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正確看待技術指標 小心差異化來源：陸楠 EDN China 發表時間：2006-10-30. z( d0 Q4 s' {3 F; q
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f7 {# `, Q7 B4 {RF產品的集成受限於器件自身特性（比如干擾），並不能完全以單晶片的方式集成，而高度集成的RF前端晶片即使在DEMO中表現出色也未必代表它適合系統，因為系統要和這類晶片配套需要大範圍的改動原來的佈線佈局，穩定性受到影響反而往往造成死局——袁遠 美芯創始人、CEO/ e1 F7 h! T. h* ~% R5 D- e
5 A2 S" }% H" ^ u8 Z/ W3 x 我不認為純粹的技術指標可以評價一個器件的好壞，關鍵是客戶是否認可，衡量的尺規應該是能否滿足客戶的需求。美芯目前PLL產品的主流工藝在0.25um以上，而高頻和低工作電壓要求的PLL用到0.18um也足夠。PLL產品工藝的黃金分割點是0.35um。在很多時候，性能的提升要加大成本，如通過高水準工藝來實現高性能，這種做法對售價本就不高的器件來說得不償失；此外，器件各個性能之間也存在重點和平衡的關係，而脫離實際需求的性能其實是一種浪費，客戶也不會接受。 $ r. u! t" `6 n. o6 }
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從差異化的角度看，標準器件越來越多的被集成到單晶片中，目前在一些通信電路中，鎖相環路已經作為一個功能模組嵌入到FPGA中。但就客戶需求和RF產品特性來看，這種趨勢並不會形成一種終級的唯一模式。我認為，RF產品的集成受限於器件自身特性（比如干擾），並不能完全以單晶片的方式集成，而高度集成的RF前端晶片即使在DEMO中表現出色也未必代表它適合系統，因為系統要和這類晶片配套需要大範圍的改動原來的佈線佈局，穩定性受到影響反而往往造成死局。 : w- Q! ?- L+ v, T
/ G- A- p9 ?: G7 `: T0 q; d$ }, V7 R6 _ 晶片設計必須同應用設計牢牢結合，國內不少IC設計公司技術骨幹來自國外大企業，他們忽略了這些大企業中分工合作的流程，往往把局部的經驗作為整體經驗來運作，忽略了在國外企業中其他應用設計部門所做的大量的工作，其結果就是脫離實際閉門造車，追求技術先進忽略應用效果，最終導致產品華而不實的現象。 |
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發表於 2006-10-31 13:25:36
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發表於 2008-3-5 16:13:04
發表於 2009-4-11 10:35:04