12/19標準檢驗局委辦計畫--提升競爭技術成果說明會

chip123

國家度量衡標準實驗室運作計畫
--國家級實驗室體系簡介
0 w9 _2 V& G4 ^$ X0 o% Z7 H--FY96技術成果說明
--FY97未來技術推展

影像顯示產業標準與檢測規範推展計畫
, p* L7 M  r: y$ o6 r2 t; b
奈米技術計量標準計畫
7 m) O$ W1 w# |2 j, k--尺寸參數量測追溯
2 |+ ^8 q* N! X--力學性質量測追溯
* Z& c0 |  L% d) l6 n, W* |6 i--微流量測標準技術
; Q4 k1 H: x# O4 f7 t* K
- \! h: `1 e/ F/ y: O1 k. ~; C) @6 K0 n計量驗證與創新應用技術介紹
( a5 u4 V4 q6 O7 U
+ }( D+ |" i; `' _) @5 y4 E, c�時間：96年12月19日(星期三) 下午13:30~16:30
�地點：新竹市光復路二段321號17館國際會議廳
�報名手續：請會前報名 (前50名贈送量測資訊雙月刊)
. z3 l, a) ]5 R6 w" t; r( M- m1.費用：免費，先知、先用、先贏，名額有限，報名從速。
2.填妥報名表自即日起至12月17日前(額滿截止)傳真(03)572-0621或e-mail：judyking@itri.org.tw ，並請準時出席。
( j+ k/ s" p* f+ s/ l0 j3.聯絡人：工研院量測中心 企推組 金娟如小姐 洽詢電話：(03)574-3816