|
面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
5 N5 ^, H7 A+ J; X3 }9 g. K+ N5 a+ yLabview還要寫寫修修, 等不及了.* Z3 @- z/ I5 b; @ u
" i( V. R5 ?* d7 U: m* r通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用% `8 x' l! E6 c6 X
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率. Z# O$ N8 q. U5 t, n+ [8 N
以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput
0 ^) }& I4 `; V- i最大化, 以降低test time overhead.7 J% `# Z6 ?3 c/ o. R4 ~
# |. o9 `, e `% D4 b: i7 JLabview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用0 n; Y Z+ ^* W. X. ]4 {; w! e, L j5 [
儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
6 K1 u0 ]4 ~% g% h- [上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.9 W8 }9 Z5 L% x N) ]3 }# J- d
0 m9 y1 C% b- ]( d而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.
5 F9 z( ~5 P6 {3 h' c W% l2 r/ e- O+ k3 A( U
********************************************************************************
6 T6 }7 D7 Y* G* p* ]* j: A
1 g1 s, j" E& t* _! v) r至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
1 _8 X) u0 J' L% n( c& N; Q2 M因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
, o& U c* P. R7 o! j5 U% usolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,8 N, s, i1 M1 k; H$ S7 t! h
向老闆提預算買solution的事要做了.
# U* K- \! m& k& w2 d
! j b9 {& g9 w7 I; [+ {$ q而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system; |6 }% W! p/ p9 s& n' Z& ^
測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的& z7 W2 y: Z! G. U( k
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
! P! s( z% h2 p$ u/ \& `解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
評分
-
查看全部評分
|