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活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010& G5 p( Z7 {# w0 e4 I3 a( L
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2 }, ] ~. u0 e% ~半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。
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9 }1 u, a, _7 U4 i U* W本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。5 `9 D) O8 R4 J
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活動焦點:$ j. z9 F2 g* L: I& l
#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢6 J6 U' \' f2 W. _( L$ n# c
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術0 U% |% A, o! @/ a h) B/ F; j
#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容
+ M. x. o" e# f: q% }, r#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案 [, m% T6 c9 j3 ~7 b1 L J+ j
邀請對象:
7 U, ]: ~! {; P' d0 X" t# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
& k; U2 |. l6 ]3 p/ ]7 D4 i* V#IC 設計公司驗證 / 測試工程師
* ]) t0 s3 A2 _9 @2 b# D#IC 測試廠測試研發工程師
5 H) K+ ?8 p/ E# b#半導體測試系統設計 / 開發工程師' ^- }) N" O- c1 O5 L8 H
#ATE 設計 / 開發工程師
: W2 V ?5 S7 s- \% T#模組 / 系統測試研發工程師
& A& E7 W# g7 g#RF 測試工程師8 z; Y9 D5 ]* h6 M# G
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師- C3 u) C; ]- Z& J5 S" D0 v6 J
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3 Y3 M9 L8 u/ n# J J0 ~' C) x z, Z詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)
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5 ~% t8 i0 o: Z有需要半導體訊號量測.驗證.測試.RF平台建立的工程師千萬不能錯過!!!!! |
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