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TSVs 創造晶片堆疊新契機

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1#
發表於 2007-8-20 14:18:35 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫  董鍾明 分析師
/ S4 Z" `+ ]( @# a2 Z; k" [; phttp://www.itri.org.tw/
* u' f% Q: o( U2 e) _8 _" i: U* V5 S7 X9 q0 B! j: _! @
傳統針對SiP的廣泛定義為,存在一顆以上晶粒的封裝體,即可稱為SiP。而在封裝體內各晶粒的訊號傳遞連接技術,不外乎透過打線連接(Wire Bonding),或是覆晶連接(Flip Chip)技術。近二年來廠商研發出新的晶粒連接技術-矽穿孔(Through Silicon Vias; TSVs),直接透過晶圓穿孔並利用電鍍穿孔,以達到上下晶粒訊號連接的目的。業界泛指利用TSVs連接晶粒的封裝稱為3D IC。
- y6 f9 b0 [5 H! }$ G1 j4 Q, M1 r- D( q! R; Q0 T3 r
3D IC應用關鍵, K, n  P/ P- o+ [- Z2 [

5 o8 R( r7 O1 U' j0 D! U! d(一) W2W的問題% ?& w: g$ h: ~
3D IC的主要目標就是希望可以達到Wafer to Wafer (W2W)的封裝境界,但W2W面臨的首要問題即是良率,以往Chip to Chip (C2C)階段,透過晶圓測試即可將不良之晶粒剔除,再將良裸晶堆疊封裝,但邁入W2W之封裝,將使得整體良率大幅下降。除此之外,W2W也牽涉另一經濟效益問題,由於不同產品在每一片晶圓上所能生產之顆數不同,為了使上下晶粒連接,每片晶圓務必牽就於最小晶粒顆數生產,將墊高廠商的生產成本。  e1 P- c8 Q3 o
8 u0 E  M5 p" M9 m5 P
(二) 良率歸屬問題
) n* P+ b1 p( e8 L% [: ~& x* N; l由於未來3D IC最可能的生產方式,是由晶圓製造廠完成TSVs的製程,接著才由封裝廠完成其他製程。因此,成品完成後之測試,不良品之責任歸屬,將是此一商業模式之下的一大問題。4 ?9 g( s$ Q' V5 N

6 I# Y7 A+ D2 }+ f(三) 應用市場
1 v/ ~5 h8 N( L9 _) a. Y' J( F; \
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2#
發表於 2009-5-9 08:59:17 | 只看該作者
TSV 帶動封裝產業革命,將成為未來封裝主流' w$ ~9 T: s7 S; }; E3 _
希望能對此有近一步了解,感謝分享
3#
發表於 2009-5-11 12:03:18 | 只看該作者

回復 1# 的帖子

熱門的題目跟研究方向這真是最熱門的題目跟研究方向  希望可以得到想要的答案
4#
發表於 2009-5-12 16:01:17 | 只看該作者
最近火熱的話題!又剛好是我們報告所需!感謝大大無私分享!感謝您!
5#
發表於 2009-6-7 06:15:46 | 只看該作者
封裝成本將降低且CP即為FT,目前確實是蠻火熱的,Qualcomm就有幾個這樣的產品
6#
發表於 2009-12-29 10:05:03 | 只看該作者
散热以及干扰问题如何解决?很想深入了解TSV
7#
發表於 2010-1-18 11:28:56 | 只看該作者
對於3d ic來說,tsv的確可以減少連接的距離
. T  }+ ?3 C# d  C  v6 }摩爾定律可以用此方法延續下去
8#
發表於 2010-3-30 07:02:25 | 只看該作者

諾發系統開發貫穿矽晶圓通路(TSV)封裝的先進銅底層技術

(20100329 16:19:16)諾發系統日前宣佈開發出一套全新先進的銅阻障底層物理氣相沉積(PVD)製程,其將用於新興的貫穿矽晶圓通路(TSV)封裝市場,該製程使用諾發INOVA平台,並搭配特有的中空陰極電磁管(HCM)技術製造出高貼附性的銅底層,相較於傳統PVD方法於TSV的應用,可降低厚度至原有的四分之一,該HCM TSV製程提供卓越的側壁及底部覆蓋,能使後續的TSV電鍍達成無洞填銅。1 _' X8 B7 m3 {/ v' i$ G, b( t

