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ESD的另一种情况:CDE(Cable Discharge Event)

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1#
發表於 2008-11-6 20:39:33 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
ESD的另一种情况:CDE
- o5 g/ I9 ~; a9 P$ X* k2 pCDE--Cable Discharge Event& L5 v- `0 A2 [  a( w8 S$ B) \

9 s1 i( r; ~7 d! a8 w5 ]- x' l1 iInvestigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology
3 \) M# J, S/ `
! n. i9 h  p; w3 f% k  V
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2#
 樓主| 發表於 2008-11-6 20:40:28 | 只看該作者
Abstract—Cable discharge events (CDEs) have been found
; M* e  V. _+ F( B& c/ y( j$ u to be the major root cause of inducing hardware damage on
, p9 Q5 F. k; |( l$ w% l Ethernet ICs of communication interfaces in real applications. Still,
+ G0 G% z; Q- n/ x; a2 a! A9 | there is no device-level evaluation method to investigate the ro. Z- G; |9 @& c% d- f! M6 Y
bustness of complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS)& d. l1 I3 r3 |0 V. O# b$ ]
devices against a CDE for a layout optimization in silicon chips.
3#
 樓主| 發表於 2008-11-6 20:41:17 | 只看該作者
谢谢支持!
4#
發表於 2008-12-3 16:49:22 | 只看該作者
好冬冬,楼主辛苦了+ u8 d& X, g) ^5 A& W$ X
希望楼主多多提供
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