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*課程簡介*
本課程規劃,以國際電工委員會標準 (IEC) 有關驗證與評估之國際標準、美軍可靠性工程標準與規範(MIL-STD)、日本可靠性標準(JIS)、半導體電子產品環境耐受性測試規範(EIAJ ED)及光電子器件可靠度測試規範(GR-CORE)等為依據,介紹如何對通訊電子產品的可靠度測試、產品壽命數據分析、失效分析與防範、定量風險評估、可靠度與風險管理等問題因應處理(trouble shooting);以實務案例教導學員如何在產品設計時防範未然及產品產出後解決NG不良問題以取得驗證,最後介紹產品加速老化試驗(HALT & HASS)、壽命期限的評估方法。
*課程大綱*
1.由客戶的需求到客戶的滿意度
2.如何準備產品可靠度測試計畫
3.產品可靠度的國際規範
4.產品可靠度測試規範、問題與對策
5.產品壽命數據分析LDA
6.失效分析與防範FRA
7.定量風險評估PRA
8.可靠度與風險管理
9.產品加速老化測試與壽命評估
◎ 報名資格:通訊電子從業人員或對相關技術有興趣之人士。
◎ 課程日期:101年9月27日 ~ 9月28日(四、五),09:30~16:30,共計12小時。
(課後進行隨堂測驗)
◎ 上課地點:工研院 產業學院 台北學習中心。實際地點依上課通知為準!
◎ 課程費用:每堂每人5,500元整(原價NT$11,000,政府補助NT$5,500,學員自付NT$5,500)
◎ 預計招生名額:15名為原則,依報名及繳費完成之順序額滿為止(本班預計10人即開課)
◎ 優惠方案:開課十日前報名且完成繳費或同公司二人(含)以上報名, 可享NT$5,000/人
◎ 報名方式:線上報名http://college.itri.org.tw,或請將報名表傳真02-2381-1000
◎ 課程聯絡人:(02)2370-1111 #316 陳小姐、(02)2370-1111 #309 徐小姐 |
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