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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快+ \* N U; m) y" d" H' C
Labview還要寫寫修修, 等不及了.
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通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
# Q0 U# H3 S$ I6 x) U' R; V! t控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
7 I6 R5 p) E6 A/ K6 u* {以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput# ?! e0 e9 |" |; L0 A0 N
最大化, 以降低test time overhead.& [8 w; C) f8 x- g9 _9 v. l
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
! ^6 j }) j7 A0 | U儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
+ l& ~0 L! u/ _ E7 e- i上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.
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而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.! G6 V5 ?5 l! A% E
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) V" V0 |) m1 A/ J9 Q. `+ q至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
4 u( X( b8 l+ A* v6 T" A& y因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了$ i. z2 z4 R) \7 k. v0 V
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,
- M9 f+ w. o. Q5 G0 a% g向老闆提預算買solution的事要做了.5 H' \1 T4 _2 u9 N0 f2 H* Z3 q
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而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system9 M+ _6 k0 L+ r9 Q) a8 M# E
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的7 ^# _% V* b& L! |1 w
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
) e5 t. ?+ q8 G/ q2 Y( f解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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