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[創新研發] 電子電路板檢修技術與檢修儀器的演變

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發表於 2007-3-22 15:36:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
儀測技術月刊
4 R' u8 r* V1 Z! \& j9 _2 Q
http://www.pic.com.tw/layout/zh-tw/news/detail.asp?gid=15&nid=81
2 T$ V: h% C( D9 x' o/ Y9 d/ a" C" s  [, A' g3 Q# _
電子電路板檢修技術與檢修儀器的演變, w4 S( A4 c4 [7 Q5 H+ Q! B

. s! T4 {( C' Q/ T) H
7 r. x% o& F: D9 }7 P; ^* t   
" k% c* }+ G7 e( a; q, h1 B, X* g3 }
" _8 G4 p8 D+ S( n- L1 N" g0 F2 j    電子電路板的檢修技術在電子界中是相當獨特的一環,有別於一般的研發、品管及應用電子的技術,不但要有一定程度的專業知識,而且,要能結合實際的量測技術及故障現象的分析能力。
1 b6 J- M) }2 w. ^# E: V: h6 a7 F( B, U5 \  g1 k8 ]
) G3 p. ]9 z2 C# k* _
    成立於西元1983年的ABI電子公司,坐落在英格蘭東北的約克郡。在初期,公司本身是設計及生產積體電路( IC )元件測試設備為主,而目前主要的產品為全功能電路板檢測設備( BoardMaster8000-Plus)、小型類比/數位積體元件測試器及一般工程師都用得到的多功能檢測儀表( CircuitMaster 4000M)。ABI電子公司到目前為止在維修的市場中已有23年的歷史,其產品的設計方向在協助維修工程師,快速及準確的得到故障電路板上的信號,並進一步提供工程師其故障元件的量測結果。4 ]+ T4 e- x2 I( I
 
5 I+ \/ }" D' o  |4 X8 |: F+ T$ v6 J( `- L- U$ ^7 A
 ( S# ~; d  v% ?, d- {3 T; R
△ 多功能檢測儀表 ( CircuitMaster 4000M )/ I2 u; G5 n5 X: X6 X4 g* ^

/ O6 b+ M7 i; u2 d  i" t9 b; [: {. I5 a5 I) D& o1 W8 i
    一般來說,工程師最常使用的測試儀器就是三用電表( Multi-meter),而再搭配示波器後應該就能開始檢修電路板的工作了,若遇到一些比較因難的檢測電路或元件,就可能需要其它的儀器設備,如: 信號產生器,電源供應器等…。在電子檢測工作所使用的檢測儀表,一般來說,都是用於提供工程師在電路板上的電氣信號(電壓、電流或電阻值等…)。但一種儀表就只能提供一種電氣訊息,像在使用三用電表時,所能讀取到的就只是電氣信號的數值而已,不可能同時檢測到其電氣信號的波形,在使用信號產生器時,若要同時監看輸出及回授的波形,往往要連接到另一台示波器來監看,在檢測上不但麻煩而且也很花時間。3 r0 @4 k6 P/ e; B
 
9 s9 s6 x) |+ V5 [# U        6 m  c; W- m8 }& H- G

% J8 b- ?, \' D+ A8 D3 Y    ABI 公司所設計的多功能檢測儀表 ( CircuitMaster 4000M),內部結合了多種量測儀表的功能,並增加了特殊且實用的量測功能,可以應用於檢測目前電路板的特性,接下來會以實際的電路實例或實際應用來說明。
7 ]9 H2 N* E, l4 C7 h8 u+ z, F ; U3 [2 V" I8 |9 r! `
) h$ Z% u$ P$ T; s
    在右圖的基本邏輯電路圖中,在標示為1~7的量測點中,若使用電壓表來作電壓值的量測,理論上在各點能得到的電壓值為 :
* ^; N' ~/ @( `
( {9 r/ h; X% m3 s8 C0 D: ^) }    * 1 量測值為 5 Volts9 s; B, |7 U. e3 K5 r. m3 \# a
    * 2 量測值接近5 Volts
$ L9 k4 @! o; _6 ~( ]4 {& ]    * 3 量測值接近5 Volts, N& K9 T0 o, [; B
    * 4 量測值接近0 Volts
7 `' S' `* b' V3 a1 y    * 5 無法判斷 (空接)( a; z: V/ U6 l- r' p
    * 6 量測值接近0 Volts
! \9 w+ M* U' k. |4 R' c1 C5 R0 o1 l    * 7 量測值為0 Volts
( Q, A' T( T$ c1 X/ |: q6 t5 J6 P7 `
在CircuitMaster 4000M中的FirmFlex功能可以明顯的區分出上述的各種狀況的訊息。
' M3 ]4 \! s5 V+ ^# b
2 ^6 C& r( E: o/ D* m   a+ b6 U; O0 r( y6 W( F
       