6 r$ \3 F+ }( D9 ^" [相對於傳統二維的接腳型晶片封裝技術,貫穿矽晶圓通路(Through Silicon Via-TSV)能夠進行三維堆疊式封裝方式,也就是將多個晶片朝上相互堆疊以形成降低空間阻礙之三維結構。此三維堆疊的晶片與短式含銅之TSV相互連接,因而產生更高的裝置速度以及較低的功耗。對於目前消費類電子產品而言,三維堆疊之TSV提供了更高之功能密度,以及更小的封裝機台佔地面積。
- ~+ F6 H. \* v' b# f8 H6 b/ |
* ~: p0 O- D( p0 q9 e7 O9 _TSV的銅互聯是利用傳統的雙鑲嵌式沉積序列的物理氣相沉積銅阻障層,其依循著電化學填銅方式去製造支柱,以使晶片相互連接。與傳統相比,雙鑲嵌式銅互連結構,其TSV圖形極深,在一些情況下最多可至200 微米。此高長寬比結構使適形阻障層的沉積極具挑戰性,在後續的含銅 TSV 填充階段中,無適形阻障層擁有最小的側壁覆蓋力,並且會導致空洞的形成,因而直接影響了裝置的可靠性。傳統的TSV序列已經找到了解決此問題的幾種方法,其中一種方法即是藉由TSV蝕刻製程去放鬆長寬比,以產生非垂直型的側壁,然而這卻增加了後續的物理氣相沉積之階段覆蓋力,它限制了最大可達之封裝密度;而另一種方法是沉積較厚的銅阻障層,期許在TSV功能內能夠達到足夠的側壁覆蓋能力,儘管這會產生較高的耗材成本以及低系統輸送量,也因而導致一個昂貴的製造過程。
9#
發表於 2010-3-30 07:02:31 | 只看該作者
諾發系統的工程師開發了一種基於 HCM 先進銅屏障種子製程為TSV所應用,其解決了技術上的挑戰和與傳統方法相關聯的高生產成本。創新的技術是基於物理氣相沉積製程腔體內使用專利的環永磁鐵,而產生強的局部電離子場,其可產生一個增強的離子密度於TSV 結構的側壁上。另外,增加這個區域的離子密度,會讓較分散的濺鍍薄膜沉積在結構的側邊,如此可得到一個更為完好的沉積,此完好的沉積過程消除了圓錐側壁的需要,並允許用於 TSV 應用的沉積膜厚度要比典型 PVD 種子層薄四倍。諾發系統的先進種晶製程可以於垂直側壁鍍 2000 A 厚的銅種晶層,填滿在TSV 60 微米深、10: 1 長寬比的架構下,並達到無孔洞的結果。傳統的物理氣相沉積方法需要一個 8000 A 厚的種晶層來獲得相同結果。相對於傳統的物理氣相沉積方法,4倍薄的TSV種晶層使得系統輸送量大幅增加,並減少大於 50%的耗材成本。
' L6 ^. t% R0 e5 Z7 J7 B. A8 B. t6 f0 _3 O# q
諾發系統半導體系統產品執行副總裁Dr. Fusen Chen表示:「對於TSV 三維技術在先進的半導體封裝應用上具有相當的信念,我們深相信其可解決技術和生產效率的挑戰。諾發系統新的先進種晶製程解決了TSV整合上對銅的屏障及種晶兩部分的挑戰,並讓結果都導向一個薄、 高適形薄膜,且滿足具有優秀的物理氣相沉積系統輸送量」。
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關於諾發系統銅阻障底層物理氣相沉積(PVD)技術
7 l8 O  m# B# C8 b# C對於銅阻障底層之應用,諾發 INOVA NExT PVD系統以專利的中空陰極電磁管(HCM) IONX技術特色,提供高度覆蓋之阻障層與可調變的底層,可延續PVD技術至20奈米及以下。
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關於諾發系統
8 `( v3 V' P) r4 h* ^! f諾發系統是全球半導體產業中領先的先進製程工藝設備供應者。該公司產品支持的創新技術及提供信賴生產力為客戶創造價值。是標準普爾500 (S&P 500)強公司之一,諾發系統的總部設在加州聖荷西,其附屬辦事處遍布全球。欲了解更多信息,請瀏覽www.novellus.com
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發表於 2010-4-1 16:52:21 | 只看該作者
諾發系統發表3-D半導體整合之銅矽穿孔(TSV) 共同研發專案   ]8 D5 s# O, j5 O" }7 y

