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測試工程師面對數位RF技術的難題

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1#
發表於 2007-1-8 15:49:07 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
數位RF技術的提升在消費者需求逐漸增加的刺激下,不斷向前邁進,同時也引領無線通訊的快速成長。然而,測試工程師卻面臨許多空前的難題,包括:1 o. a# S; Q+ F

* q$ y# G5 S1 q7 A1.數位 RF 訊號承載複雜的調變,
/ y" U& [8 |; Q9 M+ N2.訊號隨時間改變,從此刻就轉變到下一刻、跳頻、爆發、
3 J- _/ r1 Y! C+ I/ ], o' P2 @; g8 y+ M3.訊號發生短暫突波而後消失...' [* Z2 Z& H' Y. B  u  x( M1 {8 E
.4 u6 A" y4 i/ c9 v
.
' c- `% j* Z3 b, O2 u% A6 B, _.
1 L' j, |! U: p1 Ln.互通性持續成為無線世界的重要議題...

( k' O2 r" ]8 Q; U4 i2 P, _- r2 L; X0 {7 ~( A& S  e: X. S' r
這些瞬間與時變傳輸技術協助 RF 設備避免干擾並最大化其尖峰功率... 測試工程師,進來交流討論吧?! :o/ R; Y: E8 l) w( l! Q" ]& M" O

0 B2 z3 O$ B( [數位 RF 的測試儀器不僅需搭配較寬的頻寬,而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取,以及能夠與時域、頻域和調變域完全相關聯。6.2 GHz RSA6106A 和14 GHz RSA6114A 提供110 MHz 的即時頻寬,並同時提供73 dB的無混附訊號(spurious)動態範圍,所以對於各種RF 應用,從先進的蜂巢式無線電的功率放大器,到最新的脈衝雷達訊號等,都能完全符合產品在應用上的需求。
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2#
發表於 2007-1-9 23:14:15 | 只看該作者
確實! 對於日益複雜的RF訊號, 一直以來對工程師來說都是嚴苛的挑戰, 小弟也很好奇一個測試工具到底需要具備麼條件? 才能稱的算是"好的"工具., i# G3 m) j" x  _$ t( x" f

3 B9 @) g; m5 R5 t" P"速度"算是決勝的關鍵嗎? 還是...
3#
發表於 2007-1-11 16:42:12 | 只看該作者
個人覺得一般的儀器都能滿足測試特性9 ?3 k2 |6 A8 }4 O: i: h4 `
問題在於整合性問題; R9 |3 {. w) i+ ]% ]- t
個人最近一年在研究使用LABVIEW來做整合$ E% a2 n3 Z% M8 p, h
發現它可以做到的事太多了
/ V& M; P* J# r/ }, ]; M只要擷取一小部份訊號加以運算就可以得到令人滿意的結果- j2 O; n$ b/ _$ |; Y' M
當然長時間追中;存檔這都是必備的
; a% H( N; K  a而且它相同的硬體 可以做多變的組合 符合眾多不同樣式型式的產品6 W$ `2 ]( d( [  ]
所以囉 個人見解  RD是需要學習labview的 並且精進它+ ?+ g) U2 \0 u+ q4 }
我認識的RD都是很排擠它 因為認為那是現場生產在用的東西 用於研發不夠格( d/ Y! s2 q" S* w& J8 Q1 ~6 E2 H4 J' k
以上為個人見解
4#
發表於 2007-1-11 20:43:18 | 只看該作者

回復 #3 ajay168 的帖子

LabVIEW確實在做儀器量測數據的整合較為簡單, 但是對於大量儀器的整合可能就沒那麼好用了喔! 對於此類的應用, 一般大多使用LabvWindow或是VC...來控制才比較會有系統些
5#
發表於 2007-1-15 17:02:26 | 只看該作者

面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決

恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快+ \* N  U; m) y" d" H' C
Labview還要寫寫修修, 等不及了.
* d/ p: s5 d, Q( i) u, a+ g$ L3 R+ K% Y& [
通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
# Q0 U# H3 S$ I6 x) U' R; V! t控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
7 I6 R5 p) E6 A/ K6 u* {以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput# ?! e0 e9 |" |; L0 A0 N
最大化, 以降低test time overhead.& [8 w; C) f8 x- g9 _9 v. l
5 c: G! k* u2 ~; Z: f' ?, V
Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
! ^6 j  }) j7 A0 |  U儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
+ l& ~0 L! u/ _  E7 e- i上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.
% _+ B5 N* x; |. h- p0 n4 z6 ]5 G" V! W& I, e
而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.! G6 V5 ?5 l! A% E
1 z6 X1 ]7 J) H. |2 L
********************************************************************************9 l0 w* g* b8 _! P5 X% y+ U$ V

) V" V0 |) m1 A/ J9 Q. `+ q至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
4 u( X( b8 l+ A* v6 T" A& y因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了$ i. z2 z4 R) \7 k. v0 V
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,
- M9 f+ w. o. Q5 G0 a% g向老闆提預算買solution的事要做了.5 H' \1 T4 _2 u9 N0 f2 H* Z3 q
( x4 m, Q- s; q$ \
而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system9 M+ _6 k0 L+ r9 Q) a8 M# E
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的7 ^# _% V* b& L! |1 w
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
) e5 t. ?+ q8 G/ q2 Y( f解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了.

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