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[問題求助] poly fuse 的問題

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1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對... $ N! }) t# c! @9 m4 K$ C* e' `- _7 Z

9 R1 B( L/ \8 B( Q, s想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..
" r/ U& H% Q. x; q一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產, " G8 w  r' I/ g* j2 G+ s# m" n
poly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個/ g' T$ A5 e" B/ h# D
lot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
, }7 ]% y5 W4 m5 T4 q+ K4 d) ?4 j+ ]8 `* o* E- U- y% o: W7 @4 M5 L; R
目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說..., f/ B# v* A+ [

0 i# U3 W% N1 j; e先感謝前輩們的分享..
8 p) G, P- L) V6 i! O4 X* R  v) o1 U5 y1 T# O' D# D
以下是 Fuse & Trim 的相關討論:
" {% J( n  b. ce-fuse?  
/ j4 F5 N+ j) s# r6 H8 f3 ?poly fuse 大約多少能量便可以燒斷?
! o/ O. d6 T" F; h5 e2 F如何判断poly fuse 已经blown  # J# C. s) @: C
有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  
! S3 n  D0 i, l  \8 qLaser Trim / a  i% J5 Z+ B- H6 L, K* w
做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  
% W. q3 J! O: f* gTrimming method?   9 }$ X9 G1 ]: U: ?" z
Current Sensing Resistor Trimming!!   
, b8 R1 J& W/ t' T0 s( J, z- C请教做laser trim的注意事项  
' ^: A" i( ?5 Y" h& d) CCurrent trimming 要如何做呢?  " r* p& p" |6 b* o: i+ F9 O
8 l1 W! H+ ?7 z( A. M1 ~
1 f  v* G8 e9 _) [! \1 @: b

! W' e8 _0 _2 @' D% _! a
3 Q/ N  N& ~6 E0 j$ I1 R[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

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monkeybad + 3 Good question!

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2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?; H  r) u5 X) r+ P
2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!8 H- m7 F0 [9 l1 a6 F
結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

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wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
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4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...4 K" q: g" j. f! C
我看到的fuse 很少有用poly fuse3 Z: k3 t4 `. q; `7 `8 n
通常是用metal fuse...
" l+ U7 m* T. J我以前看過有使用poly fuse3 [* _; R5 ~8 q5 k7 a
1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)& M6 c9 ]- e( N8 e9 v& z0 h) ~
大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷
, _* q4 G3 n+ c1 R6 E. z有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)
$ E6 s$ ?9 j+ [, Y" e6 A, o發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了
; [9 o" c4 P# z- I, r才發現到layout 的形狀也是蠻重要的2 z: J: m5 ^6 s
最好要有轉角(電流集中)/ [+ M7 w) y% g1 B( D9 j
2.fuse 的地方通常會開window6 D( A0 F& e3 {2 b  r
......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???1 L  C( J5 y& r2 n& |6 l
目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........
9 M% z" `) g" v! h* Y
* r/ K# I* z8 ?7 Z  @% Q, H: r以上是實際的經歷,僅共參考

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skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..
/ f6 }: A0 P% h: U& o+ b
# E* |# w- ?) a4 o0 Q) g" d關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...)
2 X7 u2 n4 e& W. f- Q, ^' V# C% J& E3 n/ G4 j5 Z
不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...$ l- \- ~1 g; F- V6 M- T& g
4 r5 `& W; u/ r7 M, c
另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...4 g2 L9 [+ H2 t

4 E  ]1 A* q) Y2 ?不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??: I0 ^3 M7 ?0 T6 v
# S, b9 z7 G6 U8 Y$ u$ r- Q  s
另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )" g# u" h# W- v/ e' N& Y
1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..
5 H, H6 r1 B9 w0 I/ k" k8 a6 z; @( k1 w+ @9 x. R! j
2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

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mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

