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" I/ B* U- A6 d% p厚140頁，說明當進入65奈米或更先進製程技術時，半導體業必須面對的測試挑戰。它涵蓋了廣泛的技術：
　

•	RF晶片測試的挑戰
•	閘極介電層可靠度測試
•	Charge pumping及可靠度
•	高頻電容量測
•	Copper via testing
•	先進SMU DC測量

$ A/ C( q; k0 P( |& L% v. C

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carter2002

這對不懂TEST的人很有幫助,半導體測試自學指南不錯哦....感謝大大的分享