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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,( k" _* Q8 c6 {2 u2 m# W. i3 Q
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能
8 A! |, T) B# d# o6 \& e" |* @( q力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
8 g; a' f$ E& _* c7 r: M乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
& Z$ ^2 e* u4 p9 `" l1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.8 {* E) f/ x' j
2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.3 y; Z2 Z9 R/ ?. j9 K, k5 B7 C5 e4 D2 ~/ [
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.' d+ \4 c1 S5 v6 J' I( [8 P* F
1 m1 U3 b# ]0 C. Y4 ~- M+ U! ~) u換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場," o. F7 m1 e+ c+ s$ g ]4 K# a
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及
# R( D9 c) h+ y6 P高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.7 L3 \* {# I& t2 n$ j5 Y
6 w; }8 _8 i% x另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG; \# J+ v; i9 G/ c1 B; Z
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
8 V2 V. ~. h! m+ N- H. d7 D也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
* G9 }9 B% y, v; t, ^5 z/ D! g3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".7 E# |) o. }2 e" ^9 i" l
# M$ G" }8 l Z- X/ w. X8 B愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶, ; @. A/ v7 @ s4 h0 I# C0 v1 v
彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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