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標題: 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望 [打印本頁]
作者: jiming    時間: 2007-7-5 08:02 AM
標題: 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師
  K, ~# s. ]6 j9 r- J/ Zhttp://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
4 l$ {# T1 a/ `3 }一、前五大封裝廠商排名/ j, R  y4 K# N  K) p
2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同，前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右，其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商，特別著重在DDRII的產能擴充，2006年台灣新增的DDRII測試產能中，約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力，主要在於南茂因應客戶在DDRII及Flash的產能需求，全年投入4.6億美元的資本支出因應，因此2006年營收也有相當不錯的表現。6 @5 P  p9 l" U
表一 台灣前五大測試廠商
7 G. `, z7 V4 R* J# A: C' h& q
2005排名

; }  }: N! T  ]
2006排名

# P( `& K0 [- s* p8 H9 w5 _
公司名稱

3 H- r4 _5 v. f& t* Q. [' o% |1 p0 c0 D
2005營收
7 O- ?' a5 {0 \8 m  N8 H
(億新台幣)
/ ^8 _( w- `# s$ u. P: i7 j: A
2006營收

8 b' g$ L0 A; l  i
(億新台幣)
  R5 J, h8 ]+ i! \( I* c
成長率(%)
% c0 n4 H$ s+ ]* ~4 M" c6 Q
1
& G. l3 K% u8 Z1 D( _
1

3 T" q) i& ]: x0 a3 a
日月光集團*

( u4 ?" \* ^$ J* e" E
172.0

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214.3
1 ~- @, c/ {% U7 Z
24.6

0 W. L) m0 _; S1 W, k
2

6 u! o, [3 H% l( `* L3 |; M% |: w
2
; f4 m1 j  e5 E5 P
京元電子

9 a: |- O& d0 o3 T
99.5

2 F: s+ Y' d& y$ B5 U1 F
129.0

8 P1 P% ^3 v. n
29.6
0 L: n. c$ f/ S4 g
3
9 C  g8 h( _& B$ K( N
3
$ C  P$ g- n: N  F5 }0 @
力成科技

  A. m0 S& G0 z- t
77.7
; R8 ^. t1 m$ p- ?" }1 M) n' s, y
110.3

& I$ e8 |* a) r
42.0
! _2 M- k$ Q$ R' b, f4 I
4
4 S! A% I! v0 h& R" V
4

# t1 \; b& x# T7 i
南茂科技

/ ]# w( K; ]$ p
58.8
. Y! ^, z7 `3 O% o+ G( Y
92.5
0 M) @6 L4 R9 D3 D
57.3

7 W# r! o  t. S
5
* Y4 U# ^/ z) `& k8 t5 v! b
5
& [, ~' A; _; r# y
矽品精密
/ S' z. a8 `; g! D$ ]
43.0

, D4 n" O3 o& F7 @! u# F" C  G
56.4

) Z1 m, \4 e6 d7 }
31.1

. \1 m& q) }9 t3 g  e" [4 |) _( z
資料來源：工研院IEK(2007/03)4 n* C4 }' w* ^
. Y+ q0 @9 O4 j4 N
二、重要趨勢
6 {" N8 v& S' R. z( M/ K由於SiP日漸受到重視，而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good Die；KGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後，未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in Testing；WLBI))者。
# U% I6 T! z: z% ^' J4 S為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢？這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時，其中若有一顆IC有瑕疵，就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題，其良率為100%，若單一顆IC的良率為90%，利用此相同良率的5顆IC製成SiP時，則此SiP的良率將只有59%，在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率，良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。- f/ m/ }- M3 X/ r
$ U' i/ ?; r- |) U' W
三、未來展望6 r- N' m8 O# j$ x. h2 L8 b2 P
記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成，換言之，記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言，預料Vistia作業系統將開始慢慢普及，PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增，直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外，各式手持式電子商品的普及，以及具備各種需要儲存功能之產品問世，個人隨身儲存需求容量愈來愈高，2007年Flash的測試需求將有增無減。
' m& S9 d, c% x$ {7 k( o  x$ Q2007年台灣測試廠商擴產規模及速度，將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起，記憶體測試產能即呈供不應求之現象，因此，除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外，包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商，也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果，雖不至於出現測試產能供過於求的現象，但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。2 N4 m1 S/ f! A6 ]- F
總而言之，2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現，但相較於2006年近四成之成長，2007年成長將會稍為回緩，工研院IEK預估，2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣，成長率為11.4%。
1 D, T' \: {) C9 r* m



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