DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。- u! d! V' z3 c) V' S5 q# G
| 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。& }) x- a& R3 R& J* Z
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08:30-09:00) k+ C$ Y& V: |! k
| Registration and Welcome6 _' R, ^1 s- X4 l, }" v
| 13:00-13:30
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09:00-10:00) n0 R+ e! B/ {$ c; `& a8 ]
| DDR1/2/3的電氣特性規格要求
K" Y+ M& g9 a' m% \. P* U | 13:30-14:303 Z' E/ G; D3 ^. H8 h; d! F
| 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰% R- c4 D( R$ w, d" \3 g2 j" H# N2 m9 y
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10:00-10:30
' W1 w) Q& K2 Y9 A6 v' N% s1 b | DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧' R; p% m) {5 h) v" z
| 14:30-15:003 X, u2 B& m8 e# a7 [% Q
| USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程, _; ^$ U3 E; h: r/ A. q% \/ Q
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10:30-10:501 }! _7 h( ?9 P7 C( j+ M' `: X# ?: E$ M
| Break & Product Fair
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| Break & Product Fair! o- b- k6 G* H/ ~
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10:50-12:00# x4 p& _. \& J. L; K: D' g
| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
( ] ^3 I6 g- D- D- v | 15:20-16:30' A/ C$ H5 J, F" t5 i z
| USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題* I$ T# F/ P9 s4 J5 c# Z
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12:00-13:00
( H2 {1 C" X4 Q3 s, g" X; e- m4 L | Lunch
& D/ t) f0 d2 L9 _ | 16:30~17:00 Z# t& E( e) Z. S: S
| Survey & Lucky Draw* t& \1 m5 v3 E8 S1 [0 B1 q) |
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發表於 2011-9-28 14:29:40
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