逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
, C0 v; ?) J" \2 `6 Z& \         活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
2 V1 e6 ^- R3 x' c時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
$ i  h( O. B- U2 c) o# e地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
; ?% B( K& i9 Y; e1 @2 J* f1 H         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
7 L5 I/ `2 ?0 l) _0 X, V         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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主辦單位：經濟部標準檢驗局
$ E0 }4 ~3 s5 W' k# A( [# Q% K承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
5 |2 D4 C  n, g% \主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1 n. C2 x1 K6 {; W5 y2 k9 v( O1. EMC問題趨勢的發生與分析
5 r  c# M/ R1 F& J3 ]$ U2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
/ a& K# g4 t  V1 k% e3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
9 ~- ~$ i. L4 B* Y& U, ?- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
# k+ O# T# b9 _& f- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


97年11月04日 (星期二)
. K, c7 d5 f2 X, P7 }/ Y
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
6 p* {( g3 z- H3 o0 F電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
/ H! [$ c* Z  |/ Q•        WBFC Modeling and Simulation
% y0 M8 E0 C2 Z+ t: i5 F! o6 b•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
2 J% ~9 C5 ]3 u6 r7 |+ K- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
# W% Q9 R3 i; T" o, t" z- Signal Noise and SI Study
: L! h: T; D4 W: Q# i% L* d�        Slit on Reference Plane
2 a4 `, O. p8 B' S�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
! C7 C1 [" c, d) U' Y5 \. H: Y# z�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
: f; ]5 T5 R: h/ j% h. D5 O4 y7. Trend of EMC issues on chip-level
+ S1 T, I0 A7 O8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
: k7 j- [7 d- u2 G12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
) m" D( A5 N7 I•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
# v! ?0 ^8 U2 T7 B8 @6 [•        Production-level Process Integrity Monitoring
! ]  T: V, T! I1 ~' q 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
6 u% C0 y+ ]" f1 _5 `+ z. i  @回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

0 q, Z" i( @* a至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

好方法
8 K3 B  s* I' j2 r/ `
可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
# w, q! {9 `9 [2 H% j
7 H( S! L- i$ v! O8 L& E$ F) \1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
0 L" _2 s8 k  J3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
% H3 A( L2 j2 x/ T) v' F5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
6 ?  p' R- g6 e2 h8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
4 |/ U* s$ m; ~7 P2 o3 k10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！