* s; T$ w) Q4 X8 G
, ]3 Z& S/ _) h  ?; K以下為各量測點為利用FirmFlex功能所量測出來的結果圖形。: C; T: {/ t# i+ ]5 Q. M9 }
 
9 s/ b2 C$ {& m* {$ G& P) j' A" T' _& ]$ t- ^
    利用FirmFlex功能所量測的結果可分為三部份,一為量測信號的電壓值(此部份功能可自由外加另外的32種內建參數值),第二部份為所檢測到的信號波形,最後為量測點的信號強弱表示( 以畫面的背景顏色來區分 )
  l. j! b+ J& V       
( o) x, D. R$ R5 N! d    依照上面所述,此功能最主要是可同時提供量測點的電壓值、信號波形及信號強度三種訊息給操作的工程師來分析。基於這三種資訊,工程師可輕易的量測及分辦下列故障情形:. @6 j! ^, P. ~  e; E% M' R
2 A; p  W# l4 i; d8 x# ?4 b
   1. 電路板上的電阻變化:
$ J- W* y* x9 Y" V3 C      一般來說,要量測電路板上電阻的阻值,只有在靜態的情形,且要將電阻拆離電路板上才可以量測。在”FirmFlex”功能之下,在動態的情形可以量測此電阻在電路板的狀態,也可一併量測出同一串聯迴路的阻抗變化。1 ~9 m; @1 Z, N/ Y4 _( ~: W
   2. 高阻抗元件及接點量測:
; z  q' W; I4 V1 Y- U4 P      要量測高阻抗元件或帶電的接點,通常需要額外的量測儀器,或將其元件作隔離量測,在”FirmFlex”功能之下,可量測高阻抗元件的輸出推動能力,在控制接點的量測上,可在帶電的情況作功能上的測試。
% d% Q% ?: y- Q$ k/ h% V6 ]3 ?5 A+ R# `   3. 判別”開路”、”邏輯位準Low”、”Pulled Low”及”短路”這四種情形:
+ d  A4 ]2 ]+ S& ?6 B      開路在電表或示波器所量測到的結果,會是0V的數值。# z9 s: J4 |. p' y6 e
      邏輯位準Low用電表量測會得到接近0V的數值。
2 M( w7 _3 B! O! j2 z" a+ P      “Pulled Low”是指在量測點在電路上,與共地點只有一電阻相接,此點在用電表量測,所得到也會是0V的數值。
0 O) L2 e8 J$ D5 Z' z2 A      短路的情形在電表上量測也會得到0V的數值。
; c6 ^. ]' @4 H. p: o      根據(圖一)所示,在量測點 4、5、6、7上可輕易的分辦出上述的情形,在”FirmFlex”功能之下,其結果會有很大的不同,而相同的情況,若是在Vcc為基準點時,會變化的只有量測數值及信號波形,其量測點的推動能力是不會多大的變 化。+ }: O, h6 g" M# U( Z! Q& b
   4. 直流信號的量測:
8 N, S4 {+ ~2 c$ Q, r      n 一般使用電表來量測直流信號時,無法確認其直流的波形( 漣波 )。
, U" s: S3 q3 ^0 ?' O      n 若使用示波器來量測直流信號時,其示波器的精度不足會造成量測的誤差過大的問題。
. l4 W( r2 A6 w1 [      綜合可提供量測點的電壓值、信號波形及量測點的信號強度三種訊息,可方便及簡單的量測到被測點的電氣狀態。' I0 y0 f: ?2 o0 O, R3 U
       
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