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进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:
9 D& h, n( [' Y& G* y6 |( w3 g- n1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;8 W) m5 k/ d, Y9 D, Y$ a4 P! y/ a
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
% p. k5 N. Y, ^( k, M3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;# ]6 s0 ~# ~7 v' T9 t
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;9 \& I/ c, }6 i9 A- k; M
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;) V, j% u! `" ]! C' V! n, L! E3 r
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
$ O p5 T" j: L, z$ zVDD引脚只需进行(1)(2)项测试- r: i) t+ `1 t8 G4 O
! N( a- ^% ?/ y2 b ~( p应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。 |
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