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針對台積公司16奈米FinFET Plus(16FF+)製程 推出經矽晶驗證的DesignWare IP套件 協助 ...

2015-4-9 03:12 PM| 發佈者: evahung| 查看: 854| 評論: 0|來自: 新思科技新聞稿

摘要: 經優化的DesignWare STAR Memory System,能帶來高測試覆蓋度(high test coverage)並為FinFET製程記憶體(FinFET-based memories)提供有效率的修復。

新思科技近日宣布針對台積公司16奈米FinFET Plus (16FF+)製程推出DesignWare® PHY IP套件組合,協助設計人員以較低的風險將所需功能整合至行動裝置與商用SoCDesignWare IP在台積公司16FF+GL16FF+LL製程達成矽晶設計流片(silicon success),促使設計人員能在台積公司16FF+製程中,加速納入嵌入式記憶體及介面IPSoC開發。相關介面IP包括USB 3.02.0 HSICPCI Express® 4.03.0 2.0SATA 6GHDMI 2.0MIPI D-PHYDDR4/3 LPDDR4/3/2通訊協定等。

 

為設計人員在先進製程中提供經矽晶驗證(silicon-proven)IP,能加速行動裝置與商用的SoC開發。針對台積公司16FF+製程所推出的DesignWare IP讓設計人員在加速即時量產(time-to-volume)的同時,也可受惠於該技術所帶來的效能、功耗和面積的優勢。」

  

DesignWare STAR Memory System®產品是一個整合測試、修復及偵測的全面性解決方案,且支援新思科技及其他合作夥伴的嵌入式記憶體。台積公司所有16FF+記憶體編譯器皆套用DesignWare STAR Memory System特點。經優化的測試及修復演算法可讓測試覆蓋度達到最大值,同時降低測試時間、測試成本以及提升製造良率(manufacturing yield)。此外,新思科技也為台積公司16FF+製程提供DesignWare邏輯程式庫(logic library),包括7.5 9 10.5(track)程式庫、功耗優化套件以及高效核心(High Performance CoreHPC)套件。新思科技所有的嵌入式記憶體和邏輯程式庫,包括已運用於台積公司16FF+製程的解決方案,都能與IC Compiler™ II布局繞線系統無縫整合,可加速產能(throughput)並提升成果品質(quality of results)

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