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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
& u4 t- E1 e; Z; Q第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表 ; T% L- K% m9 E( c# {; x) ?
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
. d8 W! R! Y9 G3 _5 s% A第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
' C5 z7 _! _, N$ ?% f

, C( o4 W* B2 I' j我是这样理解的:+ f7 R/ x; g& I
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏  d* s) d* B: x; e
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;6 r9 |$ g+ W( O5 ^7 T: A% _' ?8 ]
        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:
9 D& h, n( [' Y& G* y6 |( w3 g- n1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;8 W) m5 k/ d, Y9 D, Y$ a4 P! y/ a
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
% p. k5 N. Y, ^( k, M3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;# ]6 s0 ~# ~7 v' T9 t
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;9 \& I/ c, }6 i9 A- k; M
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;) V, j% u! `" ]! C' V! n, L! E3 r
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
$ O  p5 T" j: L, z$ zVDD引脚只需进行(1)(2)项测试- r: i) t+ `1 t8 G4 O

! N( a- ^% ?/ y2 b  ~( p应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路: `% Z% S' i) \( |& P
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung * {8 m9 m4 C; C0 B9 q

8 p% R2 w- Q% d% ]第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?7 j+ \% ?; f& N: Y

1 o: P4 v3 e% o3 o: y' \, N每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.9 ^- U* X* s3 `$ C6 S1 Q" l

/ ^2 v4 |7 `) U1 k( u9 l9 z第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。2 r: b* R; ?0 {3 z( v) C
6 k$ B" G, v% \  m# Z- v# `
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。, ]$ \6 d( j' ]/ N* ~, h$ i: \
每一个power pad VS. 每一个power pad;
9 y! k  T" ]- @7 u每一个I/O pad VS. 每一个power pad;
' {& v; c0 d9 F0 z7 F, k6 ?每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章4 u- B5 k' R2 L! F
對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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