有效而精確地進行統計分析。# u7 Q% a N' @3 m9 R$ L* x; k
) {( N. W2 J) J. o9 u9 i 制定一套以敏感度為基礎的SPEF格式標準（A standard sensitivity-based SPEF format），可協助寄生析出（parasitic extraction）設計工具，建立具寄生面值（nominal values）的排線表列（netlist），並且對互連變異參數（interconnect process parameters）高度敏感，因而可以更為容易地供分析、模擬，及實作執行（implementation）等方面的工具讀取。- i) \8 `, ?3 p+ D4 ^