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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快6 H- @0 d6 i2 _ ?3 ?
Labview還要寫寫修修, 等不及了.% e: x9 n$ H2 @5 x: P
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通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用) o( g3 v$ L; Z# p
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
) m! d M( W6 ~% O" {以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput l9 O) m: s% x5 Z' F& ~$ i4 ?
最大化, 以降低test time overhead.
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
( ~0 s& ^6 Q! x! B5 {儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host7 v) D% g' q- @7 W) N [
上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.& N' ^) R: B! u* W* Y& k
. h9 v) _4 G% F3 R: S而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.
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至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
& E, a; U* z2 I因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了2 l' \# h ^4 k) w- I- B
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,! E8 T" p, t& Z! N8 m! r1 `
向老闆提預算買solution的事要做了.: S9 U$ a V2 ]6 u0 ~- d# _/ ^
6 h( e7 ~9 N6 \6 v5 J( b而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system/ z5 T; n7 Q2 W. H2 W7 q5 W
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
' U8 {' j! p) G! d& d3 F+ v真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
' B7 {, Z3 C) E r9 D' q2 M7 ^- B解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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