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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快6 J- ~. b/ K/ q6 K
Labview還要寫寫修修, 等不及了.
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) d: d9 W0 ^$ k9 Z& P; ?: y) F通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用- r6 c5 G! E1 M7 u7 n# s" K8 J
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
* k! H0 @3 C% O7 j4 W* Z+ g0 t" I以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput
3 c r) T/ ^) k最大化, 以降低test time overhead.
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
$ F; W ^" }+ ^5 J' H2 Y, U) L儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
* M6 c; ^2 ~9 g# e$ H上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.- ?5 T" e5 {5 T* S$ D& n
8 @+ Q( _+ }$ s9 Z4 R而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.' K6 v8 a' d9 N& [& d3 K6 ~! X$ ] S
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至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算 $ D) y" k" v5 _& b, F X1 t
因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
5 o0 u- _8 s) m% P9 i: z5 nsolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,$ @% E, R/ G7 O
向老闆提預算買solution的事要做了.7 W/ K% O" O* J. Q9 n6 ]
0 C( k6 P- R7 ?# }9 b3 E而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
9 z$ s, w; H. c測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
2 m, x8 J% l; |2 n; d真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他; K( W! v& ~. J. y6 c* x
解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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