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原帖由 tshiu 於 2009-3-31 10:51 AM 發表 ! U/ {- A7 V0 b6 S9 i: H
目前我是使用1 of n decoder解碼原本的thermometer code9 Z/ _0 L$ u( A* T7 t
再加上rom based將1 of n code解碼成quasi-gray code
3 w1 ]! u( m' ~+ \3 f4 D, H再將quasi-gray code解碼成我需要的6bit binary code4 e: A/ u, P' b9 R
但是這種解碼方式似乎速度不夠快, h3 b3 L8 [; e! I* T, M q7 K# p
請問還有其他 ... # _5 H' U9 X, V+ d- V8 G9 C% w
關於"此解碼方式速度不夠快"這論點應該以latency會變大來解釋會比較恰當。" w' M6 A& x& g: a! B$ u* Q
以flash ADC為例,其速度快的原因,在於每個clock cycle(即1/sampling frequency)都可以進行一次對輸入信號的量化(quantizaiton)工作,同時也可以提供一組新的output data。但這並不代表,此每筆新的output data就是前一個clock cycle所得到的sample data的量化結果。" R7 r) q# R/ x8 W
/ s1 @9 l! [. h e+ k+ k# D* x舉例來說,假設目前的input signal被sampling clock取到某一個輸入電壓令為S[n],並進行量化工作(comparator array工作 => analog to digital conversion)。
2 ]( W, Q3 C' O/ b/ N) z) \當下個sampling clock來臨之前,若此flash ADC已將S[n]轉成D[n](此D[n]為output data,且為binary code。)。( O, q5 ~/ W b. ]( C; m) V2 P$ G# R+ Y
則我們說,此flash ADC的throughput與latency皆為"1"。0 P }. A; F* M2 S# t
同理,若S[n]轉成D[n]需要經過3個clock cycle才能完成,此flash ADC的throughput=1,而latency為=3。 t$ O" ?' h% n6 y5 M
$ b! ]( s6 X7 {- r* X. P因此,即使thermometer code->1-of-n code->gray code->binary code需要進行三種編碼過程,只要將D-type flip-flop插入其中,進行適當的分配(combination logic若propagation delay > 1個clock cycle, 則可插入D-type flip-flop將combination logic切割成數個區塊進行處理.)其實並不會影響flash ADC throughput。: B" V* a( d' H% E' V6 H& C3 q
. h U7 A# m' ?( j2 h除非flash ADC是用於回授系統,故對於過大的latency無法接受。(假設,flash ADC是用於回授系統(例如:sigma-delta modulator, 一般僅需4bit Flash ADC即可.),通常要求的解析度也不會太高,故encoder的proppagation dealy不會太長,是可以以滿足lateny=1的要求。)
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通常一般的通訊系統中,ADC只是作為analog front-end與digital baseband之間的一個串聯的資料轉換介面,故對於latency>1是可以允許的。 |
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