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[問題求助] ESD失效分析求助

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1#
發表於 2010-11-20 14:59:18 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
2颗VDD到地测试
$ G0 {- j0 A% R$ G- v1),第1颗从500V开始测试,大部分在500V时就失效# h( x8 ?, a  v* T! I/ l! `3 P
2),第2颗从1000V开始测试,大部分在1500V时失效
" D# |4 m" Z% i) s/ O6 }电源到地的结构为分布式的GGNMOS结构
' O* V& R5 }3 R! p失效机理是怎么会事,多谢
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2#
發表於 2011-1-18 14:32:02 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:+ h; N- Y/ x& S- z: F; ?, {
1. 請問製程為何?7 V1 V8 J" l1 L+ X) r& \
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V開始打, 為何?, f: Z$ }( I) y/ n/ C
3. 你的GGNMOS的W=?, L=?, M=?, DCG=?
* F6 z1 j, g+ K要有上述的數據才能做最基本的分析.
3#
 樓主| 發表於 2011-3-27 11:34:00 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:( F6 N/ z0 U8 `6 ?8 D+ B
1. 請問製程為何?
; P7 K' m7 C1 ^4 R! L2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ..." w; m9 e, J( L) L- ?0 P
klim 發表於 2011-1-18 14:32
2 N+ e- C% b* M2 o) h7 R
( Y+ e  a7 K$ A7 g6 x5 m
1), 請問製程為何?8 K% _1 v! ?% ]2 f+ Y3 @( `
tsmc 0.18um ' Q1 N" I/ {: t$ b0 L
9 T' e4 Q$ J$ E/ S& [
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...
  X& p- y7 M6 c' U两个芯片均测试HBM模式,故意一个从500V开始打,一个从1000V开始打
9 V! O8 ?9 H8 d) ~5 c' U& a
- k( |1 f% L1 ]2 h6 h7 h3.ESD 的layout遵循了TSMC的<<esd design rule>>,只是没有固定的电源引脚,而是,通过配制IO口的属性来设置电源引脚的位置
4#
發表於 2012-2-12 13:41:58 | 只看該作者
感兴趣问题的进展,是样品概率问题吗?
5#
 樓主| 發表於 2012-3-13 20:20:27 | 只看該作者
感谢关注,ESD问题已经解决
6#
發表於 2012-7-12 12:21:25 | 只看該作者
how to resolved it????
7#
 樓主| 發表於 2012-8-21 21:40:30 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路
8#
發表於 2013-10-13 02:30:06 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路 ??
9 e! s6 @/ M1 C4 T' n均勻是指什麼
2 ~/ G5 V7 p2 ^( V7 w0 _方便貼圖上來嗎
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