逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
% y4 ]) z0 W. @$ A(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
  b4 x- L1 j& c2 I- q6 K' _! x; ~         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
: b+ [& F  G  d+ v8 C; M# h         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
/ m3 y/ h" j) k6 ^; a  g(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
% ^5 R3 _9 G; q* h" q         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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1 u) a4 X! ]$ Q) v* l  ]主辦單位：經濟部標準檢驗局
0 q+ k$ f6 u) e承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
! [5 ~& v3 J% t* U# I* y洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
/ q. G0 M. S4 ]; X$ V' O+ T% ^97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9 r5 d/ |( V" Z; v% \" |' O9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
* @6 Z. I  D; R) p% U主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
/ m0 H, i; q% @, p! Y內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
% n! @6 q! c% q; `$ O' y2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
0 ?; a8 Z: b& X' l3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
6 P( S- D1 I6 y+ q0 U6 H  y- Power Distribution System (PDS) Design
9 Q8 I1 g: L% B' q# p/ I% o4 O5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
- G/ Q- z8 j3 Y4 v( S; S9 s
5 o/ f9 q- z# G1 V9 {
97年11月04日 (星期二)

9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
0 k, k0 q: [  f% W$ |& S( \電磁模擬範例分析
* O. a3 s* l( p' k8 X2 a" s7 v6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
6 x& L$ O+ \! w1 ^1 M•        WBFC Modeling and Simulation
% o- G8 j# ^" m•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
$ S/ G' D) {6 ?" H8 R1 G- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
) M! F. [5 S5 C; \4 A$ y+ k- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
+ T# ]! x9 V' E  w6 S. l: N/ V$ K�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
# v, D+ Y1 }. x5 x7 h/ V. o�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
% q3 v8 r( A4 W: r8. EMC design trend for chip-level
0 {3 g* ^2 ~( [/ e% V$ K  C97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
" p( w. V7 x; x+ P: M內容包含:
- e" m- g. s9 F8 Q+ F, |9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
! o+ T% {" ]' a9 Y- F11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
) ^( n$ `+ U4 q3 Z' q9 _- i5 T12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
; v2 {) ?9 Y, l' ^- x( F•        Limitations of Present Methodologies
4 b4 ?+ _& s3 y•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
9 V# C: N- T1 {" N* l•        Production-level Process Integrity Monitoring
& z$ C! V2 W, A9 r  N 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

$ X3 h$ h) f9 `1 `/ \8 l
0 h; X+ }/ N" R6 }* {好方法

0 u  {, `* K" p$ K9 l, j可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
8 P5 A/ `% ]% c7 }
$ z( |  A/ E! G5 T/ J1． 上升時間和信號完整性
4 w: t& a! m, l+ P5 X! m2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
' E4 ~# M. A5 Z; M7 _9 k/ M0 T6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
( K+ @% Q. Q" G! p' [1 I9． 如何消除電源/地噪音
$ v0 y$ L' H  e+ x10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！