  a! m  O- {$ J9 _(20100401 14:49:11)諾發系統日前宣佈與IBM成立共同研究專案,將利用諾發之電鍍銅SABRE與電漿輔助化學氣相沉積VECTOR系統,設計出可製造3-D半導體銅矽穿孔(TSV)之製程,該新製程將可應用於小體積與低耗電的3-D整合產品。
' ]( h( F' W, e# `8 r3 d: f6 m
" I( m0 W& F7 ~4 D" _& K# c  u使用TSV技術將半導體工業推往3-D整合是一股強烈的趨勢,將多種元件堆疊成類似三明治結構與用銅孔連接所有導電層,此技術增加了電路密度並使最終元件變小,透過每個元件間較短的連接長度,進而增加元件速度與較低的電力消耗,堆疊的結構也允許多種特定功能元件的組合,包含利用非同質性的整合,以符合現今不斷縮小之電子產品的需求,如手機、PDA及筆記型電腦,然而,對於整合TSV到半導體製程,以至於新結構需同時俱有高可靠度與低製造成本上,仍面臨數個重要挑戰。其一是於極深的高長寬比結構之無洞填充時,降低過多的銅沉積或承載,承載厚度會隨著TSV的形態而改變;另一個挑戰則需要低溫沉積介電薄膜的能力,如此一來,在TSV的製造流程中,晶片上熱預算才不至於超過標準。
11#
發表於 2010-4-1 16:52:32 | 只看該作者
諾發系統已發展出一套特殊高效的SABRE Electrofill@ TSV 製程,該製程使用享有專利權的設備,以及電鍍液達到最低過量銅之無洞填充,過多銅可降低75%,容許使用傳統的化學機械硏磨(CMP)代替客製研膜泥漿,此外,SABRE的最佳化TSV電鍍液提供較短的電鍍,因而能有較高的生產率。為了解決低溫介電膜的需求,諾發系統的VECTOR平台搭配著獨創的多站連續沉積結構(MSSD),使得具有穩定且高良率的TSV製程,在崩潰電壓、漏電行為及晶片間的再現能力,與200度以下介電膜沉積的要求上成為可能。SABRE與VECTOR的應用簡化了TSV的製造流程,並開創了低成本、高效能3-D積體電路的廣範應用,諾發系統與IBM將一起合作評估與研發製程應用於IBM的3-D整合專案。
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IBM半導體研究與研發中心的最傑出工程技術人員Subramanian Iyer博士表示:「早在1990年代中期,從雙方研發最初大量生產的機型開始,諾發系統與IBM在後段銅製程已有長久的合作關係,我們將利用諾發系統在電鍍銅與介電沉積技術的核心競爭力,期待雙方的再次合作」。: }* a. z0 i; c0 i5 v& _2 X

, v/ h7 e" N( m諾發系統行銷與客服部執行副總Tim Archer說:「諾發系統非常興奮能與IBM合作研發突破性製程技術。我們的SABRE系統提供卓越、有成本效益的填銅技術於矽穿孔應用,同樣的,我們的VECTOR系統中的MSSD構造,也使得在溫度200度以下穩定介電膜沉積成為可能,這亦成為這些新3-D應用裡的特別需求」。
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發表於 2010-8-8 02:57:22 | 只看該作者
感謝分享8 L  Y+ R6 {: x# I$ r; q$ w3 p
...................................
13#
發表於 2010-10-27 11:12:50 | 只看該作者
It looks like it is a hot topics. Like to know more to catch up with the industrial trend.
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發表於 2011-5-26 11:41:31 | 只看該作者
很有興趣的 topic,感謝版大分享。
15#
發表於 2011-8-26 10:22:17 | 只看該作者
It is so hot .....hot topic makes chip123 more shining.
! t3 w! u5 b5 j: s9 R$ Fthanks for share.
16#
發表於 2011-12-5 15:54:58 | 只看該作者
IBM 真的已經做出來了嗎? 如果是, 那真是太厲害了~~
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發表於 2012-9-20 17:29:40 | 只看該作者
感谢分享~~~~~~~~~谢谢!
18#
發表於 2012-10-29 10:36:38 | 只看該作者
回復 1# jiming
3 K' w1 Z* C; H  a& I7 s, B& |1 {; S* I
8 U7 W7 z# c( d1 E# J3 l. H/ V0 O
想深入瞭解一下.
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發表於 2013-1-28 14:38:40 | 只看該作者
謝謝大大的分享,真好有需求.
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