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6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法
7 p; }: ^6 U  T! Y' u8 k+ [   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)9 y8 n9 k* i3 {
   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確
5 }% x0 y$ E1 q$ ^( |6 o8 l$ ]2 _   但是工程樣品的數據大約 80% .
- I# c/ L* K2 [" B+ N  S
1 D  d4 l: s( u2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷  y0 N  r; X2 j3 `3 I' J3 D, @; ]" L
   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去3 o$ g9 e1 C1 f% H, s& Z4 [" G
: H7 G, X" ?/ n" `7 n9 q% ?
3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人)6 L: H0 Y! X! n7 {
   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....
0 \7 Q  ]1 J# s4 _* W0 j8 V! O7 p- [* u9 k+ L( _: k- j
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
2 T) Y9 g3 t/ v' |9 G   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......4 q4 a7 o$ u- n" a9 |
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
9 y% [9 P/ |& B' X# D   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),
9 E/ e! M+ M3 q3 I( x& u   面積當然省啦.....
1 u* q( ~  s" s" E5 p   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
2 d- j4 S* G) [: D- M   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給
  }/ S% |9 X3 u   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

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參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

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7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

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wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

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8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?
* n) _5 }- W7 L& L2 @% N" l) ~Thanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表
9 K( N# W; Y; e* e4 D+ K4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考( L/ X' Q$ ^" X2 o$ P, i
   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是......." M) y& h  x  v+ R
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的, H7 I6 H3 b, _* J0 R# v! F! S) K+ k  P
   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),
9 C# x" ^( ?1 w- l- n   面積當然省啦.....1 N" O1 Y" @! m6 R5 w) ?! H8 I4 ]
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
0 u& U7 E; E5 t   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給* d( w9 H4 N9 _* K0 T- V
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看...9 ~& ~3 ?# N+ ^3 Q
& m; d, P9 }* [+ y6 \3 R+ ]
9 r. l1 ~# ]  \* V
看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法.... Y  |1 _0 h1 ^- |' v
嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心
+ Y) A# }5 p& O  u7 \' K水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..)3 N+ L+ G5 j7 W% Z, C' \/ y1 k
2 |9 b$ f) n6 @, C8 i3 n( Z
不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...- p* K3 v3 `% o
手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...6 F" G" t) ^9 @2 T$ I6 |
呵呵...
+ y# c: N% H: _8 d7 k5 o: ~' w( h2 u
順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目
7 G1 Z- [% ]% {: u就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手 3 H6 T3 B7 W1 Y1 v- r
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?# t9 V! q! z, Y- z- m: ]7 V4 C
謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表 $ [* V# A# Q7 o  W/ V5 \
請問 各位高手
. Z+ s; @( ^- d* x8 c( x6 B+ n   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?4 }2 c- m5 G, E* b9 M1 V
謝謝

' `) p9 b7 o0 [8 ~4 ]! k  K$ q- e+ [$ I
您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號  F2 l: i+ A+ [6 |4 z- Z: @
又可以用來 trim fuse??
: d  t( _* R! @; F
$ f, D6 p$ s, g$ L  K如果是後者應該是不行的吧....( G# N6 \* v4 t( O' j  A
如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的3 n/ W) y) Q( S
電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...
* B0 B3 K" M8 W7 m9 x% J* k9 O; K: W& O5 T/ t
不知道是否有回答您的問題.......

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12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!
# i0 S% B9 F' s# T( _$ A  [7 W! M最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言..... $ R8 D7 G" z7 D( {8 R/ d
不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?
" x/ N# A9 h3 q# {$ ?先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題
" H6 S# ]. N* Q7 \* K7 \$ Z, Z, T7 {  M+ [$ t. U5 m, \+ l5 m9 z
我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的: T; O) z9 s  ]* O3 u; J9 r
% w2 J% Z7 J+ o- k. ^
也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的+ ]; t/ I5 K' Y# o

7 _0 u9 v( i4 Q- @6 l# f[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),4 r) M! A/ n2 x& `$ ^# o- y
還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1
' H. T2 U8 P5 Y! k  N. V! n* m' r  b' k* t4 \' t6 N' A& V

' V$ y  v5 d) `! j; M5 ~) ?    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777
4 J3 ?6 q" C' n4 _- C
  U$ c7 B4 j+ y9 s+ A* V& K) b( R2 P* p2 d  M2 G; v& M
    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM$ q5 a3 \$ X+ U6 D9 I/ c( X; o
poly fuse ...
7 y& [6 k9 R3 g5 ^' b' y% i我看到的fuse 很少有用poly fuse5 R8 I, l9 I5 C* q; c9 y
通常是用metal fuse...

8 d: n$ ^8 i* q8 K+ c9 w! s" i- U' z% A6 U- J8 U' b5 T
5 Y( t# K" @$ y
很有用的經驗, 感謝分享..

/ s& A' O8 [0 J
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!; t8 y: @- E9 v; Y3 y
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