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[問題求助] 請問latchup的正確講法

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1#
發表於 2008-3-19 23:59:01 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1<VE1=VDD所以第一及的BJT導通,所以產生射極電流,然後產生集極電流,集極電流流到Rsub(大電阻),所以端電壓升高也就是第二級的base端,所以第二級的bjt導通,所以產生第二級的Ic電流,所以IB1的電流變大,導致IE1也變大,如此一直循環導致電流越來越大,把晶片燒毀 不知道這樣說對不對,但書上說是VDD跟GND短路是捨麼意思?不是只是因為電流太大的緣故嗎?. @3 a+ `3 b! w# ^- r
請知道的大大回答我 謝謝
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2#
發表於 2008-3-20 08:22:59 | 只看該作者
hi~, B/ @) C% e9 G" k
電流太大,形同短路! I9 [0 A! C/ P' |
所以直接說VDD與GND SHORT
3#
發表於 2008-3-20 08:28:29 | 只看該作者
我對這問題的理解如下:  F% o3 H7 P) d0 }7 s, n+ K
, P5 u. A  n2 {  X
1.! m& m. i  J/ ]( y
CMOS製程  我們做出來的電路  如果正常工作  電流應該是會在 substrate 基底的表面流動.....
$ b4 Y# Z9 c" \1 d1 A7 }% O比方一個  反相器  如果正常工作時  不是PMOS開 NMOS關   就是NMOS開  PMOS關
6 y- b/ }, [; X' w) h如果哪天   NMOS PMOS 都開,  那這個反相器 就無法正常工作了  (已經沒有反相的效果) 2 \+ {+ r4 {; B7 W% s- \
輸出  OUT  那一點  PMOS NMOS的電流在 Fighting.  此時  電流正是從 VDD流到 VSS去...
% Q# L1 X) p7 J4 \8 r; _, t+ B) H0 N" v9 a& W6 s; n" y/ i
2.  我原本預期電流只會在基底的表面流動.
  G. ], b" a' Z% w4 {3 S     但只要LATCH-UP現象一發生  電流卻會在  基底  底下 由 VDD 流到 VSS.... (正常電流流動在1F, 此時LATCH-UP, 電流是在B2或B3跑)
1 D( Y7 T; e* P1 S8 Q# S% y' I: E     (這是我不想要發生的效應,只要一發生所有邏輯電路都不能正常工作了...)' s1 D/ X8 T3 e3 q  y
     其他就麻煩您自己看教科書   SCR電路  等效於  CMOS 剖面圖的 相關說明, Latch-up是個不可逆的效應  只要發生 Chip就會死得不明不白...
) b. A1 d0 G$ w1 P7 B* D6 z5 Q     教科書上通常會寫  降低Rwell電阻或是降低寄生BJT Beta去壓制 Latch-up效應,
* ^4 ?5 P! \' X9 @* `+ s     Layout上常見的作法就是每隔一段距離就要打 contact上去" I  c0 {  W6 u+ G4 A- r
      主旨就是在降低 Rwell電阻.
5 j6 s) O0 w+ |9 e, `3 [     不然就是要圍 Guard ring或 Double guard ring, 其中一個功用是 讓 SCR等效電路不要出現,自然就不會有 Latch-up的危險.9 m6 l% V7 c7 I' J) o3 l
1 ]( R4 D2 r: [7 p
如果這些內容有什麼遺漏或有誤的地方,也歡迎大家多補充.
5 o+ h4 H, Z2 F* P
& R. |( B. b  u7 E% E[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-3-20 08:37 AM 編輯 ]
4#
發表於 2008-3-20 10:07:04 | 只看該作者
請問一下什麼是SCR呢?
7 K. J9 L( ~( ?) f**因為要防latch up 就高壓與低壓隔開.ESD的PMOS 與NMOS隔開.
5#
發表於 2008-3-20 13:09:59 | 只看該作者
SCR:矽控整流子# z" p, e9 M9 V9 S
其實就像BJT,只是它用來做開關而已
4 @0 E6 x$ S9 @) U# ^. K: @但其結構是為PNPN,啟動後就永久開啟,需OPEN才會停止1 e; U: @) k/ C, A5 m
典型的SCR開啟時間是1us左右,關閉時間約5~30us
6#
發表於 2008-3-21 12:00:58 | 只看該作者
这几天老听到说片子LATCH-UP了,但是我从书上看到的,这种现象只在PMOS NMOS之间容易发生,若单种MOS管在一个地方的话就不会发生,是吗?对于这个问题我一直不是很理解,请各位指教指教~
7#
發表於 2008-3-25 10:23:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

Thanks for your answer.
  S2 ~5 f; W- \0 |! i: e; _Thanks for your answer.
7 K9 m( F3 B9 k9 |5 zThanks for your answer.
8#
發表於 2008-3-27 22:45:07 | 只看該作者

回復 6# 的帖子

我的理解是 如果 PMOS 與NMOS 距離夠遠  中間又有 Guard ring 圍住的話
0 X$ o9 I- D7 ~. Z4 _& S9 l6 M那麼substrate底下所構成的等效電路 就不是  SCR電路
2 U+ o% P- u6 y2 u; @: j5 p8 r9 a而是單獨的 PMOS  或 單獨的NMOS
9#
發表於 2008-3-30 20:43:13 | 只看該作者
接樓上:/ S1 @+ H' w  s- C0 E+ G
其實我也一直在想,經常說的latch-up都是PMOS和NMOS之間的,但是好像聽説異電位的NWell之間 更容易 發生。
# U* p1 |7 \  }3 R/ u還有一個問題是,如果NMOS的一個端接的是VDD要注意什麽,是不是要注意ERC會引起擊穿還是什麽啊?
10#
發表於 2008-5-21 13:16:12 | 只看該作者
原帖由 tommy01 於 2008-3-19 11:59 PM 發表
4 k/ n' I6 A; j- ~latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1

: \+ Q& O5 p5 d8 y9 |% |' Q# }: z$ k
& J5 s& \: h* f0 T5 r5 E4 ]
latch up一但發生,最後的結果不是gate被打穿就是juntion punch through或是metal燒毀。# S# b/ Z8 z* t% ]. a! x
除了最後一項原因,其他會導致vdd gnd short所以書上講的也沒錯。* s; g9 K6 ^1 M/ A2 i! F
只是他只講出結果而已。
11#
發表於 2010-12-9 21:25:07 | 只看該作者
蟹蟹大大分享
/ q* G7 k+ G/ J( G1 P受益良多
12#
發表於 2017-2-9 16:24:02 | 只看該作者
謝謝講解6 u) s9 f7 e. g0 w7 |9 L. {" i( C% i
早一點看到就不會懊惱就麼久了
13#
發表於 2021-3-16 12:57:09 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
3 H, ~5 H( k' B/ G! Q7 Q+ g受益良多感恩大德
14#
發表於 2021-6-3 23:37:55 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
% k& d* y" _* `6 I9 W4 z) P受益良多感恩大德
15#
發表於 2021-6-28 10:13:34 | 只看該作者
CMOS剖面圖畫出來,寄生BJT跟R標示出來,解釋一下寄生電路的動作原理
16#
發表於 2021-8-23 17:03:49 | 只看該作者
感謝大大講解# R& I$ ~& D) I" h, M- Q) ]7 K, {
非常謝謝
17#
發表於 2021-8-25 09:19:58 | 只看該作者
, n1 q, d2 `0 ^# x. Q
Thanks for your answer.
8 o' L/ B, L" S& h. b, ]- E- B+ @0 IThanks for your answer.7 U! d$ Z5 r: m; E1 R
Thanks for your answer.
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