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[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

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發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師! A  j) }, j: u4 u
http://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
0 I* ~+ |* Q" o2 x, L- a) C" }一、前五大封裝廠商排名1 x  E8 D. W3 N
2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。
$ j3 t3 u. q8 a- K表一 台灣前五大測試廠商) y  o* H! t# Q9 w9 V7 ], `
2005排名
) Z3 P3 ^6 L9 d% d/ d! R7 }2 L
2006排名

' M' g- k5 _  W" N& r3 o, |
公司名稱

) g" N4 o! R* J: l: e+ F; R% ~
2005營收
* v* s4 k: m6 S* d4 K0 @+ \5 M
(億新台幣)

" \7 b1 _% P8 \
2006營收
6 [) c) G- w4 h6 b9 b
(億新台幣)
5 c# i/ n4 f$ G# B6 W
成長率(%)
0 M2 u, f: f5 F( n$ s8 e6 _* A4 N
1

* E6 o0 K# A$ B& o) Y& H6 U
1

7 ^2 F5 }, }0 y  I& n% c5 u
日月光集團*
; l7 ~' s/ C" x& N0 f  E2 \4 J
172.0

9 Q% M* M* k; e9 y
214.3
8 d1 d$ g2 k( y6 D/ V$ U( ~7 s3 r
24.6
$ s8 E( @( t. s7 q9 ]' q9 @
2

; c2 h7 f4 N0 E$ u& n# h% ~2 Q
2
: l7 j. p* c9 k- {- l
京元電子

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99.5

- G5 @6 ?- A: _/ V
129.0

( {/ P& v$ W; |# v9 @2 R+ z& p
29.6
3 ~# \6 ^3 F1 m' C0 ~% c8 ^
3

7 A/ f% l3 ~3 [
3
6 ]+ V# r, }' i. W
力成科技

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77.7
  j! j; e6 d7 K. O8 ~. @- o, ]
110.3
# ]: t$ E6 `1 L+ Z9 |6 K. x
42.0
) Y9 e4 u: T9 C/ v$ k  S
4

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4

' f/ v+ V" o# f
南茂科技

  T: F8 R% b. i7 B
58.8
6 U; x0 j' p4 h5 [8 Y4 j8 D
92.5
* f6 N8 ~/ w, T  U+ g. Z
57.3

0 L2 R8 p' Z) _' q0 |
5

* l0 U( A1 }; U* b. i  `! M
5

# @' J+ r  t4 y" ^, b  U
矽品精密
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43.0
4 ~. e" Y: i( ~+ |! }( D
56.4
# u$ B/ j; H& e8 ]. z; K" K" v4 |
31.1
  c5 Z. P, x! w% H" c+ C# d  \
資料來源:工研院IEK(2007/03)  W& v' J) Z, R. j9 b5 i
2 L# w! r( ^, y" a
二、重要趨勢
6 d% R" G! h9 V7 T# Q& l由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。# B& f/ H  `, n: j9 [) [
為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。
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三、未來展望
' S# [+ B2 I8 j: v. Y! q( N記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。$ d, ^5 v" {: G! L
2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。9 x+ [5 n- l) b  ]
總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%
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