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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 9 W7 U7 |. s3 I  F) Y
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
- D7 ^% [$ |: Q5 l/ \  k3 v●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) * m9 v" N& C9 ?) B3 D* G
●課程費用:5,000(含稅) 5 V% J- v. F) ?, j& a
●報名截止日期:100/12/01(四)
+ l& _' x; \' b1 D/ s$ g●開班人數:10人以上 (最低開班人數) - N& a: I4 n& F3 y. F7 _1 t
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
5 w$ m: G$ }) R3 {: X& [1 x●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
* e4 I7 o2 z# c  j/ d$ x5 \* K' X. N) Q
■課程目標- K6 O2 U' C8 W+ V/ ]! k

/ R1 w+ c1 Y+ l: l本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。- Z  j2 a6 M% T, j, ]
8 o1 t' p. s# e8 J& L
■課程大綱( M( A- i$ C& q% ~
第一天:12/08(四)9:00~16:00
* B1 g- B- ]4 }' s" `" J專利檢索入門與檢索規畫
- z7 R7 x( ~: U3 N/ ~免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
( J: g  L# s6 M& _/ ]2 [& U% X3 i專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 " E0 M- l- u6 h1 G- e
- g& L3 ]% q7 i2 E) X4 Q
第二天:12/09(五) 9:00~16:00
* B6 a: c) `- w% Z專利分析可提供之情報
4 i8 q# G! \8 |' {! p: G5 h' v專利地圖試做範例
$ J/ Y7 }8 e0 b( J* Y進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
5 a6 D2 P0 T! v$ @; N; q4 ]% g7 M% t! p! {*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹
& B4 L1 c$ @4 @% q吳俊逸 博士
% ?% P  s" a2 Z; z在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
, D7 ]4 t& w( C# W* S% E, N, a( k; |現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 & k5 r( W" t6 k/ a( ^7 w" ~; n/ n
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 " m- ~- d3 j) }4 f4 @# Q4 \
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
8 O% {" I/ _1 U. w# y% a+ }
- q7 {6 S: \* Y: @3 E1 i0 x+ r專長與經驗: 0 X: T( U. Z7 A/ D+ @. F- z
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
7 M; b! [' B: A% Q- ~ 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
4 P1 u  j. R5 G6 R8 W9 m* u5 a4 \3 s 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). ; t$ G3 Z) U0 R) ]
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
+ @8 v! k4 F! }7 h
( Y( H4 r$ e, x% _  H3 |& Y- x經歷: . F6 k- V4 J4 Y- p! s* F7 h7 r

6 }% e: ]* J9 t. s) w# l% _工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 # R# \. K0 M$ D) B! C  ^7 C
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
2 }' A# k1 D& _  ~# L8 r$ |- X國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
( C/ L  Y* P' j! Z; T5 u+ w8 o) ~; }9 \8 h& s
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
6 }9 S4 J% i! @8 G, {, C& ]$ z( e, T  o# ?% G% |
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
1 @1 B6 p: b; K& z4 Q! e: _& f( T/ R" w0 V- `5 v
訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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