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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?3 F2 E( e; S% f0 M
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? 8 j. ~4 U5 ^6 I: I
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV
+ C% F' [  M/ i+ Q* ^2 E我的想法正確嘛?
; u% n& F( \) u謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
1 z( X& N; R+ j5 \0 u/ v( R0 r這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎: I* \. E) B/ x- q% f
目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了
9 c% [4 W0 W$ j+ P; L所以越好的diode啟動保護越快效果越佳
- m/ [4 ?1 ?) a9 I# N但因為是limit值所以會有穩定的誤差值
$ m& s% p5 h5 O' \# M2 `+ v大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.
) u# K: _5 _$ F- [* d% l0 l  l請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?1 H& Z8 T" Y9 s5 L3 t
客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表 3 x+ F$ m' w( T7 d0 G: d
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?7 G: C4 m) S$ p3 N* ^7 S/ x
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? ; n: @, @) Y3 o9 \8 q! t8 I
我個人認為當IC 啟動 ...
3 V- _# `& v. p) f* u. N* L

5 b# c: z7 p6 K3 U) K0 m我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
5 g# }- [% |6 h  k3 Z3 D* |ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表
$ z  ?+ A. H( i5 q請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
. a+ v; I# N! D# F8 mESD protection 則用PNDIO  ...
6 r9 ?& c$ k# g0 T
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
8 K5 j2 J$ R2 t6 M  q8 ^: I9 O"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
! o' |. A4 I8 W3 ^+ v
這是代工廠的建議
1 l) X# k# ]! }3 R! F0 S+ T而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表 3 X* x& z2 O; d$ W
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。

& W" Y8 R' E1 Y( L* FSCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了7 z( a9 e) ~! z& J9 t* ]
但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试
' d: Z# q  W! G" Z9 P. }
4 ~3 O% p' T' p; N7 T- \; l[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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參與人數 1Chipcoin +3 +3 收起 理由
semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
& u6 i+ i( |  ~7 }/ ], i; m“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!
/ I1 z: _/ T) D7 W- w- lpass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表 - S' F8 P6 p9 ^* A( M
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
8 N/ [) u9 i! N  Y“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...
/ J( |! x+ o. t( E5 T  u0 p
如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
4 \( j# t) T3 ]9 m, }
, _8 z( p) C( v9 M+ X( |$ b15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求
( N" V" ~* |% f6 PAir discharge 一般要+-15kV4 Z$ i- ]9 v, B" k; J
Contact discharge 一般要+-8kV# {5 {4 z& G, D  T: h
這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同& O( h: N1 v  b0 p& Y
/ s  H7 W# T  Y; r: n8 w% ]3 }
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。6 j+ ]6 b' [: Y( F0 u
Diode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了
' x+ L9 a/ ?, |) P+ E- P我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套4 m" l0 T/ `5 b. w% u  e  M
Foundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp6 F& v/ L1 x# \8 D- N  t
而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS
+ z$ ]) i# b  x! W% E+ l' q+ g2 P( k5 i- V! o
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
4 Y( M' T5 O' z我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
) L. E6 T1 p+ a% y4 w+ u7 F5 k如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表
1 m4 v2 n; Y, D$ D. m2 D你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
# [1 P' w/ e: j我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
7 _5 ~; L3 t7 M* z8 Q如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD

9 w- K4 o8 G( b1 y, [. N8 R0 x& \" x6 G3 V有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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