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转帖:CMOS 版图设计中对电源总线噪声的考虑 . M3 ^9 s. {. |" n
本文所描述的噪声现象不是由于热噪声或者电荷散射所引起的,而是由于CMOS I/O驱动器的输出管脚上的电平变化,在电源总线(VDD和
. v$ N0 f/ c0 z8 \VSS)上产生的噪声电压所引起的,被称为电源总线噪声(power bus noise)。# _' q; B) ?- N C! ~( t, Z
我们知道,每当CMOS门改变其输出电平时有一个电流尖峰(current spike)流过电源总线并产生噪声电压,称它是开关噪声。电源总线以及
9 m$ |6 }' v& C8 c它们与封装管脚的连接必须有足够的导通性能,使得来自输出驱动器中的所有电流尖峰不致于产生过大的噪声电压,破坏电路的正常操作
' \; U8 O0 Q, K t" A0 _。然而,芯片中的电源总线以及压焊封装连接线都具有电阻和电感特性,在多个I/O驱动器(或者输出驱动器)排列的版图区域内,最有可能在+ O9 p9 M0 `1 e4 }! I/ P7 Z; x
电源总线上产生较大的噪声电压,过高的电源噪声电压还影响电路的延迟时间,使电路可能出现迟滞故障。 为了保证电路安全可靠地操作
" ~; w* K! M2 M+ _# n+ v, b* z,需要减小和限制电源总线噪声。下面从版图设计角度来考虑如何进行好的强壮的电源设计。 |
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