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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心
  I! w2 O( `0 N/ t, ^●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
4 r/ [. _( U1 |' H+ x1 n: H●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
* `6 A- w: a9 g, y●課程費用:5,000(含稅) 3 h4 X3 q+ U+ [! D% N& k
●報名截止日期:100/12/01(四) + H! M" G7 t: u/ K' @0 h: Z/ x; F1 r
●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
# E4 U( ~: `, I1 Q0 [/ w! J8 _" a●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
- ]. k: G4 T7 U& C9 t3 g; E●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
7 e( n% |1 \. g# ?: M4 Z! l) w1 t8 |4 q% |% k6 O0 z" S$ ^+ T- K2 i
■課程目標
5 m6 f- o% S- ~
) k6 }$ ^1 E1 i( V8 d2 i本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
! L. n% z2 d7 ]) x9 _" ]0 N& p" e
■課程大綱$ P5 A7 x7 c; F2 B% K+ O* G# K
第一天:12/08(四)9:00~16:00 # j3 ^9 L- h3 F7 R3 E- s
專利檢索入門與檢索規畫 , B" J* G+ K3 P1 b' @% h; |
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) ' A* _, U$ W& K6 C
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 2 ^! U8 x2 V4 `/ U

' M: e. f. _5 V1 y, X  O( V" c第二天:12/09(五) 9:00~16:00 + p" @0 B) c$ x& U4 q
專利分析可提供之情報 ; |* W2 F3 J; x3 U
專利地圖試做範例 * A+ r: u( V# M
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
# @' }" G2 V# d! O! J: R*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹
: ]  O5 {/ I" B, V# o吳俊逸 博士5 x: U( ^" C& P$ k
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 % m, O8 G9 K8 j+ }/ N
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 6 ]3 d- B2 M; q! F( q, I
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 - L9 L5 X! Q  g' W& ?* v" Q
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士 / V6 h6 G% L( K9 w( Z* j6 K/ `

# O& V: [) u( z2 Q! B- F4 \專長與經驗:
' C9 {+ S! ~/ i3 ?) j2 p 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March). * [/ E' U4 i4 M& }1 _( C" D
 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). 8 I; N  C& d: k( S5 E# V
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). / i! o) I, \! k4 s$ }5 h. J
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
* @, U& |5 T4 X2 x3 U+ L1 q" v& Q! m. }6 y7 u/ \) K5 x3 J1 c* J
經歷:
% h8 ~- z3 x, U6 _4 [, e( ?
. X- C' w" R  q; M  Q, R( ~* Q工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 ! U" J+ s, [, g) O+ _$ b6 V  i* u
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 2 M- F  q/ h# W) \/ l5 D
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
& b  o% {  k8 q; L; i' c; M+ Q3 \5 x+ D4 s& S7 m9 f+ c
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。, _( ?) {' G: N. \7 I% A
/ o3 `2 g* b1 Q; \; V
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
# f: u7 e* ]% Q3 b! T
+ L; S' e4 |: H4 l6 p訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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