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9/29 工研院資通所「3D IC技術及標準研討會」

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發表於 2010-9-12 07:53:16 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
指導單位:經濟部工業局 ) a" \! j9 A3 _  t
主辦單位:工業技術研究院資訊與通訊研究所 . y5 P4 T, }; g
協辦單位:先進堆疊系統與應用研發聯盟(Ad-STAC),國際半導體設備材料產業協會(SEMI),台灣半導體產業協會 (TSIA)
* F" ^: `% r. Q$ v; W; h舉辦地點: (新竹) 工業技術研究院 新竹縣竹東鎮中興路四段195號9館010會議室
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近年來消費性產品應用功能的複雜度急速增加,如照像功能、網路、多媒體應用的興起,手機輕薄短小的需求,均帶動晶片封裝技術快速的由平面轉進立體堆疊技術。而近年來引起產學研各界關注的3D IC技術,則挾帶薄型、低系統成本、高效能,且容許高度異質晶片整合等優勢,可望成為下一世代封裝技術趨勢。然我國廠商卻因在國外標準組織著墨不多,除無法取得技術發展重要資訊外,也喪失規格訂定的主導權;大部分關鍵IP均掌握在國際廠商手中,經常面臨國外廠商智財掣肘,在新產品開發上需支付高額權利金,影響我國廠商的營運成本、市場開發以及國際競爭力。有鑑於此,工業技術研究院資通所邀請多位講師,針對我國在3D IC技術前進國際組織,參與制定標準的規劃及展望,並對3D IC技術進行實際探討分享與互動交流。 5 [6 @( D7 L$ U5 D! O: D/ A
1 A7 ]% U6 D; g5 q7 [
課程表:
: [* Z/ H3 _3 d% T" }5 `6 h13:00~13:30 報到 , q6 \, S/ K! y6 W3 c
13:30~13:35 開場致詞 工研院資通所 吳文慶組長 8 }4 D, V7 M+ I+ h+ M8 W6 g0 W
13:35~14:05 SEMI 國際產業技術標準介紹. 國際半體體設備材料產業協會 黃敏良經理 + l$ }' @2 B& T: A0 P4 N
14:05~14:45 從JEDEC 標準看3D IC可靠度 南台科技大學 唐經洲教授 1 \9 k9 ?  @( p+ Z% ]
14:45~15:05 Break 1 a8 x! L2 m" {3 j# U2 E
15:05~15:45 Extensions of Current Test Standards for 3D ICs 中央大學 李進福教授
% R+ N9 B1 G" {/ w/ b6 o15:45~16:25 Design Challenges of 3D ICs 美國賓州州立大學 謝源教授 4 J/ A7 O. ~) y& o
16:25~16:40 Q & A + O9 q4 F: {- p! h6 z% h" ]
8 X/ O' X' P( |4 A+ F; S: I
名額:100位
. P+ |9 h9 J* R4 J, m6 v" @費用: 免費
  D3 B1 H: H+ P. W報名方式: 線上報名 ! ?: c3 S# }  G" D: j
報名截止: 額滿為止
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