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Chip123 科技應用創新平台»論壇 › Chip2 -- 系統整合 › 量測儀器討論區 › NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
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[好康相報] NI 2017 年自動化測試展望 完整報告

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發表於 2017-2-23 14:16:05 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢，並發表對未來的展望。分享給大家2 D- g# j# q0 u9 C1 Y, C

, B; i3 T% p4 X, ^( W1 H完整報告：https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing
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