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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
3 d/ T% u4 c; P3 Z1 YLabview還要寫寫修修, 等不及了.
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通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
; S7 {' U. O" K/ n+ q% k控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
6 `3 a5 x8 Z5 E+ m# d1 H以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput' ~* W) _+ L, u! N# M3 }
最大化, 以降低test time overhead.
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
2 o" A' {! Z* l9 U. X) b- ~; ]儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
) r4 G5 u" B7 N# U上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.
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7 K( A( D9 F! F而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.- ~4 u! W3 [" W% S
; N9 X% ] A+ w" l7 e- M
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* I4 y9 b; \, ~至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算  & D! o8 E) }: h0 x* h5 N& t6 F
因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
6 S" @2 G0 v5 L/ `1 u, wsolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,! g: `: s# c* f1 F
向老闆提預算買solution的事要做了.; f/ {0 }. W( O& o
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而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system% M9 t" O! L% e( h: V$ t
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
% c/ V; J* }& P2 x. Z真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
0 y/ E" L: X, m& Z, V- \解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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發表於 2007-1-8 15:49:07
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