KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
/ _4 b" p. z" q' L$ w& N4 \提供業界最快最簡易的I-V特性分析
4 n9 ^: F* J$ O; c: g6 N3 n9 I: J
台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments; NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單,且具備卓越的量測效能及彈性,能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊,請瀏覽:
https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
1 E# V s- x* M/ ?9 u4 ]. R K3 |6 a
2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
3 q0 m8 Z! P" F
2600A系列在硬體和軟體上都有了改善,不僅支援桌上型的單通道測試;也支援多通道的測試系統:
3 U3 h, U+ j" S; `# F
.領先業界的最快測試速度以及採樣速率
9 z+ D" c! ]7 S; Y" x$ P* z.幾乎無上限的通道擴充能力
% {$ E* c5 h6 ^+ P! O4 r& n.先進的平行測試能力
" L$ R7 H g. ] M& r; H.獨特的A/D 轉換技術,提供快速而精確的量測;系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器,大大提升量測效率。
* X8 m# E6 S& `! j, ~: [+ t.簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體,能夠快速且輕易地執行一般I-V測試,而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
( ^' Y+ i0 S2 n/ d7 c; z, [/ g+ x.符合LXI Class C標準,能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
5 A7 ^: ^7 G4 E: o9 e8 p% p' Y
+ q+ x, W. C( A) k- `7 @Keithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求:從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
8 Q; T9 U8 {) r2 ^
) f2 x9 h% K8 H/ m# N+ z7 NKeithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器,儀器本身將能包辦完整的測試程序,包括複雜的決策制定,不須把數據傳回PC。因此,能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲,整體測試時間也大幅縮短,為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
, h3 \3 h1 R2 O! F* q+ V+ {1 }! H6 S& E" T6 Z
TSP-Link是Keithley的擴充匯流排,讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器,為測試系統擴增通道,並緊密整合為一多通道系統。由此可見,使用者具備足夠的彈性擴充系統,即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
) B7 M2 j& }% F! N8 C
0 d$ U2 {+ x; e3 Z$ }- Z( d& v
超快的測試速度及測試彈性 5 n6 L* @. U3 b$ |
雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用,更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎,協助大幅提升量測效能:
6 e) }6 n1 l1 ~.每秒讀取速度高達20,000讀值,能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
2 F2 v( q1 I+ x X/ z
.電子隔離通道(Electrically isolated channel),協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍,進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
7 _* `1 L: Z( H2 S- S) H.較先前推出的SourceMeter儀器,時間精確性提高400倍, 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化,同時更緊密掌握測試條件。
2 T3 x/ }9 Q$ |4 S8 q8 P0 j5 i.支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
+ U9 T! `( s w3 [7 U& \6 i.提供平行測試功能,能同時執行32項測試(最高達64通道);所有SMU通道都能同步,或非同步地在系統中對任何通道數量,執行相同或不同的測試。
], A5 z7 }0 G. 改良後的雜訊輸出性能,避免敏感元件受損
# p% a0 s# v; x1 b
2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下,一個典型的BJT測試項目,搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24%。
. D+ q. ~+ i. o/ s* x/ Z5 P) Q }4 X; l
: s( g. X1 u S$ M: ]
簡化桌上型應用的操作程序4 i, _7 H& R- m( U
從各種角度評估,2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外,Keithley在軟體工具方面也有類似的提升,使其同樣能在實驗室裡,單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
, X/ b1 I8 ?3 T" s8 [" `
搭配2600A系列的新款TSP Express軟體,Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言,使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數,TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢,協助工程師更輕易的進行測試工作。
4 P% f3 Y. \& x2600A系列甚至配備一個USB介面,協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
; S6 {7 n7 \' d, d5 {# J& s詳細資訊
4 A: o0 X3 ^" O I$ H5 G
有關Keithley各款射頻測試產品的資訊,請瀏覽:
http://www.keithley.com/rf