DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
: ^! }4 O% ^ R- P6 t8 E! }/ x | 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
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| Registration and Welcome/ X& |' N( Q$ b# [( j+ Q! p
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| Registration and Welcome
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| DDR1/2/3的電氣特性規格要求; n# G4 B* X" V. c% ^& H; \4 o
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| 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰5 B% a: N& d, z: A9 T2 J9 e; |4 _
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| DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧: E7 w. d- J) Y0 G
| 14:30-15:00
, v! C# k- o/ Z3 p. g1 F" q# H9 f | USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程* Q5 z8 p6 f2 X
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10:30-10:50) ]2 w1 w% m" H- l) z( Y/ K
| Break & Product Fair
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10:50-12:00) ?3 e. A6 L! b5 f9 v j
| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
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( G9 K$ E$ c- p/ c9 f; N0 m9 W | USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題
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12:00-13:00
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發表於 2011-9-28 14:29:40
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