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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好
; H# \7 @) f3 I" O& I& @0 g2 Q2 A. @0 t) \0 B  R! g/ p+ Z
在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護# t9 w* [( g: J# B9 i4 b* P! \
( H% W& l# R- e4 Z1 i3 P! L
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
$ m( Q$ H3 W+ m
7 {$ G& C1 M1 |造成LVS驗證顯示短路
1 Z7 @7 }  `8 F1 e8 V! d% S4 c% {
7 E6 c- J. x8 Q3 _因為用的是TSRI給的library& b6 u% u5 P# r# p9 p  Y  i
) V0 \% l* X3 j+ o1 ~0 n" k+ A# \2 }
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的- e4 B1 r% W& |, W/ U2 w, Q

: K4 Y- ~) X5 O) O8 r而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
$ {3 J( r) J2 @/ L3 h1 n3 Q
; j9 B# U7 F. x" A2 `是stream in 的時候就有問題了嗎?
0 x( j0 ^/ u, k5 C7 U
6 W" O8 J9 e+ B& ?5 N請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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