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諾發系統發表3-D半導體整合之銅矽穿孔(TSV) 共同研發專案 / |' G+ w4 f) }' @
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(20100401 14:49:11)諾發系統日前宣佈與IBM成立共同研究專案,將利用諾發之電鍍銅SABRE與電漿輔助化學氣相沉積VECTOR系統,設計出可製造3-D半導體銅矽穿孔(TSV)之製程,該新製程將可應用於小體積與低耗電的3-D整合產品。. c; m+ u% S5 {1 ^- p9 x
2 `# r, s, m# a v# g- K5 {使用TSV技術將半導體工業推往3-D整合是一股強烈的趨勢,將多種元件堆疊成類似三明治結構與用銅孔連接所有導電層,此技術增加了電路密度並使最終元件變小,透過每個元件間較短的連接長度,進而增加元件速度與較低的電力消耗,堆疊的結構也允許多種特定功能元件的組合,包含利用非同質性的整合,以符合現今不斷縮小之電子產品的需求,如手機、PDA及筆記型電腦,然而,對於整合TSV到半導體製程,以至於新結構需同時俱有高可靠度與低製造成本上,仍面臨數個重要挑戰。其一是於極深的高長寬比結構之無洞填充時,降低過多的銅沉積或承載,承載厚度會隨著TSV的形態而改變;另一個挑戰則需要低溫沉積介電薄膜的能力,如此一來,在TSV的製造流程中,晶片上熱預算才不至於超過標準。 |
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